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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2013882

EP2013882 - MEMORY CIRCUIT AND METHOD FOR SENSING A MEMORY ELEMENT [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  23.08.2013
Database last updated on 14.09.2024
Most recent event   Tooltip17.07.2015Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): HU, LU		published on 19.08.2015  [2015/34]
Applicant(s)For all designated states
NXP B.V.
High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
[2009/50]
Former [2009/03]For all designated states
NXP B.V.
High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
Inventor(s)01 / STORMS, Maurits, M.N.
NXP Semiconductors
IP Department
HTC 60 1.31 Prof Holstlaan 4
5656 AG Eindhoven / NL
 [2012/42]
Former [2009/03]01 / STORMS, Maurits, M.N.
NXP Semiconductors IP Department HTC 60 1.31 Prof Holstlaan 4
5656 AG Eindhoven / NL
Representative(s)Schouten, Marcus Maria, et al
NXP B.V.
Intellectual Property & Licensing
High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
[N/P]
Former [2012/42]Schouten, Marcus Maria, et al
NXP B.V. IP & Licensing Department High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
Former [2009/42]Schouten, Marcus Maria, et al
NXP B.V. IP & L Department High Tech Campus 32
5656 AE Eindhoven / NL
Former [2009/42]Röggla, Harald
NXP Semiconductors Intellectual Property Department Gutheil-Schoder-Gasse 8-12
1101 Vienna / AT
Former [2009/03]Röggla, Harald
NXP Semiconductors IP Department Gutheil-Schoder-Gasse 8-12
1100 Wien / AT
Application number, filing date07735550.119.04.2007
[2009/03]
WO2007IB51414
Priority number, dateEP2006011298824.04.2006         Original published format: EP 06112988
[2009/03]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A2 Application without search report
No.:WO2007122564
Date:01.11.2007
Language:EN
[2007/44]
Type: A2 Application without search report 
No.:EP2013882
Date:14.01.2009
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 01.11.2007 takes the place of the publication of the European patent application.
[2009/03]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2013882
Date:17.10.2012
Language:EN
[2012/42]
Search report(s)International search report - published on:EP10.01.2008
ClassificationIPC:G11C11/4091, G11C7/06
[2009/03]
CPC:
G11C7/067 (EP,US); G11C2207/063 (EP,US); G11C2207/065 (EP,US)
Designated contracting statesAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MT,   NL,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   TR [2009/03]
Extension statesAL24.11.2008
BA24.11.2008
HR24.11.2008
MK24.11.2008
RS24.11.2008
TitleGerman:SPEICHERSCHALTUNG UND VERFAHREN ZUM ABTASTEN EINES SPEICHERELEMENTS[2009/03]
English:MEMORY CIRCUIT AND METHOD FOR SENSING A MEMORY ELEMENT[2009/03]
French:CIRCUIT DE MÉMOIRE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UN ÉLÉMENT DE MÉMOIRE[2009/03]
Entry into regional phase24.11.2008National basic fee paid 
24.11.2008Designation fee(s) paid 
24.11.2008Examination fee paid 
Examination procedure24.11.2008Examination requested  [2009/03]
23.03.2009Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M06)
23.09.2009Reply to a communication from the examining division
04.06.2012Communication of intention to grant the patent
05.09.2012Fee for grant paid
05.09.2012Fee for publishing/printing paid
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  23.03.2009
Opposition(s)18.07.2013No opposition filed within time limit [2013/39]
Fees paidRenewal fee
04.05.2009Renewal fee patent year 03
03.05.2010Renewal fee patent year 04
02.05.2011Renewal fee patent year 05
02.05.2012Renewal fee patent year 06
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU19.04.2007
AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
IT17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
MC17.10.2012
MT17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
RO17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
TR17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
IE19.04.2013
LU19.04.2013
CH30.04.2013
LI30.04.2013
[2015/34]
Former [2015/32]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
IT17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
MC17.10.2012
MT17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
RO17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
TR17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
IE19.04.2013
CH30.04.2013
LI30.04.2013
Former [2015/13]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
IT17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
MC17.10.2012
MT17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
RO17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
IE19.04.2013
CH30.04.2013
LI30.04.2013
Former [2014/20]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
IT17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
MC17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
RO17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
IE19.04.2013
CH30.04.2013
LI30.04.2013
Former [2014/08]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
IT17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
MC17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
RO17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
CH30.04.2013
LI30.04.2013
Former [2014/01]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
IT17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
MC17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
RO17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
Former [2013/37]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
IT17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
RO17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
Former [2013/35]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
CZ17.10.2012
DK17.10.2012
EE17.10.2012
FI17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
SK17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
Former [2013/34]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
DK17.10.2012
FI17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
BG17.01.2013
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
Former [2013/31]AT17.10.2012
BE17.10.2012
CY17.10.2012
FI17.10.2012
LT17.10.2012
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GR18.01.2013
ES28.01.2013
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Former [2013/28]BE17.10.2012
CY17.10.2012
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LT17.10.2012
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PL17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
PT18.02.2013
Former [2013/26]BE17.10.2012
CY17.10.2012
FI17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
SE17.10.2012
SI17.10.2012
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
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CY17.10.2012
FI17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
SE17.10.2012
GR18.01.2013
ES28.01.2013
IS17.02.2013
Former [2013/23]CY17.10.2012
FI17.10.2012
LT17.10.2012
LV17.10.2012
NL17.10.2012
PL17.10.2012
SE17.10.2012
ES28.01.2013
IS17.02.2013
Former [2013/22]FI17.10.2012
LT17.10.2012
NL17.10.2012
SE17.10.2012
ES28.01.2013
IS17.02.2013
Former [2013/21]LT17.10.2012
SE17.10.2012
Former [2013/20]LT17.10.2012
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by applicantUS5200924
 EP0329141
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