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EP0415440
Europäisches Verfahren
Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP0415440
| EP0415440 - Gerät zum Messen der Lichtleistung eines lichtemittierenden Halbleiterelements [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt Status aktualisiert am 13.08.1994 Datenbank zuletzt aktualisiert am 14.08.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 13.08.1994 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt | veröffentlicht am 05.10.1994 [1994/40] | Anmelder | Für alle benannten Staaten Kabushiki Kaisha Toshiba 72, Horikawa-cho, Saiwai-ku Kawasaki-shi Kanagawa 212-8572 / JP | [N/P] |
| Frühere [1991/10] | Für alle benannten Staaten Kabushiki Kaisha Toshiba 72, Horikawa-cho Saiwai-ku Kawasaki-shi / JP | Erfinder | 01 /
Tanaka, Toshiaki, c/o Intellectual Property Div. Kabushiki Kaisha Toshiba, 1-1 Shibaura 1-chome Minato-ku, Tokyo 105 / JP | [1991/10] | Vertreter | Lehn, Werner, et al Hoffmann Eitle, Patent- und Rechtsanwälte, Postfach 81 04 20 81904 München / DE | [N/P] |
| Frühere [1991/10] | Lehn, Werner, Dipl.-Ing., et al Hoffmann, Eitle & Partner, Patentanwälte, Postfach 81 04 20 D-81904 München / DE | Anmeldenummer, Anmeldetag | 90116757.7 | 31.08.1990 | [1991/10] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | JP19890222957 | 31.08.1989 Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 22295789 | [1991/10] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht | Nr.: | EP0415440 | Datum: | 06.03.1991 | Sprache: | EN | [1991/10] | Art: | A3 Recherchenbericht | Nr.: | EP0415440 | Datum: | 18.09.1991 | Sprache: | EN | [1991/38] | Art: | B1 Patentschrift | Nr.: | EP0415440 | Datum: | 13.10.1993 | Sprache: | EN | [1993/41] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 30.07.1991 | Klassifikation | IPC: | G01J1/42 | [1991/10] | CPC: |
G01J1/42 (EP,US);
G01J3/42 (KR);
G01J2001/4252 (EP,US);
G01J2001/446 (EP,US)
| Benannte Vertragsstaaten | DE, FR, GB [1991/10] | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Gerät zum Messen der Lichtleistung eines lichtemittierenden Halbleiterelements | [1991/10] | Englisch: | Apparatus for measuring light output from semiconductor light emitting element | [1991/10] | Französisch: | Appareil pour mesurer le flux lumineux d'un élément semi-conducteur émittant de la lumière | [1991/10] | Prüfungsverfahren | 31.08.1990 | Prüfungsantrag gestellt [1991/10] | 11.12.1992 | Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: Ja) | 26.03.1993 | Ankündigung der Patenterteilung | 23.06.1993 | Erteilungsgebühr entrichtet | 23.06.1993 | Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet | Einspruch (Einsprüche) | 14.07.1994 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [1994/40] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 10.08.1992 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 11.08.1993 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [A]JP62278423 ; | [X]DD118942 ; | [A]DE3328899 (NUKEM GMBH [DE]) | [A] - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 12, no. 163 (P-703)(3010), 18 May 1988; & JP - A - 62278423 (MITSUBISHI) 03.12.1987, & JP62278423 A 19880518 |