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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP1987332

EP1987332 - VERFAHREN ZUR ANALYSE EINER FARBSCHICHT MIT EFFEKTPIGMENTEN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusAnmeldung gilt als zurückgenommen
Status aktualisiert am  04.12.2009
Datenbank zuletzt aktualisiert am 29.10.2024
Letztes Ereignis   Tooltip04.12.2009Anmeldung gilt als zurückgenommenveröffentlicht am 06.01.2010  [2010/01]
AnmelderFür alle benannten Staaten
Akzo Nobel Coatings International BV
Velperweg 76
6824 BM Arnhem / NL
[2008/45]
Erfinder01 / BALAKRISHNAN, Aneeshkumar
Vilangupara House Aruvikuzhy Post
Kottayam, Kerala 686 503 / IN
02 / RAMAN, Prashant
A-003, Fern Saroj Apts. 7th Cross, LBS Nagar
Bangalore, Karnataka 560017 / IN
03 / VAN DEN KIEBOOM, Gerardus Johannes Petrus
Jonkerhof 4
NL-2353 VT Leiderdorp / NL
 [2008/45]
VertreterSchalkwijk, Pieter Cornelis
Akzo Nobel N.V.
Intellectual Property Department
P.O. Box 9300
6800 SB Arnhem / NL
[N/P]
Frühere [2008/45]Schalkwijk, Pieter Cornelis
Akzo Nobel N.V. Intellectual Property Department P.O. Box 9300
6800 SB Arnhem / NL
Anmeldenummer, Anmeldetag07726458.822.02.2007
[2008/45]
WO2007EP51700
Prioritätsnummer, PrioritätstagINKA0168200624.02.2006         Ursprünglich veröffentlichtes Format: IN KA01682006
EP2006011240510.04.2006         Ursprünglich veröffentlichtes Format: EP 06112405
US20060791443P13.04.2006         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 791443 P
[2008/45]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht
Nr.:WO2007096402
Datum:30.08.2007
Sprache:EN
[2007/35]
Art: A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht 
Nr.:EP1987332
Datum:05.11.2008
Sprache:EN
Die von der WIPO am 30.08.2007 in einer EPA-Amtssprache veröffentlichte Anmeldung tritt an die Stelle der Veröffentlichung der europäischen Patentanmeldung.
[2008/45]
Recherchenbericht(e)Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am:EP25.10.2007
KlassifikationIPC:G01J3/46, G01N21/21
[2008/45]
CPC:
G01N21/21 (EP,KR,US); G01J3/02 (EP,US); G01J3/0224 (EP,US);
G01J3/46 (KR); G01J3/50 (EP,US); G01J3/504 (EP,US)
Benannte VertragsstaatenAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   NL,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   TR [2008/45]
ErstreckungsstaatenALNoch nicht entrichtet
BANoch nicht entrichtet
HRNoch nicht entrichtet
MKNoch nicht entrichtet
RSNoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:VERFAHREN ZUR ANALYSE EINER FARBSCHICHT MIT EFFEKTPIGMENTEN[2008/45]
Englisch:METHOD OF ANALYZING A PAINT FILM WITH EFFECT PIGMENTS[2008/45]
Französisch:PROCEDE D'ANALYSE D'UN FILM DE PEINTURE AVEC DES PIGMENTS A EFFETS[2008/45]
Eintritt in die regionale Phase18.07.2008Nationale Grundgebühr entrichtet 
18.07.2008Benennungsgebühr(en) entrichtet 
18.07.2008Prüfungsgebühr entrichtet 
Prüfungsverfahren13.11.2007Antrag auf vorläufige Prüfung gestellt
mit der internationalen vorläufigen Prüfung beauftragte Behörde: EP
18.07.2008Prüfungsantrag gestellt  [2008/45]
05.03.2009Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
16.07.2009Anmeldung gilt als zurückgenommen, Datum der Rechtswirksamkeit  [2010/01]
19.08.2009Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Erwiderung auf die Mitteilung der Prüfungsabteilung nicht fristgerecht eingegangen  [2010/01]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
26.02.2009Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführt inInternationale Recherche[XY]SE9901332  (VALTER STROEM) [X] 8 * figure 1 * * paragraph [INLEDNING] - paragraph [UPPSTÄLLNING] * [Y] 1-7;
 [Y]  - S.-M. F. NEE, T.-W. NEE, "polarization of scattering by a rough paint surface", PROC. OF SPIE, (2002), vol. 4780, pages 88 - 98, XP002398045 [Y] 1-7 * figure 2 * * paragraph [0III] *
 [A]  - JIN G ET AL, "IMAGING ELLIPSOMETRY REVISITED: DEVELOPMENTS FOR VISUALIZATION OF THIN TRANSPARENT LAYERS ON SILICON SUBSTRATES", REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, AIP, MELVILLE, NY, US, (19960801), vol. 67, no. 8, ISSN 0034-6748, pages 2930 - 2936, XP000620464 [A] 1-8 * paragraph [0III]; figure 1 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1063/1.1147074
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