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Neue Version des Europäischen Patentregisters – Angaben zu ESZ-Verfahren im Einheitspatentregister.

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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP3201937

EP3201937 - ELEKTRONENSTRAHLSYSTEM [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusAnmeldung gilt als zurückgenommen
Status aktualisiert am  13.09.2019
Datenbank zuletzt aktualisiert am 17.09.2024
FrüherePrüfungsantrag gestellt
Status aktualisiert am  07.07.2017
FrühereVeröffentlichung bereits erfolgt
Status aktualisiert am  24.03.2017
Letztes Ereignis   Tooltip13.09.2019Anmeldung gilt als zurückgenommenveröffentlicht am 16.10.2019  [2019/42]
AnmelderFür alle benannten Staaten
COMET Technologies USA Inc.
100 Trap Falls Road EXT
Shelton CT 06484 / US
[2017/32]
Erfinder01 / GRUNWALD, Rily Carl
220 S. 27th Avenue
Eldridge, IA 52748 / US
02 / DRENTER, John Charles
22124 Territorial Road
Davenport, IA 52807 / US
 [2017/32]
VertreterWood, Graham
Bailey Walsh & Co LLP
1 York Place
Leeds, LS1 2DR / GB
[2017/32]
Anmeldenummer, Anmeldetag15846080.829.09.2015
[2017/32]
WO2015US52837
Prioritätsnummer, PrioritätstagUS20141450181530.09.2014         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US201414501815
[2017/32]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht
Nr.:WO2016053972
Datum:07.04.2016
Sprache:EN
[2016/14]
Art: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP3201937
Datum:09.08.2017
Sprache:EN
Die von der WIPO am 07.04.2016 in einer EPA-Amtssprache veröffentlichte Anmeldung tritt an die Stelle der Veröffentlichung der europäischen Patentanmeldung.
[2017/32]
Recherchenbericht(e)Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am:KR07.04.2016
(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP19.09.2018
KlassifikationIPC:H01J29/86
[2017/32]
CPC:
G21F3/00 (EP,US); G21F1/08 (EP,US); G21K5/10 (EP,US)
Benannte VertragsstaatenAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2017/32]
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:ELEKTRONENSTRAHLSYSTEM[2017/32]
Englisch:ELECTRON BEAM SYSTEM[2017/32]
Französisch:SYSTÈME À FAISCEAU D'ÉLECTRONS[2017/32]
Eintritt in die regionale Phase11.04.2017Nationale Grundgebühr entrichtet 
11.04.2017Recherchengebühr entrichtet 
11.04.2017Benennungsgebühr(en) entrichtet 
11.04.2017Prüfungsgebühr entrichtet 
Prüfungsverfahren11.04.2017Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung)
11.04.2017Prüfungsantrag gestellt  [2017/32]
11.04.2017Datum, an dem die Prüfungsabteilung zuständig geworden ist
21.11.2017Teilrechtsverlust, Datum der Rechtswirksamkeit: Ansprüche
16.01.2018Absendung der Mitteilung über einen Teilrechtsverlusts: Ansprüche {1}
19.04.2019Anmeldung gilt als zurückgenommen, Datum der Rechtswirksamkeit  [2019/42]
28.05.2019Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Erwiderung auf den erweiterten europäischen Recherchenbericht/schriftlichen Bescheid der internationalen Recherchenbehörde/internationalen vorläufigen Prüfungsbericht/ergänzenden internationalen Recherchenbericht nicht fristgerecht eingegangen  [2019/42]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
12.09.2017Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
11.09.2018Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:Recherche[Y]US2002018542  (FENKART GERHARD [CH], et al) [Y] 9* paragraphs [0198] - [0204] *;
 [IA]JP2004191307  (IWASAKI ELECTRIC CO LTD) [I] 1,3-5 * abstract * [A] 10,11;
 [XAYI]JP2005043665  (CANON KK) [X] 1,3-5,7,12,13 * abstract * * paragraphs [0010] - [0025] - [0027] , [0028] , [0030] , [0040] * [A] 10,11 [Y] 6,8,9 [I] 2,14,15;
 [Y]US2010230618  (DRENTER JOHN [US]) [Y] 6,8 * paragraph [0096] *
Internationale Recherche[XY]US2010230618  (DRENTER JOHN [US]) [X] 1-18, 20-26, 29-38 * See paragraphs [0040]-[0065], [0090]-[0124], claim 55 and figures 2A, 2B, 3B, 5B, 9A, 9G, 11B. * [Y] 19, 27, 28;
 [Y]US2005184256  (CHAUHAN SUNDEEP [US], et al) [Y] 19, 27, 28 * See paragraphs [0018]-[0031], claim 1 and figure 1. *;
 [A]US2010026161  (IIJIMA EIICHI [JP], et al) [A] 1-38 * See paragraphs [0044]-[0063], claim 1 and figure 1. *;
 [A]US2006124866  (HISATSUGU TOKUSHIGE [JP]) [A] 1-38 * See paragraphs [0033]-[0048], claim 1 and figure 1. *;
 [A]JP2005214709  (TDK CORP) [A] 1-38 * See paragraphs [0008]-[0047], claim 1 and figure 1. *
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