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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP0533589

EP0533589 - Halbleitervorrichtung [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
StatusKein Einspruch fristgerecht eingelegt
Status aktualisiert am  02.07.1999
Datenbank zuletzt aktualisiert am 17.09.2024
Letztes Ereignis   Tooltip02.07.1999Kein Einspruch fristgerecht eingelegtveröffentlicht am 18.08.1999 [1999/33]
AnmelderFür alle benannten Staaten
FUJITSU LIMITED
1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku Kawasaki-shi
Kanagawa 211 / JP
[N/P]
Frühere [1993/12]Für alle benannten Staaten
FUJITSU LIMITED
1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku
Kawasaki-shi, Kanagawa 211 / JP
Erfinder01 / Ogawa, Junji, c/o Fujitsu Limited
1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku
Kawasaki-shi, Kanagawa, 211 / JP
02 / Takita, Masato, c/o Fujitsu Limited
1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku
Kawasaki-shi, Kanagawa, 211 / JP
[1993/12]
VertreterJoly, Jean-Jacques, et al
Cabinet Beau de Loménie
158, rue de l'Université
75340 Paris cedex 07 / FR
[N/P]
Frühere [1993/12]Joly, Jean-Jacques, et al
Cabinet Beau de Loménie 158, rue de l'Université
F-75340 Paris Cédex 07 / FR
Anmeldenummer, Anmeldetag92402587.721.09.1992
[1993/12]
Prioritätsnummer, PrioritätstagJP1991024104520.09.1991         Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 24104591
[1993/12]
AnmeldespracheEN
VerfahrensspracheEN
VeröffentlichungArt: A1 Anmeldung mit Recherchenbericht 
Nr.:EP0533589
Datum:24.03.1993
Sprache:EN
[1993/12]
Art: B1 Patentschrift 
Nr.:EP0533589
Datum:26.08.1998
Sprache:EN
[1998/35]
Recherchenbericht(e)(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:EP06.01.1993
KlassifikationIPC:H01L23/495, H01L23/50
[1993/12]
CPC:
H01L24/06 (EP,US); H01L23/50 (EP,KR,US); H01L23/4951 (EP,US);
H01L24/49 (EP,US); H01L2224/04042 (EP,US); H01L2224/05554 (EP,US);
H01L2224/05624 (EP,US); H01L2224/06136 (EP,US); H01L2224/32245 (EP,US);
H01L2224/45144 (EP,US); H01L2224/48091 (EP,US); H01L2224/4813 (EP,US);
H01L2224/48247 (EP,US); H01L2224/4826 (EP,US); H01L2224/48624 (EP,US);
H01L2224/49175 (EP,US); H01L2224/73215 (EP,US); H01L24/45 (EP,US);
H01L24/48 (EP,US); H01L2924/01013 (EP,US); H01L2924/01079 (EP,US);
H01L2924/13091 (EP,US); H01L2924/181 (EP,US); H01L2924/1815 (EP,US);
H01L2924/19107 (EP,US); H01L2924/30105 (EP,US); H01L2924/30107 (EP,US);
H01L2924/3011 (EP,US) (-)
C-Set:
H01L2224/05624, H01L2924/00014 (US,EP);
H01L2224/45144, H01L2924/00015 (EP,US);
H01L2224/48091, H01L2924/00014 (US,EP);
H01L2224/4826, H01L2224/49175, H01L2924/00 (EP,US);
H01L2224/48624, H01L2924/00, H01L2224/4826, H01L2924/00012 (US,EP);
H01L2224/49175, H01L2224/48247, H01L2924/00 (US,EP);
H01L2224/73215, H01L2224/32245, H01L2224/4826, H01L2924/00012 (EP,US);
H01L2924/13091, H01L2924/00 (EP,US);
H01L2924/181, H01L2924/00012 (EP,US)
(-)
Benannte VertragsstaatenDE,   FR,   GB,   IT [1993/12]
Bezeichnung der ErfindungDeutsch:Halbleitervorrichtung[1993/12]
Englisch:A semiconductor device[1993/12]
Französisch:Dispositif semi-conducteur[1993/12]
Prüfungsverfahren03.09.1993Prüfungsantrag gestellt  [1993/44]
03.04.1995Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
04.08.1995Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung
25.01.1996Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M06)
27.06.1996Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
05.11.1996Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung
13.10.1997Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: Ja)
25.02.1998Ankündigung der Patenterteilung
04.06.1998Erteilungsgebühr entrichtet
04.06.1998Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet
Einspruch (Einsprüche)27.05.1999Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [1999/33]
Entrichtete GebührenJahresgebühr
19.09.1994Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
21.09.1995Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
18.09.1996Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05
19.09.1997Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06
Ausschluss der ausschließlichen  Tooltip
Zuständigkeit des Einheitlichen
Patentgerichts
Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:Recherche[A]EP0198194  (IBM [US]);
 [A]EP0204177  (SIEMENS AG [DE]);
 [A]EP0295459  (IBM [US]);
 [A]US4951122  (TSUBOSAKI KUNIHIRO [JP], et al)
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