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EP3696750
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Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP3696750
| EP3696750 - SYSTEME UND METHODEN ZUR MUSTERERKENNUNG UND DATENANALYSE BEIM SCHWEISSEN UND SCHNEIDEN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Patent erteilt Status aktualisiert am 06.06.2025 Datenbank zuletzt aktualisiert am 26.03.2026 | |
| Frühere | Erteilung des Patents vorgesehen Status aktualisiert am 30.01.2025 | ||
| Frühere | Prüfungsverfahren läuft Status aktualisiert am 03.04.2021 | ||
| Frühere | Prüfungsantrag gestellt Status aktualisiert am 26.02.2021 | ||
| Frühere | Anmeldung veröffentlicht Status aktualisiert am 17.07.2020 | Letztes Ereignis Tooltip | 06.02.2026 | Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat Neue Staaten: ES | veröffentlicht am 11.03.2026 [2026/11] | Anmelder | Für alle benannten Staaten Lincoln Global, Inc. 9160 Norwalk Boulevard Santa Fe Springs, CA 90670 / US | [2020/34] | Erfinder | 01 /
Daniel, Joseph A. Lincoln 7946 North Gannett Road Sagamore Hills, OH 44067 / US | [2020/34] | Vertreter | Grosse Schumacher Knauer von Hirschhausen Patent- und Rechtsanwälte Schloss Schellenberg - Backhaus Renteilichtung 1 45134 Essen / DE | [2025/28] |
| Frühere [2020/34] | Grosse Schumacher Knauer von Hirschhausen Patent- und Rechtsanwälte Frühlingstrasse 43A 45133 Essen / DE | Anmeldenummer, Anmeldetag | 20157943.0 | 18.02.2020 | [2020/34] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | US201916278232 | 18.02.2019 Ursprünglich veröffentlichtes Format: US201916278232 | [2020/34] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | EP3696750 | Datum: | 19.08.2020 | Sprache: | EN | [2020/34] | Art: | B1 Patentschrift | Nr.: | EP3696750 | Datum: | 09.07.2025 | Sprache: | EN | [2025/28] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 07.05.2020 | Klassifikation | IPC: | G05B19/418, B23K31/12, B23K9/095, G05B23/02, G06Q10/06 | [2025/07] | CPC: |
G06Q10/06 (EP,US);
B23K9/095 (BR,KR,US);
G05B19/406 (KR);
B23K10/00 (CN);
B23K10/006 (CN);
B23K10/02 (CN);
B23K31/125 (EP,KR);
B23K9/013 (KR);
B23K9/0953 (EP);
B23K9/127 (KR);
B23K9/16 (KR);
B23Q17/0966 (BR);
G05B19/408 (KR);
G05B19/4183 (EP);
G05B23/0283 (EP);
G06F18/23 (KR,US);
G05B2219/45104 (EP);
G05B2219/45135 (KR);
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| Frühere IPC [2020/34] | G06Q10/06, B23K31/12, G05B23/02 | Benannte Vertragsstaaten | AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR [2021/13]
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| Frühere [2020/34] | AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | SYSTEME UND METHODEN ZUR MUSTERERKENNUNG UND DATENANALYSE BEIM SCHWEISSEN UND SCHNEIDEN | [2020/34] | Englisch: | SYSTEMS AND METHODS PROVIDING PATTERN RECOGNITION AND DATA ANALYSIS IN WELDING AND CUTTING | [2020/34] | Französisch: | SYSTÈMES ET PROCÉDÉS FOURNISSANT UNE RECONNAISSANCE DE MOTIF ET UNE ANALYSE DE DONNÉES DANS LE SOUDAGE ET LA DÉCOUPE | [2020/34] | Prüfungsverfahren | 19.02.2021 | Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung) | 19.02.2021 | Prüfungsantrag gestellt [2021/13] | 19.02.2021 | Datum, an dem die Prüfungsabteilung zuständig geworden ist | 08.04.2021 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M06) | 18.10.2021 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 31.03.2023 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M06) | 17.04.2023 | Absage der mündlichen Verhandlung die für den 25.04.2023 geplant war | 25.04.2023 | Termin der mündlichen Verhandlung (abgesagt) | 10.10.2023 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 31.01.2025 | Ankündigung der Patenterteilung | 02.06.2025 | Erteilungsgebühr entrichtet | 02.06.2025 | Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet | 02.06.2025 | Eingang der Übersetzungen des Patentanspruchs/der Patentansprüche | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 17.02.2022 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 15.02.2023 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 | 23.02.2024 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05 | 24.02.2025 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Erlöschen während des Einspruchsverfahrens Tooltip | ES | 09.07.2025 | HR | 09.07.2025 | PL | 09.07.2025 | NO | 09.10.2025 | RS | 09.10.2025 | GR | 10.10.2025 | IS | 09.11.2025 | [2026/11] |
| Frühere [2026/10] | HR | 09.07.2025 | |
| PL | 09.07.2025 | ||
| NO | 09.10.2025 | ||
| RS | 09.10.2025 | ||
| GR | 10.10.2025 | ||
| IS | 09.11.2025 | ||
| Frühere [2026/09] | HR | 09.07.2025 | |
| NO | 09.10.2025 | ||
| GR | 10.10.2025 | ||
| IS | 09.11.2025 | ||
| Frühere [2026/08] | HR | 09.07.2025 | |
| NO | 09.10.2025 | ||
| IS | 09.11.2025 | ||
| Frühere [2026/07] | IS | 09.11.2025 | Angeführte Dokumente: | Recherche | [I] US2017032281 (HSU CHRISTOPHER et al.) | [I] US2013075380 (ALBRECH BRUCE PATRICK et al.) [I] 1-15 * figures 1-9 * * paragraph [0064] * * paragraph [0087] * * paragraph [0100] * * claims 1-33 * | [A] WO2014143532 (ILLINOIS TOOL WORKS et al.) [A] 1-15 * figures 1-9 * * claims 1-25 * | [A] YUAN BAO ET AL: "Massive sensor data management framework in Cloud manufacturing based on Hadoop", INDUSTRIAL INFORMATICS (INDIN), 2012 10TH IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON, IEEE, 25 July 2012 (2012-07-25), pages 397 - 401, XP032235317, ISBN: 978-1-4673-0312-5, DOI: 10.1109/INDIN.2012.6301192 DOI: http://dx.doi.org/10.1109/INDIN.2012.6301192 | vom Anmelder | US8224881 |