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EP About this file: EP2755552

EP2755552 - APPARATUS FOR INFLUENCING AND/OR DETECTING MAGNETIC PARTICLES HAVING A LARGE FIELD OF VIEW [Right-click to bookmark this link]
Former [2014/30]APPARATUS AND METHOD FOR INFLUENCING AND/OR DETECTING MAGNETIC PARTICLES HAVING A LARGE FIELD OF VIEW
[2017/51]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  22.03.2019
Database last updated on 30.03.2026
FormerThe patent has been granted
Status updated on  13.04.2018
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  04.12.2017
FormerExamination is in progress
Status updated on  09.01.2017
Most recent event   Tooltip10.07.2020Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): IS		published on 12.08.2020  [2020/33]
Applicant(s)For:AL  AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HR  HU  IE  IS  IT  LI  LT  LU  LV  MC  MK  MT  NL  NO  PL  PT  RO  RS  SE  SI  SK  SM  TR 
Koninklijke Philips N.V.
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
For:DE 
Philips GmbH
Röntgenstraße 22
22335 Hamburg / DE
[2019/14]
Former [2018/20]For:AL  AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HR  HU  IE  IS  IT  LI  LT  LU  LV  MC  MK  MT  NL  NO  PL  PT  RO  RS  SE  SI  SK  SM  TR 
Koninklijke Philips N.V.
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
For:DE 
Philips Deutschland GmbH
Lübeckertordamm 5
20099 Hamburg / DE
Former [2014/30]For:AL  AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HR  HU  IE  IS  IT  LI  LT  LU  LV  MC  MK  MT  NL  NO  PL  PT  RO  RS  SE  SI  SK  SM  TR 
Koninklijke Philips N.V.
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
For:DE 
Philips Deutschland GmbH
Lübeckertordamm 5
20099 Hamburg / DE
Inventor(s)01 / BONTUS, Claas
c/o High Tech Campus 44
5656 AE Eindhoven / NL
02 / SCHMALE, Ingo
c/o High Tech Campus 44
5656 AE Eindhoven / NL
03 / GLEICH, Bernhard
c/o High Tech Campus 44
5656 AE Eindhoven / NL
 [2018/20]
Former [2014/30]01 / BONTUS, Claas
c/o High Tech Campus 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
02 / SCHMALE, Ingo
c/o High Tech Campus 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
03 / GLEICH, Bernhard
c/o High Tech Campus 44
NL-5656 AE Eindhoven / NL
Representative(s)Steffen, Thomas
Philips Intellectual Property & Standards
High Tech Campus 5
5656 AE Eindhoven / NL
[2018/20]
Former [2014/30]Steffen, Thomas
Philips Intellectual Property & Standards P.O. Box 220
5600 AE Eindhoven / NL
Application number, filing date12812362.713.11.2012
[2018/20]
WO2012IB56376
Priority number, dateUS201161560323P16.11.2011         Original published format: US 201161560323 P
US201161560327P16.11.2011         Original published format: US 201161560327 P
US201261662413P21.06.2012         Original published format: US 201261662413 P
US201261662423P21.06.2012         Original published format: US 201261662423 P
[2014/30]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2013072841
Date:23.05.2013
Language:EN
[2013/21]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2755552
Date:23.07.2014
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 23.05.2013 takes the place of the publication of the European patent application.
[2014/30]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2755552
Date:16.05.2018
Language:EN
[2018/20]
Search report(s)International search report - published on:EP23.05.2013
ClassificationIPC:A61B5/05
[2014/30]
CPC:
A61B5/0515 (EP,RU,US); G01R33/02 (RU,US); G01N27/72 (RU,US)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2014/30]
TitleGerman:VORRICHTUNG ZUR BEEINFLUSSUNG UND/ODER ERKENNUNG VON MAGNETPARTIKELN MIT EINEM GROSSEN SICHTFELD[2017/51]
English:APPARATUS FOR INFLUENCING AND/OR DETECTING MAGNETIC PARTICLES HAVING A LARGE FIELD OF VIEW[2017/51]
French:APPAREIL POUR INFLUENCER ET/OU DÉTECTER DES PARTICULES MAGNÉTIQUES AYANT UN LARGE CHAMP DE VISION[2017/51]
Former [2014/30]VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR BEEINFLUSSUNG UND/ODER ERKENNUNG VON MAGNETPARTIKELN MIT EINEM GROSSEN SICHTFELD
Former [2014/30]APPARATUS AND METHOD FOR INFLUENCING AND/OR DETECTING MAGNETIC PARTICLES HAVING A LARGE FIELD OF VIEW
Former [2014/30]APPAREIL ET PROCÉDÉ POUR INFLUENCER ET/OU DÉTECTER DES PARTICULES MAGNÉTIQUES AYANT UN LARGE CHAMP DE VISION
Entry into regional phase27.03.2014National basic fee paid 
27.03.2014Designation fee(s) paid 
27.03.2014Examination fee paid 
Examination procedure25.03.2014Amendment by applicant (claims and/or description)
27.03.2014Examination requested  [2014/30]
13.06.2016Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M06)
22.12.2016Reply to a communication from the examining division
05.12.2017Communication of intention to grant the patent
29.03.2018Fee for grant paid
29.03.2018Fee for publishing/printing paid
29.03.2018Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  13.06.2016
Opposition(s)19.02.2019No opposition filed within time limit [2019/17]
Fees paidRenewal fee
01.12.2014Renewal fee patent year 03
30.11.2015Renewal fee patent year 04
30.11.2016Renewal fee patent year 05
30.11.2017Renewal fee patent year 06
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU13.11.2012
AL16.05.2018
AT16.05.2018
CY16.05.2018
CZ16.05.2018
DK16.05.2018
EE16.05.2018
ES16.05.2018
FI16.05.2018
HR16.05.2018
IT16.05.2018
LT16.05.2018
LV16.05.2018
MC16.05.2018
MK16.05.2018
NL16.05.2018
PL16.05.2018
PT16.05.2018
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RS16.05.2018
SE16.05.2018
SI16.05.2018
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IS16.09.2018
IE13.11.2018
LU13.11.2018
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LI30.11.2018
[2020/32]
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RS16.05.2018
SE16.05.2018
SI16.05.2018
SK16.05.2018
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TR16.05.2018
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Former [2020/30]HU13.11.2012
AL16.05.2018
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SE16.05.2018
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SE16.05.2018
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SE16.05.2018
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LU13.11.2018
CH30.11.2018
LI30.11.2018
Former [2019/40]AT16.05.2018
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SE16.05.2018
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SK16.05.2018
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BG16.08.2018
NO16.08.2018
GR17.08.2018
LU13.11.2018
CH30.11.2018
LI30.11.2018
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EE16.05.2018
ES16.05.2018
FI16.05.2018
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SE16.05.2018
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SK16.05.2018
SM16.05.2018
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NO16.08.2018
GR17.08.2018
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EE16.05.2018
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NL16.05.2018
PL16.05.2018
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SE16.05.2018
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BG16.08.2018
NO16.08.2018
GR17.08.2018
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DK16.05.2018
EE16.05.2018
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RS16.05.2018
SE16.05.2018
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BG16.08.2018
NO16.08.2018
GR17.08.2018
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EE16.05.2018
ES16.05.2018
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HR16.05.2018
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LV16.05.2018
NL16.05.2018
RS16.05.2018
SE16.05.2018
BG16.08.2018
NO16.08.2018
GR17.08.2018
Former [2019/08]DK16.05.2018
ES16.05.2018
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SE16.05.2018
BG16.08.2018
NO16.08.2018
GR17.08.2018
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HR16.05.2018
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LV16.05.2018
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NO16.08.2018
GR17.08.2018
Former [2018/51]ES16.05.2018
FI16.05.2018
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by applicant  GLEICH, B.; WEIZENECKER, J.: "Tomographic imaging using the nonlinear response of magnetic particles", NATURE, vol. 435, 2005, pages 1214 - 1217, XP002368326, DOI: doi:10.1038/nature03808

DOI:   http://dx.doi.org/10.1038/nature03808
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