-
EP0297669
Europäisches Verfahren
Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP0297669
| EP0297669 - Verfahren zur Messung der von einer Reflexionsstelle reflektierten optischen Strahlung [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt Status aktualisiert am 11.11.1995 Datenbank zuletzt aktualisiert am 04.11.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 11.11.1995 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt | veröffentlicht am 03.01.1996 [1996/01] | Anmelder | Für:DE
Philips Corporate Intellectual Property GmbH Habsburgerallee 11 52064 Aachen / DE | Für:FR
GB
IT
SE
Koninklijke Philips Electronics N.V. Groenewoudseweg 1 5621 BA Eindhoven / NL | [N/P] |
| Frühere [1989/01] | Für:DE
Philips Patentverwaltung GmbH Röntgenstrasse 24 D-22335 Hamburg / DE | ||
| Für:FR
GB
IT
SE
Philips Electronics N.V. Groenewoudseweg 1 NL-5621 BA Eindhoven / NL | Erfinder | 01 /
Esser, Hildegard Birresbornerstrasse 55 D-5000 Köln 41 / DE | 02 /
Grzesik, Ulrich, Dr. Dipl.-Phys. August Kierspel-Strasse 161 D-5060 Bergisch Gladbach 2 / DE | [1989/01] | Vertreter | Hartmann, Heinrich, et al Philips Corporate Intellectual Property GmbH, Habsburgerallee 11 52064 Aachen / DE | [N/P] |
| Frühere [1995/14] | Hartmann, Heinrich, Dipl.-Ing., et al Philips Patentverwaltung GmbH, Röntgenstrasse 24 D-22335 Hamburg / DE | ||
| Frühere [1989/01] | Koch, Ingo, Dr.-Ing. Philips Patentverwaltung GmbH, Wendenstrasse 35c D-20097 Hamburg / DE | Anmeldenummer, Anmeldetag | 88201323.8 | 27.06.1988 | [1989/01] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | DE19873721823 | 02.07.1987 Ursprünglich veröffentlichtes Format: DE 3721823 | [1989/01] | Anmeldesprache | DE | Verfahrenssprache | DE | Veröffentlichung | Art: | A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht | Nr.: | EP0297669 | Datum: | 04.01.1989 | Sprache: | DE | [1989/01] | Art: | A3 Recherchenbericht | Nr.: | EP0297669 | Datum: | 06.02.1991 | Sprache: | DE | [1991/06] | Art: | B1 Patentschrift | Nr.: | EP0297669 | Datum: | 11.01.1995 | Sprache: | DE | [1995/02] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 17.12.1990 | Klassifikation | IPC: | G01N21/47, G01M11/00 | [1990/52] | CPC: |
G01M11/3145 (EP,US)
|
| Frühere IPC [1989/01] | G01N21/47 | Benannte Vertragsstaaten | DE, FR, GB, IT, SE [1989/01] | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Verfahren zur Messung der von einer Reflexionsstelle reflektierten optischen Strahlung | [1989/01] | Englisch: | Method for measuring a reflected optical radiation | [1989/01] | Französisch: | Procédé pour mesurer un rayonnement optique réfléchi | [1989/01] | Prüfungsverfahren | 01.08.1991 | Prüfungsantrag gestellt [1991/39] | 11.03.1993 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04) | 28.04.1993 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 22.03.1994 | Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: Ja) | 30.06.1994 | Ankündigung der Patenterteilung | 03.10.1994 | Erteilungsgebühr entrichtet | 03.10.1994 | Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet | Einspruch (Einsprüche) | 12.10.1995 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [1996/01] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 26.06.1990 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 27.06.1991 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 | 29.06.1992 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05 | 28.06.1993 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06 | 28.06.1994 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 07 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [A]EP0210341 (CSELT CENTRO STUDI LAB TELECOM [IT]) | [Y] - NACHRICHTENTECHNISCHE BERICHTE Heft 3, Dezember 1986, Seiten 61-72; W.E. FREYHARDT et al.: "Prinzipien und Anwendungsbeispiele der optischen Messtechnik" | [Y] - ELEKTRONIK Band 35, Nr. 21, Oktober 1986, Seiten 121,122,125-128; H.-P. SIEBERT: "Messungen und Prüfungen an LWL-Bauelementen" | [A] - J.E.E. JOURNAL OF ELECTRONIC ENGINEERING Band 23, Nr. 236, August 1986, Seiten 62-65, Tokyo, JP; K. KITAGAWA: "OTDR Makes Breakthrough In Accuracy and Dynamic Range" |