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EP About this file: EP3324412

EP3324412 - RESISTIVE NON-VOLATILE MEMORY AND A METHOD FOR SENSING A MEMORY CELL IN A RESISTIVE NON-VOLATILE MEMORY [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  03.07.2020
Database last updated on 03.06.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  14.06.2019
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  28.03.2019
FormerRequest for examination was made
Status updated on  30.11.2018
FormerThe application has been published
Status updated on  20.04.2018
Most recent event   Tooltip08.07.2022Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK		published on 10.08.2022  [2022/32]
Applicant(s)For all designated states
NXP USA, Inc.
6501 William Cannon Drive West
Austin TX 78735 / US
[2018/21]
Inventor(s)01 / ROY, Anirban
NXP Semiconductors, Intellectual Property Group
High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
02 / SADD, Michael A.
NXP Semiconductors, Intellectual Property Group
High Tech Campus 60
5656 AG Eindhoven / NL
 [2018/21]
Representative(s)Hardingham, Christopher Mark
NXP Semiconductors
Intellectual Property Group
Abbey House
25 Clarendon Road
Redhill, Surrey RH1 1QZ / GB
[N/P]
Former [2018/21]Pomper, Till
NXP Semiconductors
Intellectual Property Group
134 avenue Eisenhower
BP 72329
31023 Toulouse Cedex 1 / FR
Application number, filing date17197333.219.10.2017
[2018/21]
Priority number, dateUS20161535687721.11.2016         Original published format: US201615356877
[2018/21]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report 
No.:EP3324412
Date:23.05.2018
Language:EN
[2018/21]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP3324412
Date:17.07.2019
Language:EN
[2019/29]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP20.04.2018
ClassificationIPC:G11C13/00
[2018/21]
CPC:
G11C13/004 (EP,US); G11C13/0026 (EP,US); G11C13/0028 (EP,US);
G11C13/0038 (US); G11C7/062 (EP,US); G11C11/1673 (EP,US);
G11C11/4091 (US); G11C2013/005 (EP,US); G11C2013/0057 (EP,US);
G11C2207/068 (EP,US); G11C2213/15 (EP,US); G11C2213/79 (EP,US) (-)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2019/01]
Former [2018/21]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:RESISTIVER NICHTFLÜCHTIGER SPEICHER UND VERFAHREN ZUM ERFASSEN EINER SPEICHERZELLE IN EINEM RESISTIVEN NICHTFLÜCHTIGEN SPEICHER[2018/21]
English:RESISTIVE NON-VOLATILE MEMORY AND A METHOD FOR SENSING A MEMORY CELL IN A RESISTIVE NON-VOLATILE MEMORY[2018/21]
French:MÉMOIRE NON VOLATILE RÉSISTIVE ET PROCÉDÉ DE DÉTECTION D'UNE CELLULE DE MÉMOIRE DANS UNE MÉMOIRE NON VOLATILE RÉSISTIVE[2018/21]
Examination procedure19.11.2018Amendment by applicant (claims and/or description)
23.11.2018Examination requested  [2019/01]
23.11.2018Date on which the examining division has become responsible
29.03.2019Communication of intention to grant the patent
Opposition(s)03.06.2020No opposition filed within time limit [2020/32]
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU19.10.2017
AL17.07.2019
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ES17.07.2019
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[2022/32]
Former [2021/34]HU19.10.2017
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BG17.10.2019
NO17.10.2019
PT18.11.2019
Former [2020/09]FI17.07.2019
LT17.07.2019
NL17.07.2019
NO17.10.2019
Former [2020/08]LT17.07.2019
NL17.07.2019
NO17.10.2019
Former [2020/07]NL17.07.2019
Documents cited:Search[A]WO2016076879  (HEWLETT PACKARD ENTPR DEV LP [US]) [A] 1-15* paragraphs [0036] - [0048]; figures 3,5 *
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