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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP1324006

EP1324006 - Gleichzeitige und sich selbst kalibrierende Anpassung von Subaperturen zur Messung von Oberflächenformen ( Interferometer ) [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusKein Einspruch fristgerecht eingelegt
Status aktualisiert am  09.02.2007
Datenbank zuletzt aktualisiert am 19.10.2024
Letztes Ereignis   Tooltip12.12.2008Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat
Neue Staaten: CY		veröffentlicht am 14.01.2009  [2009/03]
AnmelderFür alle benannten Staaten
QED TECHNOLOGIES INTERNATIONAL, INC.
870 N. Commons Drive
Aurora, IL 60504 / US
[2006/52]
Frühere [2003/27]Für alle benannten Staaten
QED Technologies, Inc.
1040 University Avenue
Rochester, NY 14607 / US
Erfinder01 / Golini, Donald
31 Palmerston Road
Rochester, New York, 14618 USA / US
02 / Forbes, Gregory
16 Douglas Avenue, N. Epping
Sydney, 2121 Australia / AU
03 / Murphy, Paul E.
122 Lattimore Road
Rochester, New York, 14620 USA / US
 [2003/27]
VertreterWagner, Karl H., et al
Wagner & Geyer Partnerschaft mbB
Patent- und Rechtsanwälte
Gewürzmühlstrasse 5
80538 München / DE
[N/P]
Frühere [2008/33]Wagner, Karl H., et al
Wagner & Geyer Partnerschaft Patent- und Rechtsanwälte Gewürzmühlstrasse 5
80538 München / DE
Frühere [2003/27]Wagner, Karl H., Dipl.-Ing., et al
WAGNER & GEYER Patentanwälte Gewürzmühlstrasse 5
80538 München / DE
Anmeldenummer, Anmeldetag02027674.712.12.2002
[2003/27]
Prioritätsnummer, PrioritätstagUS2002030323625.11.2002         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 303236
US20010341549P18.12.2001         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 341549 P
[2003/27]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP1324006
Datum:02.07.2003
Sprache:EN
[2003/27]
Art: B1 Patentschrift 
Nr.:EP1324006
Datum:29.03.2006
Sprache:EN
[2006/13]
Recherchenbericht(e)(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP13.03.2003
KlassifikationIPC:G01B11/255, G06T11/00, G01M11/00, G02B7/00
[2003/27]
CPC:
G01M11/0271 (EP,US); G01B11/255 (EP,US); G01B9/02074 (EP,US);
G01B9/02085 (EP,US); G01M11/0264 (EP,US); G01B2210/52 (EP,US);
G01B2290/65 (EP,US) (-)
Benannte VertragsstaatenAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   IE,   IT,   LI,   LU,   MC,   NL,   PT,   SE,   SI,   SK,   TR [2003/27]
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:Gleichzeitige und sich selbst kalibrierende Anpassung von Subaperturen zur Messung von Oberflächenformen ( Interferometer )[2003/27]
Englisch:Simultaneous self-calibrated sub-aperture stitching for surface figure measurement ( interferometer )[2003/27]
Französisch:Adaption simultanée et auto-étalonnée des ouvertures partielles pour mesurer la forme d'une surface ( interferomètre )[2003/27]
Prüfungsverfahren29.12.2003Prüfungsantrag gestellt  [2004/10]
26.10.2004Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
03.03.2005Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung
25.04.2005Ankündigung der Patenterteilung
05.09.2005Erteilungsgebühr entrichtet
05.09.2005Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet
29.09.2005Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
26.01.2006Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung
Einspruch (Einsprüche)02.01.2007Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [2007/11]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
29.12.2004Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
28.12.2005Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts		 Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Erlöschen während des Einspruchsverfahrens  TooltipAT29.03.2006
BE29.03.2006
CY29.03.2006
CZ29.03.2006
EE29.03.2006
FI29.03.2006
IT29.03.2006
SI29.03.2006
SK29.03.2006
TR29.03.2006
BG29.06.2006
DK29.06.2006
SE29.06.2006
GR30.06.2006
ES10.07.2006
PT29.08.2006
IE12.12.2006
LU12.12.2006
MC31.12.2006
[2009/03]
Frühere [2008/37]AT29.03.2006
BE29.03.2006
CZ29.03.2006
EE29.03.2006
FI29.03.2006
IT29.03.2006
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SK29.03.2006
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BG29.06.2006
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ES10.07.2006
PT29.08.2006
IE12.12.2006
LU12.12.2006
MC31.12.2006
Frühere [2008/28]AT29.03.2006
BE29.03.2006
CZ29.03.2006
EE29.03.2006
FI29.03.2006
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DK29.06.2006
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ES10.07.2006
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Frühere [2008/22]AT29.03.2006
BE29.03.2006
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IT29.03.2006
SI29.03.2006
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DK29.06.2006
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ES10.07.2006
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Frühere [2008/20]AT29.03.2006
BE29.03.2006
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SI29.03.2006
SK29.03.2006
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DK29.06.2006
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Frühere [2007/48]AT29.03.2006
BE29.03.2006
IT29.03.2006
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SI29.03.2006
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BG29.06.2006
DK29.06.2006
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BG29.06.2006
DK29.06.2006
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Frühere [2007/03]AT29.03.2006
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BG29.06.2006
SE29.06.2006
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BG29.06.2006
SE29.06.2006
ES10.07.2006
Frühere [2006/48]AT29.03.2006
SI29.03.2006
BG29.06.2006
SE29.06.2006
Frühere [2006/46]AT29.03.2006
SI29.03.2006
SE29.06.2006
Frühere [2006/43]AT29.03.2006
SI29.03.2006
Frühere [2006/40]SI29.03.2006
Angeführte Dokumente:Recherche[A]  - M. OTSUBO ET AL., "Measurement of large plane surface shapes by connecting small-aperture interferogramms", OPTICAL ENGINEERING, Bellingham, WA (US), (1994), vol. 33, no. 2, pages 608 - 613, XP000429932 [A] 1 * page 613; figures 1-3 *
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