blank Kurzhilfe
blank Wartungsmeldungen

Geplante Wartungsarbeiten

Regelmäßige Unterbrechungen:
zwischen 5.00 und 5.15 Uhr MEZ (Montag bis Sonntag).

Andere Unterbrechungen
Verfügbarkeit

2022.02.11

Mehr...
blank Kurzmeldungen

Kurzmeldungen

Neue Version des Europäischen Patentregisters – Angaben zu ESZ-Verfahren im Einheitspatentregister.

2024-07-24

Mehr...
blank Themenbezogene Links

Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP3026694

EP3026694 - SIC HALBLEITERBAUELEMENT UND SEINE HERSTELLUNGSVERFAHREN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusAnmeldung zurückgenommen
Status aktualisiert am  30.12.2018
Datenbank zuletzt aktualisiert am 18.11.2024
FrüherePrüfungsverfahren läuft
Status aktualisiert am  07.09.2018
Letztes Ereignis   Tooltip30.12.2018Zurücknahme der Anmeldungveröffentlicht am 30.01.2019  [2019/05]
AnmelderFür alle benannten Staaten
Kabushiki Kaisha Toshiba
1-1, Shibaura 1-Chome Minato-Ku
Tokyo 105-8001 / JP
[2016/22]
Erfinder01 / NISHIO, Johji
c/o IP Div. Toshiba Corp. (K. K. TOSHIBA)
1-1, Shibaura 1-chome
Minato-ku
Tokyo 105-8001 / JP
02 / SHIMIZU, Tatsuo
c/o IP Div. Toshiba Corp. (K. K. TOSHIBA)
1-1, Shibaura 1-chome
Minato-ku
Tokyo 105-8001 / JP
03 / IIJIMA, Ryosuke
c/o IP Div. Toshiba Corp. (K. K. TOSHIBA)
1-1, Shibaura 1-chome
Minato-ku
Tokyo 105-8001 / JP
04 / OHASHI, Teruyuki
c/o IP Div. Toshiba Corp. (K. K. TOSHIBA)
1-1, Shibaura 1-chome
Minato-ku
Tokyo 105-8001 / JP
05 / TAKAO, Kazuto
c/o IP Div. Toshiba Corp. (K. K. TOSHIBA)
1-1, Shibaura 1-chome
Minato-ku
Tokyo 105-8001 / JP
06 / SHINOHE, Takashi
c/o Toshiba Research Consulting Corporation
1, Komukai Toshiba-cho
Saiwai-ku, Kawasaki
Kanagawa 212-8582 / JP
 [2016/22]
VertreterMoreland, David, et al
Marks & Clerk LLP The Beacon
176 St Vincent Street
Glasgow G2 5SG / GB
[N/P]
Frühere [2016/22]Moreland, David, et al
Marks & Clerk LLP
Aurora
120 Bothwell Street
Glasgow G2 7JS / GB
Anmeldenummer, Anmeldetag15176154.109.07.2015
[2016/22]
Prioritätsnummer, PrioritätstagJP2014023933226.11.2014         Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 2014239332
[2016/22]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP3026694
Datum:01.06.2016
Sprache:EN
[2016/22]
Recherchenbericht(e)(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP23.03.2016
KlassifikationIPC:H01L21/329, H01L29/861, H01L29/32, H01L29/24
[2016/22]
CPC:
H01L29/1608 (EP,US); H01L29/868 (US); H01L21/046 (US);
H01L29/32 (EP,US); H01L29/6606 (EP,US); H01L29/8611 (EP,US);
H01L29/66068 (EP,US); H01L29/7395 (EP,US) (-)
Benannte VertragsstaatenAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2016/22]
ErstreckungsstaatenBANoch nicht entrichtet
MENoch nicht entrichtet
Validierungsstaat(en)MANoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:SIC HALBLEITERBAUELEMENT UND SEINE HERSTELLUNGSVERFAHREN[2016/22]
Englisch:SIC SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHODS[2016/22]
Französisch:DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS EN SIC ET SES PROCÉDÉS DE FABRICATION[2016/22]
Prüfungsverfahren09.07.2015Prüfungsantrag gestellt  [2016/22]
01.12.2016Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung)
07.09.2018Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
20.12.2018Anmeldung vom Anmelder zurückgenommen  [2019/05]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
12.07.2017Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
11.07.2018Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:Recherche[XA]EP1883102  (CENTRAL RES INST ELECT [JP]);
 [A]US2011018005  (NAKANO YUKI [JP]);
 [A]US2014070230  (O'LOUGHLIN MICHAEL JOHN [US], et al);
PrüfungUS2012223333
Das EPA übernimmt keine Gewähr für die Richtigkeit von Daten, die aus anderen Behörden stammen, und schließt insbesondere jegliche Garantie dafür aus, dass solche Daten vollständig, aktuell oder für bestimmte Zwecke geeignet sind.