blank Quick help
blank Maintenance news

Scheduled maintenance

Regular maintenance outages:
between 05.00 and 05.15 hrs CET (Monday to Sunday).

Other outages
Availability
Register Forum

2022.02.11

More...
blank News flashes

News flashes

New version of the European Patent Register - SPC information for Unitary Patents.

2024-03-06

More...
blank Related links

Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP1889293

EP1889293 - ELECTRONIC DEVICE [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  10.01.2014
Database last updated on 23.04.2024
Most recent event   Tooltip17.07.2015Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): HU, LU
published on 19.08.2015  [2015/34]
Applicant(s)For all designated states
NXP B.V.
High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
[2008/08]
Inventor(s)01 / VAN DER ZANDEN, Josephus, H., B.
C/o Prof. Holstlaan 6
NL-5656 AA Eindhoven / NL
 [2008/08]
Representative(s)Schouten, Marcus Maria, et al
NXP B.V.
Intellectual Property & Licensing
High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
[N/P]
Former [2013/10]Schouten, Marcus Maria, et al
NXP B.V. IP & Licensing Department High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
Former [2009/44]Schouten, Marcus Maria, et al
NXP B.V. IP & L Department High Tech Campus 32
5656 AE Eindhoven / NL
Former [2008/33]van der Veer, Johannis Leendert, et al
NXP Semiconductors B.V. IP&L Department High Tech Campus 32
5656 AE Eindhoven / NL
Former [2008/22]van der Veer, Johannis Leendert, et al
NXP Semiconductors B.V. IP Department High Tech Campus 32
5656 AE Eindhoven / NL
Former [2008/08]Schneider, Michael
NXP Semiconductors IP Department Gutheil-Schoder-Gasse 8-12
1100 Wien / AT
Application number, filing date06744913.211.05.2006
[2008/08]
WO2006IB51484
Priority number, dateEP2005010450826.05.2005         Original published format: EP 05104508
[2008/08]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2006126125
Date:30.11.2006
Language:EN
[2006/48]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP1889293
Date:20.02.2008
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 30.11.2006 takes the place of the publication of the European patent application.
[2008/08]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP1889293
Date:06.03.2013
Language:EN
[2013/10]
Search report(s)International search report - published on:EP30.11.2006
ClassificationIPC:H01L27/02, G06F17/50
[2008/08]
CPC:
H01L27/0211 (EP,US); H03F3/04 (KR); H01L27/0203 (EP,US)
Designated contracting statesAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   NL,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   TR [2008/08]
Extension statesAL27.12.2007
BA27.12.2007
HR27.12.2007
MK27.12.2007
YU27.12.2007
TitleGerman:ELEKTRONISCHE EINRICHTUNG[2008/08]
English:ELECTRONIC DEVICE[2008/08]
French:DISPOSITIF ELECTRONIQUE[2008/08]
Entry into regional phase27.12.2007National basic fee paid 
27.12.2007Designation fee(s) paid 
27.12.2007Examination fee paid 
Examination procedure27.12.2007Examination requested  [2008/08]
08.04.2010Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
08.04.2010Invitation to provide information on prior art
29.04.2010Reply to the invitation to provide information on prior art
04.08.2010Reply to a communication from the examining division
14.09.2012Communication of intention to grant the patent
11.01.2013Fee for grant paid
11.01.2013Fee for publishing/printing paid
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  08.04.2010
Opposition(s)09.12.2013No opposition filed within time limit [2014/07]
Fees paidRenewal fee
02.06.2008Renewal fee patent year 03
02.06.2009Renewal fee patent year 04
31.05.2010Renewal fee patent year 05
31.05.2011Renewal fee patent year 06
31.05.2012Renewal fee patent year 07
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court
See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU11.05.2006
AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
DK06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
IT06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
TR06.03.2013
IE11.05.2013
LU11.05.2013
CH31.05.2013
FR31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GB06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
[2015/34]
Former [2015/32]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
DK06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
IT06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
TR06.03.2013
IE11.05.2013
CH31.05.2013
FR31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GB06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2014/24]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
DK06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
IT06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
IE11.05.2013
CH31.05.2013
FR31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GB06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2014/21]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
DK06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
IT06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
IE11.05.2013
CH31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GB06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2014/20]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
DK06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
IT06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
IE11.05.2013
CH31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2014/11]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
DK06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
IT06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
CH31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2014/09]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
DK06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
CH31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2014/08]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
CH31.05.2013
LI31.05.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2014/03]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
MC06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2013/52]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CY06.03.2013
CZ06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2013/50]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CZ06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
NL06.03.2013
PL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2013/49]AT06.03.2013
BE06.03.2013
CZ06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
NL06.03.2013
RO06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
SK06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2013/48]AT06.03.2013
BE06.03.2013
EE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
NL06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
IS06.07.2013
PT08.07.2013
Former [2013/47]AT06.03.2013
BE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
PT08.07.2013
Former [2013/44]AT06.03.2013
BE06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
Former [2013/38]AT06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
LV06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
Former [2013/37]AT06.03.2013
FI06.03.2013
LT06.03.2013
SE06.03.2013
SI06.03.2013
BG06.06.2013
GR07.06.2013
ES17.06.2013
Former [2013/36]AT06.03.2013
LT06.03.2013
SE06.03.2013
BG06.06.2013
ES17.06.2013
Former [2013/34]LT06.03.2013
SE06.03.2013
BG06.06.2013
Former [2013/33]LT06.03.2013
Cited inInternational search[XI]GB2213320  (MITSUBISHI ELECTRIC CORP [JP]) [X] 1-3 * page 7, line 16 - page 11, line 34; figures 5-9 * [I] 4-12;
 [A]US5021853  (MISTRY KAIZAD R [US]) [A] 1-12* column 2, line 59 - column 6, line 7; figures 1-8 *;
 [DA]US5623232  (HALBERT JOEL M [US], et al) [DA] 1-12 * column 2, line 26 - line 49; figures 1,2 * * column 4, line 3 - column 8, line 7 *;
 [DA]US2002097097  (SUGIURA MASAYUKI [JP]) [DA] 1-12 * paragraph [0033] - paragraph [0061]; figures 1-14 *;
 [A]  - SU J -G ET AL H ET AL, "New insights on RF CMOS stability related to bias, scaling, and temperature", PROCEEDINGS 2000 IEEE HONG KONG ELECTRON DEVICES MEETING (CAT. NO.00TH8503) IEEE PISCATAWAY, NJ, USA, (2000), ISBN 0-7803-6304-3, pages 40 - 43, XP002403034 [A] 1-12 * the whole document *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/HKEDM.2000.904211
by applicantGB2213320
The EPO accepts no responsibility for the accuracy of data originating from other authorities; in particular, it does not guarantee that it is complete, up to date or fit for specific purposes.