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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP1597611

EP1597611 - VERFAHREN UNDEINRICHTUNG ZUM UNTERSUCHEN EINES OBJEKTS [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusAnmeldung zurückgenommen
Status aktualisiert am  20.11.2009
Datenbank zuletzt aktualisiert am 07.10.2024
Letztes Ereignis   Tooltip20.11.2009Zurücknahme der Anmeldungveröffentlicht am 23.12.2009  [2009/52]
AnmelderFür:DE 
Philips Intellectual Property & Standards GmbH
Steindamm 94
20099 Hamburg / DE
Für:AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HU  IE  IT  LI  LU  MC  NL  PT 
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Groenewoudseweg 1
5621 BA Eindhoven / NL
[N/P]
Frühere [2006/29]Für:DE 
Philips Intellectual Property & Standards GmbH
Steindamm 94
20099 Hamburg / DE
Für:AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HU  IE  IT  LI  LU  MC  NL  PT 
Koninklijke Philips Electronics N.V.
Groenewoudseweg 1
5621 BA Eindhoven / NL
Frühere [2005/47]Für:DE 
Philips Intellectual Property & Standards GmbH
Steindamm 94
20099 Hamburg / DE
Für:AT  BE  BG  CH  CY  CZ  DK  EE  ES  FI  FR  GB  GR  HU  IE  IT  LU  MC  NL  PT 
Koninklijke Philips Electronics, N.V.
Groenewoudseweg 1
5621 BA Eindhoven / NL
Erfinder01 / SCHLOMKA, Jens-Peter, Philips IP & Standards GmbH
Weisshausstr. 2
52066 Aachen / DE
02 / SABCZYNSKI, Joerg, c/o Philips IP & Standards GmbH
Weisshausstr. 2
52066 Aachen / DE
03 / BORGERT, Joern, c/o Philips IP & Standards GmbH
Weisshausstr. 2
52066 Aachen / DE
 [2005/47]
VertreterVolmer, Georg
Philips Intellectual Property & Standards GmbH
Postfach 50 04 42
52088 Aachen / DE
[N/P]
Frühere [2005/47]Volmer, Georg
Philips Intellectual Property & Standards GmbH, Postfach 50 04 42
52088 Aachen / DE
Anmeldenummer, Anmeldetag04707609.603.02.2004
[2005/47]
WO2004IB00362
Prioritätsnummer, PrioritätstagEP2003010033013.02.2003         Ursprünglich veröffentlichtes Format: EP 03100330
[2005/47]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht
Nr.:WO2004072685
Datum:26.08.2004
Sprache:EN
[2004/35]
Art: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP1597611
Datum:23.11.2005
Sprache:EN
Die von der WIPO am 26.08.2004 in einer EPA-Amtssprache veröffentlichte Anmeldung tritt an die Stelle der Veröffentlichung der europäischen Patentanmeldung.
[2005/47]
Recherchenbericht(e)Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am:EP26.08.2004
KlassifikationIPC:G01V5/00
[2005/47]
CPC:
G01V5/22 (EP,US)
Benannte VertragsstaatenAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HU,   IE,   IT,   LI,   LU,   MC,   NL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   TR [2005/47]
ErstreckungsstaatenALNoch nicht entrichtet
LTNoch nicht entrichtet
LVNoch nicht entrichtet
MKNoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:VERFAHREN UNDEINRICHTUNG ZUM UNTERSUCHEN EINES OBJEKTS[2005/47]
Englisch:METHOD AND DEVICE FOR EXAMINING AN OBJECT[2005/47]
Französisch:PROCEDE ET DISPOSITIF PERMETTANT D'INSPECTER UN OBJET[2005/47]
Eintritt in die regionale Phase13.09.2005Nationale Grundgebühr entrichtet 
13.09.2005Benennungsgebühr(en) entrichtet 
13.09.2005Prüfungsgebühr entrichtet 
Prüfungsverfahren13.09.2005Prüfungsantrag gestellt  [2005/47]
04.11.2009Anmeldung vom Anmelder zurückgenommen  [2009/52]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
28.02.2006Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
28.02.2007Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
29.02.2008Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05
28.03.2008Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführt inInternationale Recherche[A]US5367552  (PESCHMANN KRISTIAN R [US]) [A] 1,4,5,7-9 * abstract * * column 2, line 41 - line 47 * * column 3, line 40 - line 58 * * column 4, line 3 - line 7 * * column 4, line 29 - line 43 * * column 4, line 46 - line 53 * * column 4, line 64 - line 65 * * column 5, line 36 - line 40 * * column 6, line 40 - line 58 * * column 7, line 17 - line 60 * * column 8, line 4 - line 8 * * column 8, line 26 - line 50 * * column 9, line 26 - line 38 * * column 11, line 16 - line 37 * * figure - *;
 [A]US5642393  (KRUG KRISTOPH D [US], et al) [A] 1,4,5,7-9 * abstract * * column 3, line 59 - column 4, line 10 * * column 4, line 53 - line 57 * * column 6, line 58 - column 7, line 27 * * column 8, line 55 - column 9, line 7 * * figure - *;
 [A]WO9919716  (ANALOGIC CORP [US]) [A] 1,5,8,9 * abstract * * page 6, line 2 - line 28 * * page 14, line 1 - line 14 * * page 18, line 10 - page 19, line 30 * * page 20, line 15 - line 27 * * page 24, line 3 - line 24 ** figure - *
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