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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2662667

EP2662667 - Method of measuring a physical parameter and electronic circuit to interface with a capacitive sensor for implementing same [Right-click to bookmark this link]
Former [2013/46]Method for measuring a physical parameter and electronic circuit to interface with a capacitive sensor for implementing same
[2015/43]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  11.11.2016
Database last updated on 19.07.2024
Most recent event   Tooltip12.10.2018Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): AL		published on 14.11.2018  [2018/46]
Applicant(s)For all designated states
EM Microelectronic-Marin SA
Rue des Sors 3
2074 Marin / CH
[2013/46]
Inventor(s)01 / Grosjean, Sylvain
10, Rue du Côteau
25500 Les Fins / FR
02 / Entringer, Christophe
Au Village 33
1426 Corcelles-près-Concise / CH
 [2013/46]
Representative(s)Giraud, Eric, et al
ICB
Ingénieurs Conseils en Brevets SA
Faubourg de l'Hôpital 3
2001 Neuchâtel / CH
[N/P]
Former [2013/46]Giraud, Eric, et al
ICB Ingénieurs Conseils en Brevets SA Faubourg de l'Hôpital 3
2001 Neuchâtel / CH
Application number, filing date12167469.110.05.2012
[2013/46]
Filing languageFR
Procedural languageFR
PublicationType: A1 Application with search report 
No.:EP2662667
Date:13.11.2013
Language:FR
[2013/46]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2662667
Date:06.01.2016
Language:FR
[2016/01]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP25.09.2012
ClassificationIPC:G01D5/241, G01R27/26
[2015/43]
CPC:
G01D5/2403 (EP,US); G01R27/2605 (US)
Former IPC [2013/46]G01D5/241
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2016/01]
Former [2013/46]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:Verfahren zur Messung einer physikalischen Größe und elektronischer Schnittstellenschaltkreis für einen kapazitiven Sensor zu dessen Durchführung[2015/43]
English:Method of measuring a physical parameter and electronic circuit to interface with a capacitive sensor for implementing same[2015/43]
French:Procédé de mesure d'un paramètre physique et circuit électronique d'interface d'un capteur capacitif pour sa mise en oeuvre[2013/46]
Former [2013/46]Verfahren zum Messen eines physikalischen Parameters, und elektronischer Schnittstellenschaltkreis eines kapazitives Sensors zu dessen Umsetzung
Former [2013/46]Method for measuring a physical parameter and electronic circuit to interface with a capacitive sensor for implementing same
Examination procedure11.04.2014Amendment by applicant (claims and/or description)
13.05.2014Examination requested  [2014/26]
25.06.2014Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
10.10.2014Reply to a communication from the examining division
16.10.2015Communication of intention to grant the patent
05.11.2015Fee for grant paid
05.11.2015Fee for publishing/printing paid
05.11.2015Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  25.06.2014
Opposition(s)07.10.2016No opposition filed within time limit [2016/50]
Fees paidRenewal fee
02.06.2014Renewal fee patent year 03
01.06.2015Renewal fee patent year 04
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU10.05.2012
AL06.01.2016
AT06.01.2016
CY06.01.2016
CZ06.01.2016
DK06.01.2016
EE06.01.2016
ES06.01.2016
FI06.01.2016
HR06.01.2016
IT06.01.2016
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SM06.01.2016
TR06.01.2016
BG06.04.2016
NO06.04.2016
GR07.04.2016
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PT06.05.2016
GB10.05.2016
IE10.05.2016
LU10.05.2016
BE31.05.2016
[2018/46]
Former [2018/31]HU10.05.2012
AT06.01.2016
CY06.01.2016
CZ06.01.2016
DK06.01.2016
EE06.01.2016
ES06.01.2016
FI06.01.2016
HR06.01.2016
IT06.01.2016
LT06.01.2016
LV06.01.2016
MC06.01.2016
MK06.01.2016
MT06.01.2016
NL06.01.2016
PL06.01.2016
RO06.01.2016
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SE06.01.2016
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SM06.01.2016
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GR07.04.2016
IS06.05.2016
PT06.05.2016
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IE10.05.2016
LU10.05.2016
BE31.05.2016
Former [2018/29]HU10.05.2012
AT06.01.2016
CY06.01.2016
CZ06.01.2016
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FI06.01.2016
HR06.01.2016
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MK06.01.2016
NL06.01.2016
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Former [2018/28]HU10.05.2012
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CZ06.01.2016
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SE06.01.2016
NO06.04.2016
GR07.04.2016
IS06.05.2016
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BE31.05.2016
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ES06.01.2016
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BE31.05.2016
Former [2016/36]AT06.01.2016
ES06.01.2016
FI06.01.2016
HR06.01.2016
IT06.01.2016
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NL06.01.2016
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NO06.04.2016
GR07.04.2016
BE31.05.2016
Former [2016/35]ES06.01.2016
FI06.01.2016
HR06.01.2016
NL06.01.2016
NO06.04.2016
GR07.04.2016
Former [2016/30]NL06.01.2016
Documents cited:Search[A]FR2176724  (MEYER HANS [CH]) [A] 1,8 * page 2, line 36 - page 3, line 15; figure 1 * * page 3, line 16 - line 22; figure 2 * * page 5, line 30 - page 6, line 7; figure 5 *;
 [A]EP0525830  (RENISHAW PLC [GB]) [A] 1,4,8 * column 2, line 48 - column 3, line 18; figure 1 * * column 4, line 39 - column 5, line 39; figure 5 *;
 [AD]WO2004113930  (VTI TECHNOLOGIES OY [FI], et al) [AD] 1,8 * page 8, paragraph 1 - page 9, paragraph 2; figure 2 ** page 9, paragraph 3 - page 11, paragraph 1; figure 3 *
by applicantWO2004113930
 WO2008107737
 EP1835263
 EP2343507
    - MM. H. LEUTHOLD; F. RUDOLPH, SENSORS AND ACTUATORS, (1990), vol. A21-A23, pages 278 - 281
    - "A 1 mV MOS Comparator", IEEE J. SOLID-STATE CIRCUITS, (197806), vol. SC-13, pages 294 - 297
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