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EP1806559
Europäisches Verfahren
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Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP1806559
| EP1806559 - Vermessungsverfahren für eine hohe Baustruktur [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Anmeldung gilt als zurückgenommen Status aktualisiert am 06.06.2008 Datenbank zuletzt aktualisiert am 29.10.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 06.06.2008 | Anmeldung gilt als zurückgenommen | veröffentlicht am 09.07.2008 [2008/28] | Anmelder | Für alle benannten Staaten Leica Geosystems AG Heinrich-Wild-Strasse 9435 Heerbrugg / CH | [2007/28] | Erfinder | 01 /
VAN CRANENBROECK, Joel Rue du Tienne de Mont, 11 BE-5530, Mont Yvoir / BE | [2007/28] | Vertreter | Harmann, Bernd-Günther Kaminski Harmann Patentanwälte AG Landstrasse 124 9490 Vaduz / LI | [N/P] |
| Frühere [2007/28] | Harmann, Bernd-Günther Büchel, Kaminski & Partner Patentanwälte Est. Austrasse 79 9490 Vaduz / LI | Anmeldenummer, Anmeldetag | 06100189.7 | 10.01.2006 | [2007/28] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | EP1806559 | Datum: | 11.07.2007 | Sprache: | EN | [2007/28] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 11.08.2006 | Klassifikation | IPC: | G01C15/00 | [2007/28] | CPC: |
G01C15/00 (EP,KR,US);
G01C7/02 (KR);
G09B25/06 (KR);
G09B29/003 (KR)
| Benannte Vertragsstaaten | (deleted) [2008/12] |
| Frühere [2007/28] | AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Vermessungsverfahren für eine hohe Baustruktur | [2007/28] | Englisch: | Surveying procedure and system for a high-rise structure | [2007/28] | Französisch: | Méthode et dispositif d'arpentage pour un immeuble-tour | [2007/28] | Prüfungsverfahren | 12.01.2008 | Anmeldung gilt als zurückgenommen, Datum der Rechtswirksamkeit [2008/28] | 19.02.2008 | Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Prüfungsgebühr nicht fristgerecht entrichtet [2008/28] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 27.03.2008 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | Zuschlagsgebühr | Zuschlagsgebühr zur Jahresgebühr | 31.01.2008 | 03 M06 Gebühr entrichtet am 27.03.2008 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [A]US6434508 (LIN CHIH-HSIUNG [TW], et al) [A] 9* abstract *; | [A]CA2482871 (LEICA GEOSYSTEMS AG [CH]) [A] 1,7 * figures 3,7,17 * |