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EP3920251
Europäisches Verfahren
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Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP3920251
| EP3920251 - QUANTENPUNKTVORRICHTUNG UND QUANTENPUNKTANZEIGEVORRICHTUNG [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Prüfungsverfahren läuft Status aktualisiert am 26.01.2024 Datenbank zuletzt aktualisiert am 04.11.2024 | |
| Frühere | Prüfungsantrag gestellt Status aktualisiert am 18.03.2022 | ||
| Frühere | Anmeldung veröffentlicht Status aktualisiert am 05.11.2021 | Letztes Ereignis Tooltip | 21.05.2024 | Neuer Eintrag: Erwiderung auf den Prüfungsbericht | Anmelder | Für alle benannten Staaten Samsung Electronics Co., Ltd. 129, Samsung-ro Yeongtong-gu Suwon-si, Gyeonggi-do 16677 / KR | [N/P] |
| Frühere [2021/49] | Für alle benannten Staaten Samsung Electronics Co., Ltd. 129, Samsung-ro Yeongtong-gu Gyeonggi-do Suwon-si 16677 / KR | Erfinder | 01 /
CHUNG, Dae Young Gyeonggi-do / KR | 02 /
SEO, Hongkyu Gyeonggi-do / KR | 03 /
LEE, Yeonkyung Gyeonggi-do / KR | 04 /
JANG, Eun Joo Gyeonggi-do / KR | [2021/49] | Vertreter | Elkington and Fife LLP Prospect House 8 Pembroke Road Sevenoaks, Kent TN13 1XR / GB | [2021/49] | Anmeldenummer, Anmeldetag | 21172213.7 | 05.05.2021 | [2021/49] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | KR20200066616 | 02.06.2020 Ursprünglich veröffentlichtes Format: KR 20200066616 | [2021/49] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht | Nr.: | EP3920251 | Datum: | 08.12.2021 | Sprache: | EN | [2021/49] | Art: | A3 Recherchenbericht | Nr.: | EP3920251 | Datum: | 16.03.2022 | Sprache: | EN | [2022/11] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 14.02.2022 | Klassifikation | IPC: | H01L51/50, H01L51/52, H01L27/32 | [2021/49] | CPC: |
H10K59/35 (EP);
H01L33/04 (KR);
H10K50/115 (EP,CN);
H01L33/50 (KR);
H10K50/15 (EP,CN);
H10K50/17 (EP);
H10K50/852 (EP);
H10K59/876 (EP,CN,KR);
H10K2102/3026 (EP);
H10K2102/351 (EP);
H10K50/16 (EP);
H10K50/171 (EP);
H10K50/818 (EP);
H10K50/828 (EP);
H10K59/80518 (EP,CN,KR);
H10K59/80524 (EP,CN,KR)
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| Benannte Vertragsstaaten | AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR [2022/16] |
| Frühere [2021/49] | AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR | Erstreckungsstaaten | BA | Noch nicht entrichtet | ME | Noch nicht entrichtet | Validierungsstaat(en) | KH | Noch nicht entrichtet | MA | Noch nicht entrichtet | MD | Noch nicht entrichtet | TN | Noch nicht entrichtet | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | QUANTENPUNKTVORRICHTUNG UND QUANTENPUNKTANZEIGEVORRICHTUNG | [2021/49] | Englisch: | QUANTUM DOT DEVICE AND QUANTUM DOT DISPLAY DEVICE | [2021/49] | Französisch: | DISPOSITIF À POINTS QUANTIQUES ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE À POINTS QUANTIQUES | [2021/49] | Prüfungsverfahren | 16.03.2022 | Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung) | 16.03.2022 | Prüfungsantrag gestellt [2022/16] | 16.03.2022 | Datum, an dem die Prüfungsabteilung zuständig geworden ist | 29.01.2024 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04) | 20.05.2024 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 14.03.2023 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 13.03.2024 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [A]CN110400890 (CHANGCHUN INST OPTICS FINE MECH & PHYSICS CAS) [A] 1-14* page 5 - page 11; figures 1,2,7 *; | [Y]EP3656833 (SAMSUNG DISPLAY CO LTD [KR]) [Y] 13 * paragraphs [0200] , [0203]; figure 3 *; | [XAYI] - LIU SHIHAO ET AL, "Top-emitting quantum dots light-emitting devices employing microcontact printing with electricfield-independent emission", SCIENTIFIC REPORTS, (20160302), vol. 6, no. 1, doi:10.1038/srep22530, XP055821260 [X] 1,7,9,11,12 * page 1 - page 6; figures 1,3,5; table 1 * [A] 4-6 [Y] 2,3,8,10,13 [I] 14 DOI: http://dx.doi.org/10.1038/srep22530 | [Y] - LIU GUOHONG ET AL, "Very Bright and Efficient Microcavity Top-Emitting Quantum Dot Light-Emitting Diodes with Ag Electrodes", APPLIED MATERIALS & INTERFACES, US, (20160624), vol. 8, no. 26, doi:10.1021/acsami.6b03367, ISSN 1944-8244, pages 16768 - 16775, XP055846389 [Y] 2,8 * figure 1; table 1 * DOI: http://dx.doi.org/10.1021/acsami.6b03367 | [Y] - LI DONG ET AL, "Enhanced Efficiency of InP-Based Red Quantum Dot Light-Emitting Diodes", APPLIED MATERIALS & INTERFACES, US, (20190823), vol. 11, no. 37, doi:10.1021/acsami.9b07437, ISSN 1944-8244, pages 34067 - 34075, XP055832908 [Y] 3,10 * page 34068 - page 34069; figures 1b, 2, 4 * DOI: http://dx.doi.org/10.1021/acsami.9b07437 | [A] - WHALEN M. S. ET AL, "Index of refraction of n -type InP at 0.633- and 1.15-[mu]m wavelengths as a function of carrier concentration", JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, US, (19820601), vol. 53, no. 6, doi:10.1063/1.331213, ISSN 0021-8979, pages 4340 - 4343, XP055847125 [A] 3 * page 4342 - page 4343; figure 5 * DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.331213 | [A] - ZHANG DONG-YAN ET AL, "First-principles simulation and experimental evidence for improvement of transmittance in ZnO films", PROGRESS IN NATURAL SCIENCE, (20120316), vol. 21, no. 1, doi:10.1016/S1002-0071(12)60023-9, ISSN 1002-0071, pages 40 - 45, XP028908243 [A] 3 * page 43 - page 44; figure 5 * DOI: http://dx.doi.org/10.1016/S1002-0071(12)60023-9 |