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Neue Version des Europäischen Patentregisters – Angaben zu ESZ-Verfahren im Einheitspatentregister.

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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP2902759

EP2902759 - Sensorvorrichtung, Herstellungsverfahren für eine Sensorvorrichtung und Verfahren zum Ermitteln einer Information bezüglich einer Temperatur und/oder bezüglich einer Strahlung [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusAnmeldung zurückgewiesen
Status aktualisiert am  22.10.2018
Datenbank zuletzt aktualisiert am 17.09.2024
FrüherePrüfungsverfahren läuft
Status aktualisiert am  06.07.2018
Letztes Ereignis   Tooltip08.02.2019Zurückweisung der Anmeldungveröffentlicht am 13.03.2019  [2019/11]
AnmelderFür alle benannten Staaten
ROBERT BOSCH GMBH
Postfach 30 02 20
70442 Stuttgart / DE
[2015/32]
Erfinder01 / Utermoehlen, Fabian
Vogelsangstrasse 145b
70197 Stuttgart / DE
 [2015/32]
Anmeldenummer, Anmeldetag14195330.728.11.2014
[2015/32]
Prioritätsnummer, PrioritätstagDE20141020162030.01.2014         Ursprünglich veröffentlichtes Format: DE102014201620
[2015/32]
AnmeldespracheDE
VerfahrensspracheDE
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP2902759
Datum:05.08.2015
Sprache:DE
[2015/32]
Recherchenbericht(e)(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP26.06.2015
KlassifikationIPC:G01J5/04, G01J5/20
[2015/32]
CPC:
G01J5/20 (EP); G01J5/046 (EP)
Benannte VertragsstaatenAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2016/11]
Frühere [2015/32]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
ErstreckungsstaatenBANoch nicht entrichtet
MENoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:Sensorvorrichtung, Herstellungsverfahren für eine Sensorvorrichtung und Verfahren zum Ermitteln einer Information bezüglich einer Temperatur und/oder bezüglich einer Strahlung[2015/32]
Englisch:Sensor device, manufacturing method for a sensor device and method for determining an item of information relating to a temperature and/or relating to radiation[2015/32]
Französisch:Dispositif de capteur, procédé de fabrication pour un dispositif de capteur et procédé de détermination d'une information concernant une température et/ou un rayonnement[2015/32]
Prüfungsverfahren09.12.2015Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung)
05.02.2016Prüfungsantrag gestellt  [2016/11]
04.07.2018Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
19.09.2018Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung
23.10.2018Absendung der Mitteilung über die Zurückweisung der Anmeldung. Grund: Sachprüfung [2019/11]
02.11.2018Anmeldung zurückgewiesen, Datum der Rechtswirksamkeit [2019/11]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
30.11.2016Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
30.11.2017Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
Zuschlagsgebühr
Zuschlagsgebühr zur Jahresgebühr
30.11.201805   M06   Noch nicht entrichtet
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:Recherche[XYI]US2009321641  (PARK KUN SIK [KR], et al) [X] 1-3,10-13 * paragraphs [0003] , [0019] , [0020] , [0044] - [0048] - [0081] - [0084] * * figures 2,8A,8B * [Y] 6-8 [I] 4-7,14,15;
 [XI]JP2007225398  (MITSUBISHI ELECTRIC CORP) [X] 1,2,8-10 * paragraphs [0036] - [0040] * * figure 3 * [I] 4;
 [XI]EP2573530  (FRAUNHOFER GES FORSCHUNG [DE]) [X] 1,2,10 * paragraphs [0034] - [0036] * * figure 4 * [I] 4;
 [Y]US2012091342  (BERGER ISRAEL [IL], et al) [Y] 8 * paragraph [0049] * * figure 8 *
 [Y]  - CRESSLER J, "Re-engineering silicon: Si-Ge heterojunction bipolar technology", IEEE SPECTRUM, IEEE INC. NEW YORK, US, vol. 32, no. 3, doi:10.1109/6.367973, ISSN 0018-9235, (19950501), pages 49 - 55, (20020806), XP007923146 [Y] 6,7 * page 49, column l, paragraph 2 * * page 55, column l, paragraph 4 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/6.367973
vom AnmelderDE102006028435
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