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Neue Version des Europäischen Patentregisters – Angaben zu ESZ-Verfahren im Einheitspatentregister.

2024-07-24

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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP4195249

EP4195249 - INTEGRIERTE SCHALTUNGSSTRUKTUREN MIT GATE-CUT-OFFSET [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusPrüfungsantrag gestellt
Status aktualisiert am  22.12.2023
Datenbank zuletzt aktualisiert am 04.11.2024
FrühereAnmeldung veröffentlicht
Status aktualisiert am  12.05.2023
Letztes Ereignis   Tooltip28.10.2024Neuer Eintrag: Jahresgebühr entrichtet 
AnmelderFür alle benannten Staaten
INTEL Corporation
2200 Mission College Blvd.
Santa Clara, CA 95054 / US
[2023/24]
Erfinder01 / YEMENICIOGLU, Sukru
Portland, 97229 / US
02 / WANG, Xinning
Hillsboro, 97124 / US
03 / GARDINER, Allen
Portland, 97229 / US
04 / GHANI, Tahir
Portland, 97229 / US
05 / HARAN, Mohit
Hilsboro, 97124 / US
06 / GULER, Leonard P.
Hillsboro, 97124 / US
 [2023/24]
Vertreter2SPL Patentanwälte PartG mbB
Landaubogen 3
81373 München / DE
[2023/24]
Anmeldenummer, Anmeldetag22206268.909.11.2022
[2023/24]
Prioritätsnummer, PrioritätstagUS20211754953013.12.2021         Ursprünglich veröffentlichtes Format: US202117549530
[2023/24]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP4195249
Datum:14.06.2023
Sprache:EN
[2023/24]
Recherchenbericht(e)(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP08.05.2023
KlassifikationIPC:H01L21/8234, H01L27/088, H01L29/06, H01L29/66, H01L29/775, H01L29/786
[2023/24]
CPC:
H01L21/823456 (EP); H01L27/0886 (EP,CN); H01L27/092 (US);
H01L21/02603 (US); H01L21/823431 (EP,CN); H01L21/823437 (CN);
H01L21/823481 (EP); H01L21/823807 (US); H01L21/823821 (CN);
H01L21/823828 (CN); H01L21/823871 (US); H01L27/0924 (CN);
H01L29/0673 (EP,US); H01L29/42392 (EP,US); H01L29/66439 (EP,US);
H01L29/66545 (EP,US); H01L29/66553 (US); H01L29/66742 (US);
H01L29/775 (EP,US); H01L29/78696 (EP,US); B82Y10/00 (EP) (-)
Benannte VertragsstaatenAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   ME,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2024/04]
Frühere [2023/24]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  ME,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
ErstreckungsstaatenBANoch nicht entrichtet
Validierungsstaat(en)KHNoch nicht entrichtet
MANoch nicht entrichtet
MDNoch nicht entrichtet
TNNoch nicht entrichtet
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:INTEGRIERTE SCHALTUNGSSTRUKTUREN MIT GATE-CUT-OFFSET[2023/24]
Englisch:INTEGRATED CIRCUIT STRUCTURES HAVING GATE CUT OFFSET[2023/24]
Französisch:STRUCTURES DE CIRCUIT INTÉGRÉ AYANT UN DÉCALAGE DE COUPURE DE GRILLE[2023/24]
Prüfungsverfahren28.11.2023Änderung durch den Anmelder (Ansprüche und/oder Beschreibung)
14.12.2023Prüfungsantrag gestellt  [2024/04]
14.12.2023Datum, an dem die Prüfungsabteilung zuständig geworden ist
Entrichtete GebührenJahresgebühr
28.10.2024Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:Recherche[A]US2020020795  (BAO JUNJING [US], et al) [A] 1-15 * paragraphs [0010] , [0 11] ** figures 1A, 1B *;
 [XYI]US2021020644  (PAUL BIPUL C [US], et al) [X] 15 * paragraphs [0004] , [0 32] - [0052] - [0 57] - [0060] - [0 64] * * figures 1-9, 13, 14 * [Y] 13 [I] 1-12,14;
 [XAI]WO2021009579  (IBM [US], et al) [X] 15 * paragraphs [0027] , [0 29] , [0 58] - [0063] - [0 83] * * figures 1B, 11, 14 * [A] 13 [I] 1-12,14;
 [Y]US2021305244  (BOUCHE GUILLAUME [US], et al) [Y] 13 * paragraphs [0040] - [0108] * * figures 40-42 *
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