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Neue Version des Europäischen Patentregisters – Angaben zu ESZ-Verfahren im Einheitspatentregister.

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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP2462486

EP2462486 - VERFAHREN UND SYSTEME ZUR INSPEKTION VON GEGENSTÄNDEN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
Frühere [2012/24]SYSTEME UND VERFAHREN ZUR OBJEKTUNTERSUCHUNG
[2019/48]
StatusKein Einspruch fristgerecht eingelegt
Status aktualisiert am  19.02.2021
Datenbank zuletzt aktualisiert am 17.09.2024
FrüherePatent erteilt
Status aktualisiert am  13.03.2020
FrühereErteilung des Patents vorgesehen
Status aktualisiert am  20.11.2019
FrüherePrüfungsverfahren läuft
Status aktualisiert am  03.07.2019
Letztes Ereignis   Tooltip08.07.2022Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat
Neue Staaten: MK
veröffentlicht am 10.08.2022  [2022/32]
AnmelderFür alle benannten Staaten
ASML Netherlands BV
De Run 6501
5504 DR Veldhoven / NL
[2020/16]
Frühere [2012/24]Für alle benannten Staaten
ASML Netherlands BV
De Run 6501
5504 DR Veldhoven / NL
Erfinder01 / IVANOV, Vitalii
str. Sengera 9/9
PL-02-790 Warsaw / PL
02 / DEN BOEF, Arie
Eikenlaan 18
NL-5581 NA Waalre / NL
03 / BANINE, Vadim
Eendracht 21
NL-5751 SB Deurne / NL
04 / SCACCABAROZZI, Luigi
De Meule 39
NL-5554 KD Valkenswaard / NL
05 / IOSAD, Nikolay
Westernisse 9
NL-5663 RH Geldrop / NL
 [2012/24]
VertreterASML Netherlands B.V.
Corporate Intellectual Property
P.O. Box 324
5500 AH Veldhoven / NL
[N/P]
Frühere [2020/16]Slenders, Petrus Johannes Waltherus, et al
ASML Netherlands B.V.
Corporate Intellectual Property
De Run 6501
P.O. Box 324
5500 AH Veldhoven / NL
Frühere [2012/52]Slenders, Petrus J. W., et al
ASML Netherlands B.V.
Corporate Intellectual Property
P.O. Box 324
5500 AH Veldhoven / NL
Frühere [2012/24]Slenders, Petrus J. W.
ASML Netherlands B.V. De Run 6504
5504 DR Veldhoven / NL
Anmeldenummer, Anmeldetag10728666.802.07.2010
[2020/16]
WO2010EP59460
Prioritätsnummer, PrioritätstagUS20090231161P04.08.2009         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 231161 P
[2012/24]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht
Nr.:WO2011015412
Datum:10.02.2011
Sprache:EN
[2011/06]
Art: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP2462486
Datum:13.06.2012
Sprache:EN
Die von der WIPO am 10.02.2011 in einer EPA-Amtssprache veröffentlichte Anmeldung tritt an die Stelle der Veröffentlichung der europäischen Patentanmeldung.
[2012/24]
Art: B1 Patentschrift 
Nr.:EP2462486
Datum:15.04.2020
Sprache:EN
[2020/16]
Recherchenbericht(e)Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am:EP10.02.2011
KlassifikationIPC:G03F1/00, G03F1/84, G01N21/65, G01N21/94, G01N21/956, G01N21/95, G01N21/64, G03F1/24
[2019/48]
CPC:
G03F1/84 (EP,KR,US); G01N21/65 (EP,KR,US); G01N21/6408 (EP,KR,US);
G01N21/6489 (EP,KR,US); G01N21/94 (EP,KR,US); G01N21/9501 (EP,KR,US);
G01N21/956 (EP,KR,US); G03F1/24 (EP,KR,US) (-)
Frühere IPC [2012/24]G03F1/00, G03F1/14, G01N21/64, G01N21/95
Benannte VertragsstaatenAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2012/24]
ErstreckungsstaatenBANoch nicht entrichtet
MENoch nicht entrichtet
RSNoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:VERFAHREN UND SYSTEME ZUR INSPEKTION VON GEGENSTÄNDEN[2019/48]
Englisch:OBJECT INSPECTION SYSTEMS AND METHODS[2012/24]
Französisch:PROCÉDÉS ET SYSTEMES POUR L'INSPECTION D'OBJETS[2019/48]
Frühere [2012/24]SYSTEME UND VERFAHREN ZUR OBJEKTUNTERSUCHUNG
Frühere [2012/24]SYSTÈMES ET PROCÉDÉS D'INSPECTION D'OBJET
Eintritt in die regionale Phase01.12.2011Nationale Grundgebühr entrichtet 
01.12.2011Benennungsgebühr(en) entrichtet 
01.12.2011Prüfungsgebühr entrichtet 
Prüfungsverfahren01.12.2011Prüfungsantrag gestellt  [2012/24]
15.08.2012Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung)
08.07.2019Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
15.10.2019Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung
21.11.2019Ankündigung der Patenterteilung
04.03.2020Erteilungsgebühr entrichtet
04.03.2020Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet
04.03.2020Eingang der Übersetzungen des Patentanspruchs/der Patentansprüche
Teilanmeldung(en)Das Datum des ersten Bescheids der Prüfungsabteilung zu der frühesten Anmeldung, zu der ein Bescheid ergangen ist , ist  08.07.2019
Einspruch (Einsprüche)18.01.2021Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [2021/12]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
23.07.2012Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
22.07.2013Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
23.07.2014Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05
23.07.2015Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06
22.07.2016Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 07
24.07.2017Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 08
27.07.2018Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 09
25.07.2019Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 10
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Erlöschen während des Einspruchsverfahrens  TooltipHU02.07.2010
AL15.04.2020
AT15.04.2020
CY15.04.2020
CZ15.04.2020
DK15.04.2020
EE15.04.2020
ES15.04.2020
FI15.04.2020
HR15.04.2020
IT15.04.2020
LT15.04.2020
LV15.04.2020
MC15.04.2020
MK15.04.2020
MT15.04.2020
NL15.04.2020
PL15.04.2020
RO15.04.2020
SE15.04.2020
SI15.04.2020
SK15.04.2020
SM15.04.2020
TR15.04.2020
IE02.07.2020
LU02.07.2020
BG15.07.2020
GB15.07.2020
NO15.07.2020
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BE31.07.2020
CH31.07.2020
LI31.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
[2022/32]
Frühere [2022/27]HU02.07.2010
AL15.04.2020
AT15.04.2020
CY15.04.2020
CZ15.04.2020
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HR15.04.2020
IT15.04.2020
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MC15.04.2020
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NL15.04.2020
PL15.04.2020
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LU02.07.2020
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Frühere [2022/26]AL15.04.2020
AT15.04.2020
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TR15.04.2020
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LU02.07.2020
BG15.07.2020
GB15.07.2020
NO15.07.2020
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BE31.07.2020
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Frühere [2021/24]AL15.04.2020
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CZ15.04.2020
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Frühere [2021/22]AL15.04.2020
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NL15.04.2020
PL15.04.2020
RO15.04.2020
SE15.04.2020
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SM15.04.2020
IE02.07.2020
LU02.07.2020
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LI31.07.2020
IS15.08.2020
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Frühere [2021/13]AL15.04.2020
AT15.04.2020
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DK15.04.2020
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FI15.04.2020
HR15.04.2020
IT15.04.2020
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LV15.04.2020
MC15.04.2020
NL15.04.2020
PL15.04.2020
RO15.04.2020
SE15.04.2020
SK15.04.2020
SM15.04.2020
BG15.07.2020
NO15.07.2020
GR16.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2021/10]AL15.04.2020
AT15.04.2020
CZ15.04.2020
DK15.04.2020
EE15.04.2020
ES15.04.2020
FI15.04.2020
HR15.04.2020
IT15.04.2020
LT15.04.2020
LV15.04.2020
NL15.04.2020
PL15.04.2020
RO15.04.2020
SE15.04.2020
SK15.04.2020
SM15.04.2020
BG15.07.2020
NO15.07.2020
GR16.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2021/09]AL15.04.2020
AT15.04.2020
CZ15.04.2020
DK15.04.2020
EE15.04.2020
ES15.04.2020
FI15.04.2020
HR15.04.2020
IT15.04.2020
LT15.04.2020
LV15.04.2020
NL15.04.2020
RO15.04.2020
SE15.04.2020
SM15.04.2020
BG15.07.2020
NO15.07.2020
GR16.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2021/08]AL15.04.2020
DK15.04.2020
ES15.04.2020
FI15.04.2020
HR15.04.2020
LT15.04.2020
LV15.04.2020
NL15.04.2020
RO15.04.2020
SE15.04.2020
SM15.04.2020
BG15.07.2020
NO15.07.2020
GR16.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2021/04]AL15.04.2020
FI15.04.2020
HR15.04.2020
LT15.04.2020
LV15.04.2020
NL15.04.2020
SE15.04.2020
BG15.07.2020
NO15.07.2020
GR16.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2021/01]FI15.04.2020
HR15.04.2020
LT15.04.2020
LV15.04.2020
NL15.04.2020
SE15.04.2020
BG15.07.2020
NO15.07.2020
GR16.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2020/50]FI15.04.2020
HR15.04.2020
LT15.04.2020
LV15.04.2020
NL15.04.2020
SE15.04.2020
NO15.07.2020
GR16.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2020/48]FI15.04.2020
LT15.04.2020
NL15.04.2020
SE15.04.2020
NO15.07.2020
IS15.08.2020
PT17.08.2020
Frühere [2020/47]LT15.04.2020
NO15.07.2020
IS15.08.2020
Frühere [2020/46]IS15.08.2020
Angeführt inInternationale Recherche[XI]WO9811425  (BIO RAD MICROMEASUREMENTS LTD [GB], et al) [X] 1,2,5,10,18,19,22,26,35-37,40,45,53,54,57,61,70 * abstract * * page 3 - page 11 * [I] 3,4,6-8,20,21,23,24,34,38,39,41-43,55,56,58,59,69;
 [XI]WO0229883  (AOTI OPERATING CO INC [US], et al) [X] 1,2,5,6,10,18,19,22,26,35-37,40,45,53,54,57,61,70 * claims 1,6,15 * * page 3, line 25 - page 6, line 28 * * page 10, line 7 - line 13 * [I] 3,4,7,8,20,21,23,24,34,38,39,41-43,55,56,58,59,69;
 [XI]WO02077621  (AOTI OPERATING CO INC [US], et al) [X] 1,2,5,6,10,18,19,22,26,35-37,40,45,53,54,57,61,70 * page 4 - page 13 * [I] 3,4,7,8,20,21,23,24,34,38,39,41-43,55,56,58,59,69;
 [XI]WO2004008125  (AOTI OPERATING CO INC [US], et al) [X] 1,2,5,6,10,18,19,22,26,35-37,40,45,53,54,57,61,70 * the whole document * [I] 3,4,7,8,20,21,23,24,34,38,39,41-43,55,56,58,59,69;
 [XI]US2008084555  (YOO WOO SIK [US]) [X] 1,2,5,10,18,19,22,26,35-37,40,45,53,54,57,61,70 * figures 7, 8A, 8B * * paragraph [0004] - paragraph [0019] * * paragraph [0069] - paragraph [0080] * [I] 3,4,6-8,20,21,23,24,34,38,39,41-43,55,56,58,59,69;
 [A]  - WESTRATE S ET AL, "PHOTOLUMINESCENCE MAPPING DETECTS CU CONTAMINATION IN SI WAFERS", SOLID STATE TECHNOLOGY, PENNWELL CORPORATION, TULSA, OK, US, (20020201), vol. 45, no. 2, ISSN 0038-111X, page 57/58, XP001092608 [A] 1-70 * the whole document *
vom AnmelderJPH11304717
 JP2007258567
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