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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP1295559

EP1295559 - Verfahren und Vorrichtung zur Messung optischer Aberrationen eines Auges [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusAnmeldung gilt als zurückgenommen
Status aktualisiert am  28.09.2007
Datenbank zuletzt aktualisiert am 29.10.2024
Letztes Ereignis   Tooltip28.09.2007Anmeldung gilt als zurückgenommenveröffentlicht am 31.10.2007  [2007/44]
AnmelderFür alle benannten Staaten
Carl Zeiss Ophthalmic Systems, Inc.
5160 Hacienda Drive Dublin
California / US
[N/P]
Frühere [2003/13]Für alle benannten Staaten
Carl Zeiss Ophthalmic Systems, Inc.
5160 Hacienda Drive
Dublin, California / US
Erfinder01 / Lai, Ming
P.O. Box 10846
Pleasanton, CA, 94588 / US
02 / Wei, Jay
397 Indian Hill Place
Fremont, CA, 94539 / US
03 / Meyer, Scott A.
994 Verona Avenue
Livermore, CA, 94550 / US
04 / Foley, James P.
457 Maar Avenue
Fremont, CA, 94536 / US
05 / Horn, Jochen M.
4852 Bernal Avenue, Apt. 1
Pleasanton, CA, 94566 / US
 [2003/13]
VertreterGnatzig, Klaus
Carl Zeiss
Patentabteilung
73446 Oberkochen / DE
[N/P]
Frühere [2003/13]Gnatzig, Klaus
Carl Zeiss Patentabteilung
73446 Oberkochen / DE
Anmeldenummer, Anmeldetag02020272.711.09.2002
[2003/13]
Prioritätsnummer, PrioritätstagUS2001096011321.09.2001         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 960113
[2003/13]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht 
Nr.:EP1295559
Datum:26.03.2003
Sprache:EN
[2003/13]
Art: A3 Recherchenbericht 
Nr.:EP1295559
Datum:12.05.2004
[2004/20]
Recherchenbericht(e)(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP19.03.2004
KlassifikationIPC:A61B3/103
[2003/13]
CPC:
A61B3/1015 (EP,US); A61B3/156 (EP,US)
Benannte VertragsstaatenDE,   ES,   FR,   GB,   IT [2005/05]
Frühere [2003/13]AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  IE,  IT,  LI,  LU,  MC,  NL,  PT,  SE,  SK,  TR 
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:Verfahren und Vorrichtung zur Messung optischer Aberrationen eines Auges[2003/13]
Englisch:Method and apparatus for measuring optical aberrations of an eye[2003/13]
Französisch:Méthode et dispositif pour mesurer des aberrations optiques d'oeil[2003/13]
Prüfungsverfahren05.11.2004Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung)
05.11.2004Prüfungsantrag gestellt  [2005/01]
13.11.2004Teilrechtsverlust, Datum der Rechtswirksamkeit: benannte Vertragsstaat(en)
16.03.2005Absendung der Mitteilung über einen Teilrechtsverlusts: benannte Vertragsstaat(en) AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DK, EE, FI, GR, IE, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR
27.10.2006Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M06)
08.05.2007Anmeldung gilt als zurückgenommen, Datum der Rechtswirksamkeit  [2007/44]
13.06.2007Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Erwiderung auf die Mitteilung der Prüfungsabteilung nicht fristgerecht eingegangen  [2007/44]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
07.09.2004Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
15.09.2005Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
14.09.2006Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05
Zuschlagsgebühr
Zuschlagsgebühr/Regel 85a EPÜ 1973
20.12.2004AT   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004BE   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004BG   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004CH   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004CY   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004CZ   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004DK   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004EE   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004FI   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004GR   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004IE   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004LU   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004MC   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004NL   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004PT   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004SE   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004SK   M01   Noch nicht entrichtet
20.12.2004TR   M01   Noch nicht entrichtet
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts		 Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:Recherche[Y]US4011403  (EPSTEIN MAX, et al) [Y] 1-5,20,21 * column 3, line 17 - line 30 *;
 [Y]US5929970  (MIHASHI TOSHIFUMI [JP]) [Y] 1-5,20,21,23,24 * column 2, line 54 - line 64 * * column 11, line 52 - column 12, line 35 * * column 13, line 26 - line 43; figure 8 *;
 [A]FR2775779  (MICRO MODULE [FR]) [A] 21* page 5, line 1 - line 26 *;
 [XY]EP0962184  (WELCH ALLYN INC [US]) [X] 9-15 * column 8, line 9 - line 47 * * column 13, line 21 - line 37 * [Y] 23,24;
 [XA]WO0010448  (AUTONOMOUS TECHNOLOGIES CORP [US]) [X] 6-8,17,18,22 * page 6, line 27 - page 7, line 32 * * page 8, line 22 - page 9, line 25 * [A] 1-5,20,21;
 [X]WO0158339  (WAVEFRONT SCIENCES INC [US], et al) [X] 6-8,16-19,22,25 * page 9, line 3 - page 10, line 19 * * page 12, line 4 - page 13, line 12 *;
 [A]WO0160241  (MARSHALL IAN [GB]) [A] 6,9,13,16,17,19 * page 6, line 19 - page 8, line 2 *;
 [LPX]WO0189372  (ZEISS CARL [DE], et al) [LPX] 16,19 * application originating from the same inventor *; page 5, line 7 - line 24 *;
 [X]  - HAMAM H, "A direct technique for calculating the profile of aberration of the eye measured by a modified Hartmann-Shack apparatus", OPTICS COMMUNICATIONS, NORTH-HOLLAND PUBLISHING CO. AMSTERDAM, NL, (200001), vol. 173, no. 1-6, ISSN 0030-4018, pages 23 - 36, XP004191510 [X] 16,19,25 * 5 Setup; 6 Detection System *; page 27 - page 31; figures 3,4 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1016/S0030-4018(99)00623-9
 [X]  - SALMON T O ET AL, "COMPARISON OF THE EYE'S WAVE-FRONT ABERRATION MEASURED PSYCHOPHYSICALLY AND WITH THE SHACK-HARTMANN WAVE-FRONT SENSOR", JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA - A, OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, WASHINGTON, US, (199809), vol. 15, no. 9, ISSN 1084-7529, pages 2457 - 2465, XP001041250 [X] 16,19 * 2A Shack-Hartmann Wave-Front Sensor *; page 2459 - page 2460 *
 [A]  - IWAI T ET AL, "SPECKLE REDUCTION IN COHERENT INFORMATION PROCESSING", PROCEEDINGS OF THE IEEE, IEEE. NEW YORK, US, (19960501), vol. 84, no. 5, ISSN 0018-9219, pages 765 - 781, XP000591804 [A] 1-3 * page 770, column R, line 4 - line 13 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/5.488745
 [A]  - TAKEUCHI N ET AL, "Wavefront distortion measurement of a SR extraction mirror for the beam profile monitor using Shack-Hartmann method", PARTICLE ACCELERATOR CONFERENCE, 1997. PROCEEDINGS OF THE 1997 VANCOUVER, BC, CANADA 12-16 MAY 1997, PISCATAWAY, NJ, USA,IEEE, US, (19970512), ISBN 0-7803-4376-X, pages 859 - 861, XP002181680 [A] 1,6,9,13,16,17,19-25 * page 859, column R, line 13 - page 860, column L, line 25; figure 2 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/PAC.1997.749861
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