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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2199781

EP2199781 - Method for spatial high-resolution stochastic investigation of a sample's structure marked with a substance [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  21.02.2020
Database last updated on 07.10.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  15.03.2019
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  06.12.2018
FormerExamination is in progress
Status updated on  11.05.2018
Most recent event   Tooltip01.07.2022Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK		published on 03.08.2022  [2022/31]
Applicant(s)For all designated states
Leica Microsystems CMS GmbH
CPTD
Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar / DE
[2019/16]
Former [2010/25]For all designated states
Leica Microsystems CMS GmbH
Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar / DE
Inventor(s)01 / Seyfried, Volker Dr.
Jahnstrasse 28
69226 Nussloch / DE
02 / Sieber, Jochen Dr.
Windeckstrasse 29
68163 Mannheim / DE
 [2010/25]
Representative(s)Ullrich & Naumann PartG mbB
Schneidmühlstrasse 21
69115 Heidelberg / DE
[N/P]
Former [2019/16]Patent- und Rechtsanwälte Ullrich & Naumann
PartG mbB
Schneidmühlstrasse 21
69115 Heidelberg / DE
Former [2012/50]Ullrich & Naumann
Patent- und Rechtsanwälte Schneidmühlstrasse 21
69115 Heidelberg / DE
Former [2010/25]Hassenbürger, Anneliese
Leica Microsystems GmbH Corporate Patents + Trademarks Department Ernst-Leitz-Strasse 17-37
35578 Wetzlar / DE
Application number, filing date09015120.007.12.2009
[2010/25]
Priority number, dateDE2008106416422.12.2008         Original published format: DE102008064164
[2010/25]
Filing languageDE
Procedural languageDE
PublicationType: A2 Application without search report 
No.:EP2199781
Date:23.06.2010
Language:DE
[2010/25]
Type: A3 Search report 
No.:EP2199781
Date:18.04.2012
Language:DE
[2012/16]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2199781
Date:17.04.2019
Language:DE
[2019/16]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP19.03.2012
ClassificationIPC:G01N21/64
[2010/25]
CPC:
G01N21/6428 (EP,US); G01N21/6458 (EP,US)
Designated contracting statesAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2019/16]
Former [2010/25]AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:Verfahren zur räumlich hochauflösenden stochastischen Untersuchung einer mit einer Substanz markierten Struktur einer Probe[2010/25]
English:Method for spatial high-resolution stochastic investigation of a sample's structure marked with a substance[2010/25]
French:Procédé d'examen stochastique haute résolution spatiale d'une structure marquée par une substance d'un échantillon[2010/25]
Examination procedure27.09.2012Amendment by applicant (claims and/or description)
27.09.2012Examination requested  [2012/46]
04.03.2016Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M06)
09.09.2016Reply to a communication from the examining division
03.05.2018Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
27.08.2018Reply to a communication from the examining division
07.12.2018Communication of intention to grant the patent
08.03.2019Fee for grant paid
08.03.2019Fee for publishing/printing paid
08.03.2019Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  04.03.2016
Opposition(s)20.01.2020No opposition filed within time limit [2020/13]
Fees paidRenewal fee
23.12.2011Renewal fee patent year 03
19.12.2012Renewal fee patent year 04
27.12.2013Renewal fee patent year 05
22.12.2014Renewal fee patent year 06
22.12.2015Renewal fee patent year 07
30.12.2016Renewal fee patent year 08
28.12.2017Renewal fee patent year 09
31.12.2018Renewal fee patent year 10
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU07.12.2009
CY17.04.2019
CZ17.04.2019
DK17.04.2019
EE17.04.2019
ES17.04.2019
FI17.04.2019
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IT17.04.2019
LT17.04.2019
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MK17.04.2019
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[2022/31]
Former [2021/34]HU07.12.2009
CY17.04.2019
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 WO2007128434
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