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EP0380412
Europäisches Verfahren
Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP0380412
| EP0380412 - Verfahren und Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren des Gewichts einer Schicht [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt Status aktualisiert am 22.03.1996 Datenbank zuletzt aktualisiert am 26.07.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 30.11.2007 | Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat Aktualisierte Staaten: FR | veröffentlicht am 02.01.2008 [2008/01] | Anmelder | Für alle benannten Staaten MEASUREX CORPORATION One Results Way Cupertino, California 95014 / US | [1990/31] | Erfinder | 01 /
Howarth, John J. 870 Weston Road Scottsvalley, California 95066 / US | [1990/37] |
| Frühere [1990/31] | 01 /
Howarth, John J. 15401 Winchester Blvd. Monte Sereno, California / US | Vertreter | Dubois-Chabert, Guy, et al BREVALEX 3, rue du Docteur Lanceraux 75008 Paris / FR | [N/P] |
| Frühere [1995/10] | Dubois-Chabert, Guy, et al Société de Protection des Inventions 25, rue de Ponthieu F-75008 Paris / FR | ||
| Frühere [1990/31] | Mongrédien, André c/o SOCIETE DE PROTECTION DES INVENTIONS 25, rue de Ponthieu F-75008 Paris / FR | Anmeldenummer, Anmeldetag | 90400204.5 | 24.01.1990 | [1990/31] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | US19890303451 | 27.01.1989 Ursprünglich veröffentlichtes Format: US 303451 | [1990/31] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht | Nr.: | EP0380412 | Datum: | 01.08.1990 | Sprache: | EN | [1990/31] | Art: | A3 Recherchenbericht | Nr.: | EP0380412 | Datum: | 20.03.1991 | Sprache: | EN | [1991/12] | Art: | B1 Patentschrift | Nr.: | EP0380412 | Datum: | 17.05.1995 | Sprache: | EN | [1995/20] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 28.01.1991 | Klassifikation | IPC: | G01B11/06 | [1990/31] | CPC: |
B05C1/0869 (EP,US);
B05C1/0826 (EP,US);
B05C11/02 (EP,US);
B05C3/18 (EP,US);
G01B11/0616 (EP,US)
| Benannte Vertragsstaaten | DE, FR, GB, IT, SE [1990/31] | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Verfahren und Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren des Gewichts einer Schicht | [1990/31] | Englisch: | Coating weight measuring and control apparatus and method | [1990/31] | Französisch: | Procédé et appareil pour mesurer et contrôler le poids d'une couche appliquée | [1990/31] | Prüfungsverfahren | 22.08.1991 | Prüfungsantrag gestellt [1991/42] | 20.10.1992 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M06) | 19.04.1993 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 07.07.1993 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04) | 02.11.1993 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 10.01.1994 | Absendung der Mitteilung über die Zurückweisung der Anmeldung. Grund: Sachprüfung {1} | 08.07.1994 | Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: Nein) | 09.11.1994 | Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: späteres Einverständnis) | 17.11.1994 | Ankündigung der Patenterteilung | 16.01.1995 | Erteilungsgebühr entrichtet | 16.01.1995 | Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet | Beschwerde im Anschluss an die Prüfung | 16.03.1994 | Beschwerde eingegangen | 05.05.1994 | Begründung eingereicht | 27.05.1994 | Abhilfe der Beschwerde | Einspruch (Einsprüche) | 20.02.1996 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [1996/19] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 17.12.1991 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 14.12.1992 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 | 22.12.1993 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05 | 27.12.1994 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Erlöschen während des Einspruchsverfahrens Tooltip | FR | 17.05.1995 | IT | 17.05.1995 | SE | 17.08.1995 | GB | 24.01.1996 | [2006/14] |
| Frühere [1999/42] | IT | 17.05.1995 | |
| SE | 17.08.1995 | ||
| FR | 13.10.1995 | ||
| GB | 24.01.1996 | ||
| Frühere [1997/14] | SE | 17.08.1995 | |
| FR | 13.10.1995 | ||
| GB | 24.01.1996 | ||
| Frühere [1996/16] | SE | 17.08.1995 | |
| FR | 13.10.1995 | ||
| Frühere [1996/04] | SE | 17.08.1995 | Angeführte Dokumente: | Recherche | [A]JP61120004 ; | [X]US4789820 (PARRENT JR GEORGE B [US], et al); | [X]US4243882 (YASUJIMA AKITAKA, et al); | [A]US4006358 (HOWARTH JOHN J); | [A]US3801349 (WILSON W, et al); | [A]EP0137696 (WIGGINS TEAPE GROUP LTD [GB]); | [A]US3525863 (CONSTANTINE NIKIFOROS, et al) | [X] - REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, vol. 54, no. 6, June 1983, pages 690-694, American Institute of Physics, New York, US; K. TAKAMI et al.: "Thickness measurement method for thin photoresist film on transparent material" | [A] - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, vol. 10, no. 305 (P-507)[2361], 17th October 1986; & JP-A-61 120 004 (TOSHIBA ELECTRON SYST. K.K.) 07-06-1986, & JP61120004 A 00000000 |