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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2476016

EP2476016 - IMAGING MEASUREMENT SYSTEM WITH A PRINTED PHOTODETECTOR ARRAY [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  20.04.2018
Database last updated on 19.10.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  12.05.2017
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  20.12.2016
Most recent event   Tooltip10.07.2020Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): AL		published on 12.08.2020  [2020/33]
Applicant(s)For:AL  AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HR  HU  IE  IS  IT  LI  LT  LU  LV  MC  MK  MT  NL  NO  PL  PT  RO  SE  SI  SK  SM  TR 
Koninklijke Philips N.V.
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
For:DE 
Philips Intellectual Property & Standards GmbH
Lübeckertordamm 5
20099 Hamburg / DE
[2013/39]
Former [2012/29]For:AL  AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HR  HU  IE  IS  IT  LI  LT  LU  LV  MC  MK  MT  NL  NO  PL  PT  RO  SE  SI  SK  SM  TR 
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Groenewoudseweg 1
5621 BA Eindhoven / NL
For:DE 
Philips Intellectual Property & Standards GmbH
Lübeckertordamm 5
20099 Hamburg / DE
Inventor(s)01 / LEVENE, Simha
c/o High Tech Campus Building 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
02 / ALTMAN, Ami
c/o High Tech Campus Building 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
03 / WAINER, Naor
c/o High Tech Campus Building 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
04 / RONDA, Cornelis, Reinder
c/o High Tech Campus Building 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
05 / HASKAL, Eliav, Itzhak
c/o High Tech Campus Building 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
06 / DE LEEUW, Dagobert, Michel
c/o High Tech Campus Building 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
 [2012/29]
Representative(s)van Velzen, Maaike Mathilde
Philips Intellectual Property & Standards
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
[2017/24]
Former [2012/29]Van Velzen, Maaike Mathilde
Philips Intellectual Property & Standards P.O. Box 220
5600 AE Eindhoven / NL
Application number, filing date10752407.605.08.2010
[2017/24]
WO2010IB53557
Priority number, dateUS20090240443P08.09.2009         Original published format: US 240443 P
[2012/29]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A2 Application without search report
No.:WO2011030240
Date:17.03.2011
Language:EN
[2011/11]
Type: A2 Application without search report 
No.:EP2476016
Date:18.07.2012
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 17.03.2011 takes the place of the publication of the European patent application.
[2012/29]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2476016
Date:14.06.2017
Language:EN
[2017/24]
Search report(s)International search report - published on:EP24.11.2011
ClassificationIPC:G01T1/24, G01T1/20, G01T1/29
[2012/29]
CPC:
G01T1/2985 (EP,US); G01T1/20181 (EP,US); G01T1/20182 (EP,US);
G01T1/20183 (EP,US); G01T1/20189 (EP,US); G01T1/242 (EP,US);
G01T1/249 (EP,US) (-)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2012/29]
Extension statesBANot yet paid
MENot yet paid
RSNot yet paid
TitleGerman:BILDGEBUNGSMESSSYSTEM MIT GEDRUCKTER FOTODETEKTORANORDNUNG[2012/29]
English:IMAGING MEASUREMENT SYSTEM WITH A PRINTED PHOTODETECTOR ARRAY[2012/29]
French:SYSTÈME DE MESURE D'IMAGERIE AVEC RÉSEAU DE PHOTODÉTECTEURS IMPRIMÉS[2012/29]
Entry into regional phase10.04.2012National basic fee paid 
24.05.2012Designation fee(s) paid 
24.05.2012Examination fee paid 
Examination procedure24.05.2012Examination requested  [2012/29]
06.12.2012Amendment by applicant (claims and/or description)
28.07.2014Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
11.11.2014Reply to a communication from the examining division
20.11.2014Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
18.03.2015Reply to a communication from the examining division
11.08.2015Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
26.11.2015Reply to a communication from the examining division
21.12.2016Communication of intention to grant the patent
21.04.2017Receipt of the translation of the claim(s)
02.05.2017Fee for grant paid
02.05.2017Fee for publishing/printing paid
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  28.07.2014
Opposition(s)15.03.2018No opposition filed within time limit [2018/21]
Fees paidRenewal fee
31.08.2012Renewal fee patent year 03
02.09.2013Renewal fee patent year 04
01.09.2014Renewal fee patent year 05
31.08.2015Renewal fee patent year 06
31.08.2016Renewal fee patent year 07
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU05.08.2010
AL14.06.2017
AT14.06.2017
CY14.06.2017
CZ14.06.2017
DK14.06.2017
EE14.06.2017
ES14.06.2017
FI14.06.2017
HR14.06.2017
IT14.06.2017
LT14.06.2017
LV14.06.2017
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SM14.06.2017
TR14.06.2017
IE05.08.2017
LU05.08.2017
MT05.08.2017
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CH31.08.2017
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LI31.08.2017
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GR15.09.2017
IS14.10.2017
[2020/33]
Former [2020/27]HU05.08.2010
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EE14.06.2017
ES14.06.2017
FI14.06.2017
HR14.06.2017
IT14.06.2017
LT14.06.2017
LV14.06.2017
MC14.06.2017
MK14.06.2017
NL14.06.2017
PL14.06.2017
PT14.06.2017
RO14.06.2017
SE14.06.2017
SI14.06.2017
SK14.06.2017
SM14.06.2017
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SE14.06.2017
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GR15.09.2017
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DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2008.4796669
ExaminationJPH01126584
 WO2009062311
by applicantUS5933168
 US2007163639
 US20080087195
 WO2008IB55276
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