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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2592909

EP2592909 - ELECTRON BEAM EMITTER AND METHOD OF EMITTING AN ELECTRON BEAM [Right-click to bookmark this link]
Former [2013/20]X-RAY GENERATING DEVICE
[2018/47]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  20.12.2019
Database last updated on 16.07.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  11.01.2019
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  05.11.2018
FormerExamination is in progress
Status updated on  23.12.2016
Most recent event   Tooltip01.07.2022Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK
published on 03.08.2022  [2022/31]
Applicant(s)For all designated states
BSR Co., Ltd.
2-10-28, Marunouchi
Naka-ku
Nagoya-shi
Aichi 460-0002 / JP
[2013/20]
Inventor(s)01 / ISHIDA, Toshiyuki
116-5-407 Nakagou-cho
Toyohashi-shi Aichi 441-8031 / JP
 [2013/20]
Representative(s)Garavelli, Paolo
A.BRE.MAR. S.R.L.
Consulenza in Proprietà Industriale
Via Servais 27
10146 Torino / IT
[2019/07]
Former [2013/20]Garavelli, Paolo
A.BRE.MAR. S.R.L. Via Servais 27
10146 Torino / IT
Application number, filing date11803672.207.07.2011
[2019/07]
WO2011JP65625
Priority number, dateJP2010017964910.08.2010         Original published format: JP 2010179649
JP2010017964310.08.2010         Original published format: JP 2010179643
JP2010015629609.07.2010         Original published format: JP 2010156296
[2013/20]
Filing languageJA
Procedural languageEN
PublicationType: A2 Application without search report
No.:WO2012005338
Date:12.01.2012
Language:JA
[2012/02]
Type: A2 Application without search report 
No.:EP2592909
Date:15.05.2013
Language:EN
[2013/20]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2592909
Date:13.02.2019
Language:EN
[2019/07]
Search report(s)International search report - published on:JP15.03.2012
(Supplementary) European search report - dispatched on:EP08.12.2016
ClassificationIPC:H01J35/06, H01J35/32
[2018/47]
CPC:
H01J35/065 (EP,US); H01J35/32 (EP,US)
Former IPC [2013/20]H05G2/00
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2013/20]
Extension statesBANot yet paid
MENot yet paid
TitleGerman:ELEKTRONENSTRAHLEMITTER UND VERFAHREN ZUR ELEKTRONENEMISSION[2018/47]
English:ELECTRON BEAM EMITTER AND METHOD OF EMITTING AN ELECTRON BEAM[2018/47]
French:DISPOSITIF ET PROCEDE D'EMISSION DE FAISCEAU A ELECTRONS[2018/47]
Former [2013/20]RÖNTGENSTRAHLERZEUGUNGSVORRICHTUNG
Former [2013/20]X-RAY GENERATING DEVICE
Former [2013/20]DISPOSITIF DE GÉNÉRATION DE RAYONS X
Entry into regional phase08.01.2013Translation filed 
08.01.2013National basic fee paid 
08.01.2013Search fee paid 
08.01.2013Designation fee(s) paid 
08.01.2013Examination fee paid 
Examination procedure08.01.2013Amendment by applicant (claims and/or description)
08.01.2013Examination requested  [2013/20]
21.12.2016Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M06)
13.06.2017Reply to a communication from the examining division
19.10.2018Cancellation of oral proceeding that was planned for 23.11.2018
06.11.2018Communication of intention to grant the patent
23.11.2018Date of oral proceedings (cancelled)
26.11.2018Fee for grant paid
26.11.2018Fee for publishing/printing paid
30.11.2018Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  21.12.2016
Opposition(s)14.11.2019No opposition filed within time limit [2020/04]
Fees paidRenewal fee
02.05.2013Renewal fee patent year 03
31.07.2014Renewal fee patent year 04
29.06.2015Renewal fee patent year 05
30.06.2016Renewal fee patent year 06
30.06.2017Renewal fee patent year 07
31.07.2018Renewal fee patent year 08
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court
See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU07.07.2011
AL13.02.2019
AT13.02.2019
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[2022/31]
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PT13.06.2019
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 [X]  - TOSHIYA KISA, "Shigaiko Laser Shosha ni yoru LiNb03 Kessho kara no Denshi Hoshutsu", DAI 70 KAI EXTENDED ABSTRACTS; THE JAPAN SOCIETY OF APPLIED PHYSICS, (20090908), vol. 2, page 668, XP008169887
 [Y]  - TOSHIYA KISA, "Nd:YAG Laser Yuki ni yoru LiNbO3 Kessho kara no Denshi Hoshutsu", DAI 57 KAI EXTENDED ABSTRACTS, JAPAN SOCIETY OF APPLIED PHYSICS AND RELATED SOCIETIES, (20100303), page 126, XP008169888
 [A]  - EISUKE HIRO, "Shoden Kessho to Laser-ko o Mochiita X-sengen no Kaihatsu", DAI 44 KAI X-SEN BUNSEKI TORONKAI KOEN YOSHISHU, (2008), vol. 44, pages 107 - 108, XP008169971
by applicantJP3090910B
 WO2010JP02489
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