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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP2690496

EP2690496 - VERFAHREN ZUR MESSUNG DER VERZERRUNG VON PROJEKTIONSOBJEKTIVEN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusKein Einspruch fristgerecht eingelegt
Status aktualisiert am  23.06.2017
Datenbank zuletzt aktualisiert am 20.09.2024
Letztes Ereignis   Tooltip10.07.2020Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat
Neue Staaten: IS		veröffentlicht am 12.08.2020  [2020/33]
AnmelderFür alle benannten Staaten
Shanghai Micro Electronics Equipment Co., Ltd.
1525 Zhangdong Road
Pudong New Area
Shanghai 201203 / CN
[2014/05]
Erfinder01 / FANG, Li
1525 Zhangdong Road
Pudong New Area
Shanghai 201203 / CN
02 / SUN, Gang
1525 Zhangdong Road
Pudong New Area
Shanghai 201203 / CN
03 / MIN, Jinhua
1525 Zhangdong Road
Pudong New Area
Shanghai 201203 / CN
04 / ZHANG, Jun
1525 Zhangdong Road
Pudong New Area
Shanghai 201203 / CN
 [2014/05]
VertreterLavoix
Bayerstraße 83
80335 München / DE
[N/P]
Frühere [2016/33]Lavoix
Bayerstrasse 83
80335 München / DE
Frühere [2014/05]Tischner, Oliver
Lavoix Munich
Bayerstrasse 83
80335 München / DE
Anmeldenummer, Anmeldetag12761311.521.03.2012
[2016/33]
WO2012CN72693
Prioritätsnummer, PrioritätstagCN2011106806021.03.2011         Ursprünglich veröffentlichtes Format: CN201110068060
[2014/05]
AnmeldespracheZH
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht
Nr.:WO2012126364
Datum:27.09.2012
Sprache:ZH
[2012/39]
Art: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP2690496
Datum:29.01.2014
Sprache:EN
[2014/05]
Art: B1 Patentschrift 
Nr.:EP2690496
Datum:17.08.2016
Sprache:EN
[2016/33]
Recherchenbericht(e)Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am:CN27.09.2012
(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP09.01.2015
KlassifikationIPC:G03F7/20, H01L21/66, G03F1/44
[2015/05]
CPC:
G03F7/706 (EP,US); G03F1/44 (US); G03F7/70633 (US);
G03F7/70725 (EP,US)
Frühere IPC [2014/05]G03F7/20, H01L21/66
Benannte VertragsstaatenAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2014/05]
ErstreckungsstaatenBANoch nicht entrichtet
MENoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:VERFAHREN ZUR MESSUNG DER VERZERRUNG VON PROJEKTIONSOBJEKTIVEN[2014/05]
Englisch:METHOD FOR MEASURING DISTORTION OF PROJECTION OBJECTIVE[2014/05]
Französisch:PROCÉDÉ PERMETTANT DE MESURER UNE DISTORSION D'UN OBJECTIF DE PROJECTION[2014/05]
Eintritt in die regionale Phase12.09.2013Übersetzung eingereicht 
12.09.2013Nationale Grundgebühr entrichtet 
12.09.2013Recherchengebühr entrichtet 
12.09.2013Benennungsgebühr(en) entrichtet 
12.09.2013Prüfungsgebühr entrichtet 
Prüfungsverfahren12.09.2013Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung)
12.09.2013Prüfungsantrag gestellt  [2014/05]
04.05.2016Ankündigung der Patenterteilung
05.07.2016Erteilungsgebühr entrichtet
05.07.2016Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet
05.07.2016Eingang der Übersetzungen des Patentanspruchs/der Patentansprüche
Teilanmeldung(en)Das Datum des ersten Bescheids der Prüfungsabteilung zu der frühesten Anmeldung, zu der ein Bescheid ergangen ist , ist  04.05.2016
Einspruch (Einsprüche)18.05.2017Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [2017/30]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
24.03.2014Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
24.03.2015Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
25.03.2016Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts		 Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Erlöschen während des Einspruchsverfahrens  TooltipHU21.03.2012
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