EP0939445 - Halbleiter integriertes Schaltkreisbauelement und Anordnungsverfahren für Funktionszellen [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Anmeldung zurückgenommen Status aktualisiert am 18.07.2003 Datenbank zuletzt aktualisiert am 25.09.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 18.07.2003 | Zurücknahme der Anmeldung | veröffentlicht am 03.09.2003 [2003/36] | Anmelder | Für alle benannten Staaten NEC Electronics Corporation 1753 Shimonumabe Nakahara-ku Kawasaki, Kanagawa 211-8668 / JP | [N/P] |
Frühere [2003/18] | Für alle benannten Staaten NEC Electronics Corporation 1753 Shimonumabe, Nakahara-ku Kawasaki, Kanagawa 211-8668 / JP | ||
Frühere [1999/35] | Für alle benannten Staaten NEC CORPORATION 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku Tokyo / JP | Erfinder | 01 /
Harayama, Masahiro c/o NEC IC Micro PC Syst., Ltd. 403-53, Kosugimachi 1-chome, Nakahara-ku Kawasaki-shi, Kanagawa / JP | [1999/35] | Vertreter | Glawe, Delfs, Moll Partnerschaft mbB von Patent- und Rechtsanwälten Postfach 26 01 62 80058 München / DE | [N/P] |
Frühere [1999/35] | Glawe, Delfs, Moll & Partner Patentanwälte Postfach 26 01 62 80058 München / DE | Anmeldenummer, Anmeldetag | 99103677.3 | 25.02.1999 | [1999/35] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | JP19980045652 | 26.02.1998 Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 4565298 | [1999/35] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht | Nr.: | EP0939445 | Datum: | 01.09.1999 | Sprache: | EN | [1999/35] | Art: | A3 Recherchenbericht | Nr.: | EP0939445 | Datum: | 24.10.2001 | [2001/43] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 10.09.2001 | Klassifikation | IPC: | H01L27/118, H01L27/02 | [2001/43] | CPC: |
H01L27/118 (EP,US);
H01L27/10 (KR)
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Frühere IPC [1999/35] | H01L27/118 | Benannte Vertragsstaaten | DE, FR, GB [2002/29] |
Frühere [1999/35] | AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LI, LU, MC, NL, PT, SE | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Halbleiter integriertes Schaltkreisbauelement und Anordnungsverfahren für Funktionszellen | [1999/35] | Englisch: | Semiconductor integrated circuit device and method of arranging functional cell | [1999/35] | Französisch: | Dispositif de circuit intégré à semi-conducteur et le procédé d'arrangement de cellule fonctionnelle | [1999/35] | Prüfungsverfahren | 30.10.2001 | Prüfungsantrag gestellt [2002/01] | 10.07.2003 | Anmeldung vom Anmelder zurückgenommen [2003/36] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 15.02.2001 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 15.02.2002 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 | 20.02.2003 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05 |
Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [X]GB2018021 (RACAL MICROELECT SYSTEM) [X] 1-3,6,8,11 * page 1, line 16 - line 43 * * page 1, line 82; figure 1 *; | [X]WO8500468 (ADVANCED MICRO DEVICES INC [US]) [X] 1-3,6-8,11 * abstract * * page 6, line 6 - line 25; figure 1 ** page 6, line 26 - line 34; figure 2 *; | [XA]US5444275 (KUGISHIMA MASAHIRO [JP], et al) [X] 1-3,6-8,11 * column 5, line 43 - line 55; figures 3A,10 * * column 8, line 14 - line 29; figures 21,22 * [A] 4,5,9,10; | [XA]US5517041 (TORII KENSUKE [JP], et al) [X] 1-3,6-8,11 * abstract * * column 2, line 12 - line 20 * * column 5, line 56 - column 6, line 26 * * column 6, line 59 - column 7, line 2; figure 2 * [A] 4,5,9,10 |