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EP About this file: EP2496999

EP2496999 - RESPONSE TO WEAROUT IN AN ELECTRONIC DEVICE [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  10.04.2015
Database last updated on 05.10.2024
Most recent event   Tooltip22.06.2018Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK		published on 25.07.2018  [2018/30]
Applicant(s)For all designated states
Freescale Semiconductor, Inc.
6501 Willam Cannon Drive West
Austin, Texas 78735 / US
[2014/23]
Former [2012/37]For all designated states
Freescale Semiconductor, Inc.
6501 Willam Cannon Drive West
Austin, Texas 78735 / US
Inventor(s)01 / PRIEL, Michael
Shmuel Hanagid 18/15
46498 Hertzelia / IL
02 / ROZEN, Anton
30 Nurit st.
70700 Gedera / IL
03 / SHOSHANY, Yossi
44 Derech Canada St.
80700 Gan Yavne / IL
 [2012/37]
Representative(s)Ferro, Frodo Nunes, et al
Freescale Semiconductor, Inc.
c/o Optimus Patents Limited
Grove House
Lutyens Close, Chineham Court
Basingstoke, Hampshire RG24 8AG / GB
[2012/39]
Former [2012/37]Ferro, Frodo Nunes, et al
c/o Impetus IP Limited Unit 57a, Basepoint Business Park Caxton Road, Andover
Hampshire SP10 3FG / GB
Application number, filing date09851059.706.11.2009
WO2009IB54942
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2011055169
Date:12.05.2011
Language:EN
[2011/19]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2496999
Date:12.09.2012
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 12.05.2011 takes the place of the publication of the European patent application.
[2012/37]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2496999
Date:04.06.2014
Language:EN
[2014/23]
Search report(s)International search report - published on:KR12.05.2011
(Supplementary) European search report - dispatched on:EP27.03.2013
ClassificationIPC:G06F1/26, G06F1/00, G01R31/28, G06F11/00
[2013/17]
CPC:
G06F1/26 (EP,US); G01R31/2856 (EP,US); G06F11/004 (EP,US)
Former IPC [2012/37]G06F1/26, G06F1/00
Designated contracting statesAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2012/37]
Extension statesALNot yet paid
BANot yet paid
RSNot yet paid
TitleGerman:REAKTION AUF VERSCHLEISS BEI EINER ELEKTRONISCHEN VORRICHTUNG[2012/37]
English:RESPONSE TO WEAROUT IN AN ELECTRONIC DEVICE[2012/37]
French:RÉPONSE À L'USURE DANS UN DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE[2012/37]
Entry into regional phase06.06.2012National basic fee paid 
06.06.2012Search fee paid 
06.06.2012Designation fee(s) paid 
06.06.2012Examination fee paid 
Examination procedure06.06.2012Examination requested  [2012/37]
29.07.2013Amendment by applicant (claims and/or description)
10.01.2014Communication of intention to grant the patent
23.04.2014Fee for grant paid
23.04.2014Fee for publishing/printing paid
23.04.2014Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  10.01.2014
Opposition(s)05.03.2015No opposition filed within time limit [2015/20]
Fees paidRenewal fee
06.06.2012Renewal fee patent year 03
26.11.2012Renewal fee patent year 04
27.11.2013Renewal fee patent year 05
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU06.11.2009
AT04.06.2014
BE04.06.2014
BG04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
MK04.06.2014
MT04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SI04.06.2014
SK04.06.2014
SM04.06.2014
TR04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
IE06.11.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
[2018/30]
Former [2016/33]HU06.11.2009
AT04.06.2014
BE04.06.2014
BG04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
MT04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SI04.06.2014
SK04.06.2014
SM04.06.2014
TR04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
IE06.11.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
Former [2016/32]HU06.11.2009
AT04.06.2014
BE04.06.2014
BG04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SI04.06.2014
SK04.06.2014
SM04.06.2014
TR04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
IE06.11.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
Former [2016/28]AT04.06.2014
BE04.06.2014
BG04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SI04.06.2014
SK04.06.2014
SM04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
IE06.11.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
Former [2016/22]AT04.06.2014
BE04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SI04.06.2014
SK04.06.2014
SM04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
IE06.11.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
Former [2015/46]AT04.06.2014
BE04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SI04.06.2014
SK04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
IE06.11.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
Former [2015/36]AT04.06.2014
BE04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SI04.06.2014
SK04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
Former [2015/33]AT04.06.2014
BE04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SK04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
LU06.11.2014
CH30.11.2014
LI30.11.2014
Former [2015/32]AT04.06.2014
BE04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
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HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
MC04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
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SK04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
LU06.11.2014
Former [2015/30]AT04.06.2014
BE04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SK04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
LU06.11.2014
Former [2015/22]AT04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
DK04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
IT04.06.2014
LT04.06.2014
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NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
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NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
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Former [2015/12]AT04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
NL04.06.2014
PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
SK04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
IS04.10.2014
PT06.10.2014
Former [2015/11]AT04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
LT04.06.2014
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PL04.06.2014
RO04.06.2014
SE04.06.2014
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NO04.09.2014
GR05.09.2014
PT06.10.2014
Former [2015/10]AT04.06.2014
CY04.06.2014
CZ04.06.2014
EE04.06.2014
ES04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
SE04.06.2014
SK04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
Former [2014/51]AT04.06.2014
CY04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
SE04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
Former [2014/50]CY04.06.2014
FI04.06.2014
HR04.06.2014
LT04.06.2014
LV04.06.2014
SE04.06.2014
NO04.09.2014
GR05.09.2014
Former [2014/49]CY04.06.2014
FI04.06.2014
LT04.06.2014
NO04.09.2014
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LT04.06.2014
Former [2014/47]CY04.06.2014
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