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EP1159583
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Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP1159583
| EP1159583 - VERFAHREN ZUR MESSUNG DER WELLIGKEIT VON SILIZIUMSCHEIBEN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | |||
| Frühere [2001/49] | VERFAHREN UND SYSTEM ZUR MESSUNG DER WELLIGKEIT VON SILIZIUMSCHEIBEN | ||
| [2004/03] | Status | Anmeldung gilt als zurückgenommen Status aktualisiert am 22.10.2004 Datenbank zuletzt aktualisiert am 11.04.2026 | Letztes Ereignis Tooltip | 22.10.2004 | Anmeldung gilt als zurückgenommen | veröffentlicht am 08.12.2004 [2004/50] | Anmelder | Für alle benannten Staaten MEMC Electronic Materials, Inc. 501 Pearl Drive (O'Fallon) P.O. Box 8 St. Peters, Missouri 63376 / US | [N/P] |
| Frühere [2001/49] | Für alle benannten Staaten MEMC Electronic Materials, Inc. 501 Pearl Drive (O'Fallon) P.O. Box 8 St. Peters, Missouri 63376 / US | Erfinder | 01 /
WITTE, Dale A., MEMC Electronic Materials, Inc. 501 Pearl Drive, P.O. Box 8 St. Peters, MO 63376 / US | [2001/49] | Vertreter | Maiwald GmbH Elisenhof Elisenstraße 3 80335 München / DE | [N/P] |
| Frühere [2001/49] | Maiwald Patentanwalts GmbH Elisenhof Elisenstrasse 3 80335 München / DE | Anmeldenummer, Anmeldetag | 00914535.0 | 07.02.2000 | [2001/49] | WO2000US03078 | Prioritätsnummer, Prioritätstag | US19990264230 | 05.03.1999 Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 264230 | [2001/49] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | WO0052420 | Datum: | 08.09.2000 | Sprache: | EN | [2000/36] | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | EP1159583 | Datum: | 05.12.2001 | Sprache: | EN | Die von der WIPO am 08.09.2000 in einer EPA-Amtssprache veröffentlichte Anmeldung tritt an die Stelle der Veröffentlichung der europäischen Patentanmeldung. | [2001/49] | Recherchenbericht(e) | Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am: | EP | 08.09.2000 | Klassifikation | IPC: | G01B21/30 | [2001/49] | CPC: |
G01B21/30 (EP,KR,US);
H10P74/203 (EP,US)
| Benannte Vertragsstaaten | AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LI, LU, MC, NL, PT, SE [2001/49] | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | VERFAHREN ZUR MESSUNG DER WELLIGKEIT VON SILIZIUMSCHEIBEN | [2004/03] | Englisch: | METHOD OF MEASURING WAVINESS OF SILICON WAFERS | [2004/03] | Französisch: | PROCEDE DE MESURE DU VOILAGE DE PLAQUETTES DE SILICIUM | [2004/03] |
| Frühere [2001/49] | VERFAHREN UND SYSTEM ZUR MESSUNG DER WELLIGKEIT VON SILIZIUMSCHEIBEN | ||
| Frühere [2001/49] | METHOD AND SYSTEM OF MEASURING WAVINESS IN SILICON WAFERS | ||
| Frühere [2001/49] | PROCEDE ET SYSTEME DE MESURE DU VOILAGE DE PLAQUETTES DE SILICIUM | Eintritt in die regionale Phase | 09.08.2001 | Nationale Grundgebühr entrichtet | 09.08.2001 | Benennungsgebühr(en) entrichtet | 09.08.2001 | Prüfungsgebühr entrichtet | Prüfungsverfahren | 28.07.2000 | Antrag auf vorläufige Prüfung gestellt mit der internationalen vorläufigen Prüfung beauftragte Behörde: EP | 09.08.2001 | Prüfungsantrag gestellt [2001/49] | 25.11.2002 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04) | 20.03.2003 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 21.01.2004 | Ankündigung der Patenterteilung | 02.06.2004 | Anmeldung gilt als zurückgenommen, Datum der Rechtswirksamkeit [2004/50] | 07.07.2004 | Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Erteilungsgebühr/Druckkostengebühr nicht fristgerecht entrichtet [2004/50] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 13.02.2002 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 12.02.2003 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 | 12.02.2004 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | |||