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EP0968519

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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP0968519

EP0968519 - IONISATIONSKAMMER FÜR RADIOMETRISCHE MESSEINRICHTUNGEN [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
Status	Kein Einspruch fristgerecht eingelegt Status aktualisiert am 26.03.2004 Datenbank zuletzt aktualisiert am 20.09.2024
Letztes Ereignis Tooltip	17.02.2006	Erlöschen des Patents in einem Vertragsstaat Neue Staaten: FR	veröffentlicht am 05.04.2006 [2006/14]
Anmelder	Für alle benannten Staaten Vacutec Messtechnik GmbH Dornblüthstrasse 14 01277 Dresden / DE
	[2000/01]
Erfinder	01 / LAUBE, Siegfried Neubühlauer Strasse 21 a D-01324 Dresden / DE
	02 / URBAN, Franz-Josef An der Schwarzen Hecke 70 a D-55270 Ober-Olm / DE
	03 / HILDEBRANDT, Steffen Clausen-Dahl-Strasse 10 D-01219 Dresden / DE
	[2002/37]
Frühere [2000/01]	01 / LAUBE, Siegfried Schneebergstrasse 10 D-01277 Dresden / DE
	02 / URBAN, Franz-Josef Heinrich-Heine-Strasse 9 D-01809 Heidenau / DE
	03 / HILDEBRANDT, Steffen Clausen-Dahl-Strasse 10 D-01219 Dresden / DE
Vertreter	Pfeiffer, Eva Brucknerstrasse 9 B 01309 Dresden / DE
	[2003/04]
Frühere [2000/01]	Pfeiffer, Eva Brucknerstrasse 9 B 01309 Dresden / DE
Anmeldenummer, Anmeldetag	98925415.6	20.03.1998
	[2000/01]
	WO1998DE00818
Prioritätsnummer, Prioritätstag	DE1997112032	21.03.1997 Ursprünglich veröffentlichtes Format: DE 19712032
	DE1997131608	23.07.1997 Ursprünglich veröffentlichtes Format: DE 19731608
	[2000/01]
Anmeldesprache	DE
Verfahrenssprache	DE
Veröffentlichung	Art:	A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht
	Nr.:	WO9843116
	Datum:	01.10.1998
	Sprache:	DE
	[1998/39]
	Art:	A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht
	Nr.:	EP0968519
	Datum:	05.01.2000
	Sprache:	DE
	Die von der WIPO am 01.10.1998 in einer EPA-Amtssprache veröffentlichte Anmeldung tritt an die Stelle der Veröffentlichung der europäischen Patentanmeldung.
	[2000/01]
	Art:	B1 Patentschrift
	Nr.:	EP0968519
	Datum:	21.05.2003
	Sprache:	DE
	[2003/21]
Recherchenbericht(e)	Internationaler Recherchenbericht - veröffentlicht am:	EP	17.12.1998
Klassifikation	IPC:	H01J47/02	[2000/01]
	CPC:	H01J47/02 (EP,US)
Benannte Vertragsstaaten	DE, FI, FR, GB, IT, SE [2000/01]
Bezeichnung der Erfindung	Deutsch:	IONISATIONSKAMMER FÜR RADIOMETRISCHE MESSEINRICHTUNGEN	[2000/01]
	Englisch:	IONIZATION CHAMBER FOR RADIOMETRIC MEASURING INSTRUMENTS	[2000/01]
	Französisch:	CHAMBRE D'IONISATION POUR INSTRUMENTS DE MESURE RADIOMETRIQUES	[2000/01]
Eintritt in die regionale Phase	30.07.1999	Nationale Grundgebühr entrichtet
	30.07.1999	Benennungsgebühr(en) entrichtet
	30.07.1999	Prüfungsgebühr entrichtet
Prüfungsverfahren	15.10.1998	Antrag auf vorläufige Prüfung gestellt mit der internationalen vorläufigen Prüfung beauftragte Behörde: EP
	30.07.1999	Prüfungsantrag gestellt [2000/01]
	12.06.2002	Absendung der Ankündigung der Erteilung (Einverständnis: Ja)
	30.07.2002	Ankündigung der Patenterteilung
	13.11.2002	Erteilungsgebühr entrichtet
	13.11.2002	Veröffentlichungs-/Druckkostengebühr entrichtet
	20.11.2002	Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Erteilungsgebühr/Druckkostengebühr nicht fristgerecht entrichtet
Einspruch (Einsprüche)	24.02.2004	Kein Einspruch fristgerecht eingelegt [2004/20]
Antrag auf Weiterbehandlung für:	25.11.2002	Antrag auf Weiterbehandlung gestellt
	26.11.2002	Komplette Zahlung eingegangen (Datum des Zahlungseingangs) Antrag stattgegeben
	09.12.2002	Entscheidung abgesandt
Entrichtete Gebühren	Jahresgebühr
	11.05.2000	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
	21.03.2001	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
	22.03.2002	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05
	14.03.2003	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06
	Zuschlagsgebühr
	Zuschlagsgebühr zur Jahresgebühr
	31.03.2000	03 M06 Gebühr entrichtet am 11.05.2000
Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts	Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
	Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Erlöschen während des Einspruchsverfahrens Tooltip	FR	21.05.2003
	GB	21.05.2003
	SE	21.08.2003
	[2006/14]
Frühere [2004/22]	GB	21.05.2003
	SE	21.08.2003
Frühere [2003/50]	SE	21.08.2003
Angeführt in	Internationale Recherche	[Y]JPS6273548 ;
		[A]DE1040707 (SIEMENS AG) [A] 1* the whole document *;
		[A]FR2105649 (COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE) [A] 1 * page 4, line 5 - line 14; figure . *;
		[PY]DE19545340 (VACUTEC MESTECHNIK GMBH [DE]) [PY] 1-3,24 * abstract *
		[Y] - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, (19870903), vol. 011, no. 271, Database accession no. (E - 536), & JP62073548 A 19870404 (HAMAMATSU PHOTONICS KK) [Y] 1-3,24 * abstract *

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