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EP0580446
Europäisches Verfahren
Auszug aus dem europäischen Patentregister
EP Übersicht: EP0580446
| EP0580446 - Apparat zur Messung elektrischer Felder [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt Status aktualisiert am 16.07.1999 Datenbank zuletzt aktualisiert am 19.10.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 16.07.1999 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt | veröffentlicht am 01.09.1999 [1999/35] | Anmelder | Für alle benannten Staaten HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 1126-1 Ichino-cho Hamamatsu-shi, Shizuoka-ken / JP | [N/P] |
| Frühere [1994/04] | Für alle benannten Staaten HAMAMATSU PHOTONICS K.K. 1126-1 Ichino-cho Hamamatsu-shi Shizuoka-ken / JP | Erfinder | 01 /
Takahashi, Hironori, c/o Hamamatsu Photonics K.K. 1126-1, Ichino-cho Hamamatsu-shi, Shizuoka-ken / JP | 02 /
Aoshima, Shinichiro, c/o Hamamatsu Photonics K.K. 1126-1, Ichino-cho Hamamatsu-shi, Shizuoka-ken / JP | 03 /
Hirano, Isuke, c/o Hamamatsu Photonics K.K. 1126-1, Ichino-cho Hamamatsu-shi, Shizuoka-ken / JP | [1994/04] | Vertreter | Burke, Steven David, et al R.G.C. Jenkins & Co 26 Caxton Street London SW1H 0RJ / GB | [N/P] |
| Frühere [1994/04] | Burke, Steven David, et al R.G.C. Jenkins & Co. 26 Caxton Street London SW1H 0RJ / GB | Anmeldenummer, Anmeldetag | 93305824.0 | 23.07.1993 | [1994/04] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | JP19920198791 | 24.07.1992 Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 19879192 | [1994/04] | Anmeldesprache | EN | Verfahrenssprache | EN | Veröffentlichung | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | EP0580446 | Datum: | 26.01.1994 | Sprache: | EN | [1994/04] | Art: | B1 Patentschrift | Nr.: | EP0580446 | Datum: | 09.09.1998 | Sprache: | EN | [1998/37] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 10.11.1993 | Klassifikation | IPC: | G01R1/067, G01R31/308 | [1994/04] | CPC: |
G01R1/071 (EP,US);
G01R31/308 (EP,US)
| Benannte Vertragsstaaten | DE, FR, GB [1994/04] | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Apparat zur Messung elektrischer Felder | [1994/04] | Englisch: | Electric field measuring apparatus | [1994/04] | Französisch: | Appareil de mesure de champs électriques | [1994/04] | Prüfungsverfahren | 02.02.1994 | Prüfungsantrag gestellt [1994/14] | 07.10.1996 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04) | 17.02.1997 | Erwiderung auf eine Mitteilung der Prüfungsabteilung | 23.06.1997 | Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: Ja) | 03.12.1997 | Absendung der Mitteilung über die Zurückweisung der Anmeldung. Grund: Formalprüfung {1} | 17.02.1998 | Ankündigung der Patenterteilung | 25.05.1998 | Erteilungsgebühr entrichtet | 25.05.1998 | Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet | Einspruch (Einsprüche) | 10.06.1999 | Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [1999/35] | Antrag auf Weiterbehandlung für: | 18.12.1997 | Antrag auf Weiterbehandlung gestellt | 18.12.1997 | Komplette Zahlung eingegangen (Datum des Zahlungseingangs) Antrag stattgegeben | 17.02.1998 | Entscheidung abgesandt | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 11.07.1995 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 11.07.1996 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 | 14.07.1997 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05 | 08.07.1998 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06 |
| Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
| Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [XY] - SHINAGAWA ET AL., "A LASER-DIODE-BASED PICOSECOND ELECTROOPTIC PROBER...", IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, NEW YORK US, (199206), vol. 41, no. 3, doi:doi:10.1109/19.153332, pages 375 - 380, XP000307979 [X] 1,8,9,11 * page 377, column L, paragraph 2; figures 1,2,4 * [Y] 10 DOI: http://dx.doi.org/10.1109/19.153332 | [DYA] - NAGATSUMA ET AL., "SUBPICOSECOND SAMPLING USING A NONCONTACT ELECTRO-OPTIC PROBE", JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, NEW YORK US, (19891101), vol. 66, no. 9, doi:doi:10.1063/1.344008, pages 4001 - 4009, XP000073114 [DY] 10 * figures 12,13 * [A] 1,8,9,11 DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.344008 | [A] - FRANKEL ET AL., "EXPERIMENTAL CHARACTERIZATION OF EXTERNAL ELECTROOPTIC PROBES", IEEE MICROWAVE AND GUIDED WAVE LETTERS, NEW YORK US, (199103), vol. 1, no. 3, doi:doi:10.1109/75.80723, pages 60 - 62, XP000175331 [A] 1,11 * page 60, column R, paragraph 1 * * page 61, column R, paragraph 1; figure 1 * DOI: http://dx.doi.org/10.1109/75.80723 |