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EP1918751
Europäisches Verfahren
Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP1918751
| EP1918751 - Mikroskopsystem, Beobachtungsverfahren und Beobachtungsprogramm [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt Status aktualisiert am 26.11.2010 Datenbank zuletzt aktualisiert am 17.09.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 26.11.2010 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt | veröffentlicht am 29.12.2010 [2010/52] | Anmelder | Für alle benannten Staaten Olympus Corporation 43-2, Hatagaya 2-chome Shibuya-ku Tokyo 151-0072 / JP | [2008/19] | Erfinder | 01 /
Yamada, Tatsuki 1692-11, Yamadamachi Hachioji-shi Tokyo 193-0933 / JP | [2008/19] | Vertreter | von Hellfeld, Axel Wuesthoff & Wuesthoff Patentanwälte PartG mbB Schweigerstrasse 2 81541 München / DE | [N/P] |
| Frühere [2009/51] | von Hellfeld, Axel Wuesthoff & Wuesthoff Patent- und Rechtsanwälte Schweigerstrasse 2 81541 München / DE | ||
| Frühere [2008/19] | von Hellfeld, Axel Wuesthoff & Wuesthoff Patent- und Rechtsanwälte Schweigerstrasse 2 D-81541 München / DE | Anmeldenummer, Anmeldetag | 06022728.7 | 31.10.2006 | [2008/19] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | EP1918751 | Datum: | 07.05.2008 | Sprache: | EN | [2008/19] | Art: | B1 Patentschrift | Nr.: | EP1918751 | Datum: | 20.01.2010 | Sprache: | EN | [2010/03] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 03.04.2007 | Klassifikation | IPC: | G02B21/00, G02B21/36 | [2008/19] | CPC: |
G02B21/367 (EP);
G02B21/002 (EP)
| Benannte Vertragsstaaten | DE [2009/03] |
| Frühere [2008/19] | AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Mikroskopsystem, Beobachtungsverfahren und Beobachtungsprogramm | [2008/19] | Englisch: | Microscope system, observation method and observation program | [2008/19] | Französisch: | Système de microscope, procédé d'observation et programme d'observation | [2008/19] | Prüfungsverfahren | 18.07.2007 | Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung) | 18.07.2007 | Prüfungsantrag gestellt [2008/19] | 22.11.2007 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M06) | 23.05.2008 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 08.11.2008 | Teilrechtsverlust, Datum der Rechtswirksamkeit: benannte Vertragsstaat(en) | 19.12.2008 | Absendung der Mitteilung über einen Teilrechtsverlusts: benannte Vertragsstaat(en) AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR | 19.02.2009 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04) | 28.04.2009 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 28.08.2009 | Ankündigung der Patenterteilung | 10.12.2009 | Erteilungsgebühr entrichtet | 10.12.2009 | Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet | Einspruch (Einsprüche) | 21.10.2010 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [2010/52] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 16.10.2008 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 19.10.2009 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [X]WO9839728 (BACUS RES LAB INC [US]) [X] 1,2,5,6,3,4 * figures 1-3,9a,9b,10 * * page 7, line 2 - page 12, line 11 * * page 19, line 34 - page 23, line 32 * * page 30, line 1 - page 32, line 37 * * page 40, line 1 - page 47, line 5 *; | [XY]EP0994433 (FAIRFIELD IMAGING LTD [GB]) [X] 1,2,5,6 * abstract * * paragraph [0018] - paragraph [0036] * * figure - * [Y] 3,4; | [Y]WO0127678 (CELLAVISION AB [SE], et al) [Y] 1-3,5,6 * abstract * * page 2, line 2 - page 4, line 28 * * page 6, line 7 - page 8, line 25 *; | [Y]US2005190437 (NAKAGAWA SHUJI [JP]) [Y] 1-3,5,6 * abstract * * paragraph [0027] - paragraph [0049] *; | [Y]EP1617377 (ZEISS CARL JENA GMBH [DE]) [Y] 3,4 * abstract * * paragraph [0001] - paragraph [0005] *; | [X]US2006204072 (WETZEL ARTHUR W [US], et al) [X] 1 * figure 1 ** paragraph [0035] - paragraph [0046] * |