Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP1254402

EP1254402 - VERFAHREN UND SYSTEM ZUR ANALYSE VON KONTINUIRLICHEN PARAMETERDATEN FÜR DIAGNOSTIK UND REPARATUREN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusKein Einspruch fristgerecht eingelegt
Status aktualisiert am  13.08.2004
Datenbank zuletzt aktualisiert am 08.04.2026
Letztes Ereignis   Tooltip14.12.2007Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat
Neue Staaten: PT
veröffentlicht am 16.01.2008  [2008/03]
AnmelderFür alle benannten Staaten
GENERAL ELECTRIC COMPANY
Carl A. Rowold, Esquire
Bldg. 14-522
2901 East Lake Road
Erie, PA 16531 / US
[N/P]
Frühere [2002/45]Für alle benannten Staaten
General Electric Company
2901 East Lake Road, Building 14-522
Erie, PA 16531 / US
Erfinder01 / VARMA, Anil
139 D. Eastwood Drive
Clifton Park, NY 12065 / US
02 / RODDY, Nicholas, Edward
30 Grissom Drive
Clifton Park, NY 12065 / US
03 / GIBSON, David, Richard
171 S. Lakeside Drive
North East, PA 16428 / US
 [2002/45]
VertreterPedder, James Cuthbert
London Patent Operation
General Electric International, Inc.
15 John Adam Street
London WC2N 6LU / GB
[N/P]
Frühere [2002/45]Pedder, James Cuthbert
GE London Patent Operation, Essex House, 12/13 Essex Street
London WC2R 3AA / GB
Anmeldenummer, Anmeldetag00973998.827.10.2000
[2002/45]
WO2000US29799
Prioritätsnummer, PrioritätstagUS19990162045P28.10.1999         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 162045 P
[2002/45]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht
Nr.:WO0131412
Datum:03.05.2001
Sprache:EN
[2001/18]
Art: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP1254402
Datum:06.11.2002
Sprache:EN
Die von der WIPO am 03.05.2001 in einer EPA-Amtssprache veröffentlichte Anmeldung tritt an die Stelle der Veröffentlichung der europäischen Patentanmeldung.
[2002/45]
Art: B1 Patentschrift 
Nr.:EP1254402
Datum:08.10.2003
Sprache:EN
[2003/41]
Recherchenbericht(e)Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am:EP03.05.2001
KlassifikationIPC:G05B23/02
[2002/45]
CPC:
G05B23/0281 (EP,US); B61C17/04 (EP,US); B61C17/12 (EP,US);
G06F11/2257 (EP,US); G06F11/2268 (EP,US); Y02T30/00 (EP,US)
Benannte VertragsstaatenAT,   BE,   CH,   CY,   DE,   DK,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   IE,   IT,   LI,   LU,   MC,   NL,   PT [2002/45]
ErstreckungsstaatenALNoch nicht entrichtet
LTNoch nicht entrichtet
LVNoch nicht entrichtet
MKNoch nicht entrichtet
RONoch nicht entrichtet
SINoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:VERFAHREN UND SYSTEM ZUR ANALYSE VON KONTINUIRLICHEN PARAMETERDATEN FÜR DIAGNOSTIK UND REPARATUREN[2002/45]
Englisch:METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING CONTINUOUS PARAMETER DATA FOR DIAGNOSTICS AND REPAIRS[2002/45]
Französisch:PROCEDE ET SYSTEME POUR ANALYSER DES DONNEES PARAMETRIQUES CONTINUES A DES FINS DE DIAGNOSTIC ET DE REPARATION[2002/45]
Eintritt in die regionale Phase28.05.2002Nationale Grundgebühr entrichtet 
28.05.2002Benennungsgebühr(en) entrichtet 
28.05.2002Prüfungsgebühr entrichtet 
Prüfungsverfahren17.05.2001Antrag auf vorläufige Prüfung gestellt
mit der internationalen vorläufigen Prüfung beauftragte Behörde: US
28.05.2002Prüfungsantrag gestellt  [2002/45]
20.03.2003Ankündigung der Patenterteilung
30.07.2003Erteilungsgebühr entrichtet
30.07.2003Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet
Einspruch (Einsprüche)09.07.2004Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [2004/40]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
31.10.2002Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Erlöschen während des Einspruchsverfahrens  TooltipAT08.10.2003
BE08.10.2003
CH08.10.2003
FI08.10.2003
FR08.10.2003
IT08.10.2003
LI08.10.2003
NL08.10.2003
CY27.10.2003
LU27.10.2003
IE28.10.2003
MC31.10.2003
DK08.01.2004
GR08.01.2004
ES19.01.2004
PT08.03.2004
[2008/03]
Frühere [2007/35]AT08.10.2003
BE08.10.2003
CH08.10.2003
FI08.10.2003
FR08.10.2003
IT08.10.2003
LI08.10.2003
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LU27.10.2003
IE28.10.2003
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DK08.01.2004
GR08.01.2004
ES19.01.2004
Frühere [2006/14]AT08.10.2003
BE08.10.2003
CH08.10.2003
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Frühere [2005/23]AT08.10.2003
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DK08.01.2004
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Frühere [2004/36]AT08.10.2003
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NL08.10.2003
CY27.10.2003
GR08.01.2004
Frühere [2004/33]AT08.10.2003
CH08.10.2003
FI08.10.2003
LI08.10.2003
NL08.10.2003
GR08.01.2004
Frühere [2004/31]AT08.10.2003
FI08.10.2003
Frühere [2004/26]FI08.10.2003
Angeführt inInternationale Recherche[A]   TROBEC R ET AL: "OPTIMIZATION OF DIAGNOSTIC EXAMINATION", JOINT INTERNATIONAL CONFERENCE ON VECTOR AND PARALLEL PROCESSING,BERLIN,DE, 1994, pages 761 - 772, XP000974309 [A] 1,7 * page 761, line 1 - page 765, line 3 *
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