EP2884547 - Verfahren zur Herstellung eines Fotodetektors [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt Status aktualisiert am 15.09.2017 Datenbank zuletzt aktualisiert am 17.09.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 17.07.2020 | Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat Neue Staaten: AL | veröffentlicht am 19.08.2020 [2020/34] | Anmelder | Für alle benannten Staaten Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives Bâtiment "Le Ponant D" 25, rue Leblanc 75015 Paris / FR | [2015/25] | Erfinder | 01 /
Hartmann, Jean-Michel 34. Cité Le Pruney 38420 Le Versoud / FR | 02 /
Bogumilowicz, Yann 24 bis rue Mallifaud 38100 Grenoble / FR | 03 /
Fedeli, Jean-Marc 2 boulevard de Jomardière 38120 Saint-Egrève / FR | [2015/25] | Vertreter | Talbot, Alexandre, et al Cabinet Hecké 28 Cours Jean Jaurès 38000 Grenoble / FR | [N/P] |
Frühere [2015/25] | Talbot, Alexandre, et al Cabinet Hecké Europole 10, rue d'Arménie - BP 1537 38025 Grenoble Cedex 1 / FR | Anmeldenummer, Anmeldetag | 14197696.9 | 12.12.2014 | [2015/25] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | FR20130002934 | 13.12.2013 Ursprünglich veröffentlichtes Format: FR 1302934 | [2015/25] | Anmeldesprache | FR | Verfahrenssprache | FR | Veröffentlichung | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | EP2884547 | Datum: | 17.06.2015 | Sprache: | FR | [2015/25] | Art: | B1 Patentschrift | Nr.: | EP2884547 | Datum: | 09.11.2016 | Sprache: | FR | [2016/45] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 15.04.2015 | Klassifikation | IPC: | H01L31/105, H01L31/18, G02B6/42, G02B6/12 | [2016/28] | CPC: |
H01L31/1804 (EP,US);
G02B6/12004 (EP,US);
H01L31/105 (EP,US);
Y02E10/547 (US);
Y02P70/50 (EP,US)
|
Frühere IPC [2015/25] | H01L31/105, G02B6/42 | Benannte Vertragsstaaten | AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR [2016/04] |
Frühere [2015/25] | AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Verfahren zur Herstellung eines Fotodetektors | [2015/25] | Englisch: | Method for manufacturing a photodetector | [2015/25] | Französisch: | Procédé de fabrication d'un photo-détecteur. | [2015/25] | Prüfungsverfahren | 16.12.2015 | Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung) | 16.12.2015 | Prüfungsantrag gestellt [2016/04] | 23.06.2016 | Ankündigung der Patenterteilung | 30.09.2016 | Erteilungsgebühr entrichtet | 30.09.2016 | Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet | 30.09.2016 | Eingang der Übersetzungen des Patentanspruchs/der Patentansprüche | Einspruch (Einsprüche) | 10.08.2017 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [2017/42] |
Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Erlöschen während des Einspruchsverfahrens Tooltip | HU | 12.12.2014 | AL | 09.11.2016 | AT | 09.11.2016 | CY | 09.11.2016 | CZ | 09.11.2016 | DK | 09.11.2016 | EE | 09.11.2016 | ES | 09.11.2016 | FI | 09.11.2016 | HR | 09.11.2016 | IT | 09.11.2016 | LT | 09.11.2016 | LV | 09.11.2016 | MC | 09.11.2016 | MK | 09.11.2016 | MT | 09.11.2016 | NL | 09.11.2016 | PL | 09.11.2016 | RO | 09.11.2016 | RS | 09.11.2016 | SE | 09.11.2016 | SI | 09.11.2016 | SK | 09.11.2016 | SM | 09.11.2016 | TR | 09.11.2016 | IE | 12.12.2016 | LU | 12.12.2016 | BE | 31.12.2016 | BG | 09.02.2017 | NO | 09.02.2017 | GR | 10.02.2017 | IS | 09.03.2017 | PT | 09.03.2017 | [2020/34] |
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Frühere [2017/12] | LV | 09.11.2016 | Angeführte Dokumente: | Recherche | [A]US2007104441 (AHN DONGHWAN [US], et al) [A] 1-7 * abstract * * page 4, paragraph 30 - page 5, paragraph 39 * * figures 1-3 *; | [A]US2011012221 (FUJIKATA JUNICHI [JP], et al) [A] 1-7 * page 12, paragraph 195 - page 16, paragraph 254 * * figures 7,8 *; | [A]US2012126286 (NA YUN-CHUNG N [US], et al) [A] 1-7* figure 1 *; | [AD] - REN S ET AL, "Thin Dielectric Spacer for the Monolithic Integration of Bulk Germanium or Germanium Quantum Wells With Silicon-on-Insulator Waveguides", IEEE PHOTONICS JOURNAL, IEEE, USA, (201108), vol. 3, no. 4, doi:10.1109/JPHOT.2011.2162644, ISSN 1943-0655, pages 739 - 747, XP011485120 [AD] 1-7 * page 741, paragraph 3 * * page 744, paragraphs 3,4 * * figures 1e,1f,4 * DOI: http://dx.doi.org/10.1109/JPHOT.2011.2162644 | vom Anmelder | - DE REN ET AL., "Thin Dielectric Spacer for the Monolithic Integration of Bulk Germanium or Germanium Quantum Wells With Silicon-on-Insulator Waveguides", IEEE PHOTONICS JOURNAL, (2011), vol. 3, no. 4, doi:doi:10.1109/JPHOT.2011.2162644, page 739, XP011485120 DOI: http://dx.doi.org/10.1109/JPHOT.2011.2162644 |