Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP0347912

EP0347912 - Deformationsmessverfahren und Vorrichtung, die die Kreuzkorrelationsfunktion zwischen Speckle-Bildern benützt [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusKein Einspruch fristgerecht eingelegt
Status aktualisiert am  24.12.1993
Datenbank zuletzt aktualisiert am 08.04.2026
Letztes Ereignis   Tooltip24.12.1993Kein Einspruch fristgerecht eingelegtveröffentlicht am 16.02.1994 [1994/07]
AnmelderFür alle benannten Staaten
HAMAMATSU PHOTONICS KABUSHIKI KAISHA
1126-1 Ichino-cho
Hamamatsu-shi, Shizuoka 435-8558 / JP
[N/P]
Frühere [1993/08]Für alle benannten Staaten
HAMAMATSU PHOTONICS KABUSHIKI KAISHA
1126-1 Ichino-cho Hamamatsu-shi
Shizuoka / JP
Frühere [1989/52]Für alle benannten Staaten
HAMAMATSU PHOTONICS K.K.
1126-1 Ichino-cho Hamamatsu-shi
Shizuoka-ken / JP
Erfinder01 / Takemori, Tamiki
c/o Hamamatsu Photonics K.K. No.1126-1, Ichino-cho
Hamamatsu-shi Shizuoka / JP
[1989/52]
VertreterGrünecker Patent- und Rechtsanwälte PartG mbB
Leopoldstrasse 4
80802 München / DE
[N/P]
Frühere [1989/52]Grünecker, Kinkeldey, Stockmair & Schwanhäusser Anwaltssozietät
Maximilianstrasse 58
D-80538 München / DE
Anmeldenummer, Anmeldetag89111389.622.06.1989
[1989/52]
Prioritätsnummer, PrioritätstagJP1988015429822.06.1988         Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 15429888
JP1988017835218.07.1988         Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 17835288
[1989/52]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht 
Nr.:EP0347912
Datum:27.12.1989
Sprache:EN
[1989/52]
Art: A3 Recherchenbericht 
Nr.:EP0347912
Datum:04.07.1990
Sprache:EN
[1990/27]
Art: B1 Patentschrift 
Nr.:EP0347912
Datum:24.02.1993
Sprache:EN
[1993/08]
Recherchenbericht(e)(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP14.05.1990
KlassifikationIPC:G01B11/16
[1989/52]
CPC:
G01B11/162 (EP,US)
Benannte VertragsstaatenDE,   GB [1989/52]
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:Deformationsmessverfahren und Vorrichtung, die die Kreuzkorrelationsfunktion zwischen Speckle-Bildern benützt[1989/52]
Englisch:Deformation measuring method and device using cross-correlation function between speckle patterns[1989/52]
Französisch:Procédé de mesure de déformations et appareil utilisant la fonction de corrélation croisée entre images-speckle[1989/52]
Prüfungsverfahren08.06.1990Prüfungsantrag gestellt  [1990/32]
06.06.1991Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M06)
16.12.1991Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung
08.04.1992Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: Ja)
24.07.1992Ankündigung der Patenterteilung
12.10.1992Erteilungsgebühr entrichtet
12.10.1992Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet
Einspruch (Einsprüche)25.11.1993Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [1994/07]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
28.06.1991Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
30.06.1992Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:Recherche[A] JP62150111  
 [A] JP61240105  
 [A] JP59212773  
 [A]   PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 011383, no. (P-646), 15th December 1987; & JP-A-62 150 111 (MITSUBISHI HEAVY IND. LTD) 04-07-1957 [A]
 [A]   PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 011057, no. (P-557), 17th March 1957; & JP-A-61 240 105 (HITACHI LTD) 25-10-1986 [A]
 [A]   OPTICAL ENGINEERING, vol. 25, no. 5, May 1986, pages 671-675, Bellingham, Washington, US; YAMAGUCHI et al.: "Accelerated laser speckle strain gauge" [A]
 [A]   PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 009083, no. (P-348), 12th April 1985; & JP-A-59 212 773 (TOSHIBA K.K.) 01-12-1984 [A]
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