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Auszug aus dem europäischen Patentregister

EP Übersicht: EP0984245

EP0984245 - Verfahren und Apparat zur Inspektion von Oberflächenunregelmässigkeiten einer durchsichtigen Platte [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.]
Status	Anmeldung gilt als zurückgenommen Status aktualisiert am 16.12.2005 Datenbank zuletzt aktualisiert am 20.09.2024
Letztes Ereignis Tooltip	13.06.2008	Änderung - Vertreter	veröffentlicht am 16.07.2008 [2008/29]
Anmelder	Für alle benannten Staaten CENTRAL GLASS COMPANY, LIMITED 5253 Oaza Okiube Ube-shi, Yamaguchi-ken 755-0001 / JP
	[N/P]
Frühere [2000/10]	Für alle benannten Staaten Central Glass Company, Limited 5253 Oaza Okiube Ube-shi, Yamaguchi-ken 755-0001 / JP
Erfinder	01 / Okugawa, Shinya, c/o Central Glass Company, Limited 1510, Oguchi-cho Matsusaka-shi, Mie 515-0001 / JP
	[2000/10]
Vertreter	Manitz Finsterwald Patent- und Rechtsanwaltspartnerschaft mbB Postfach 31 02 20 80102 München / DE
	[N/P]
Frühere [2008/29]	Manitz, Finsterwald & Partner GbR Postfach 31 02 20 80102 München / DE
Frühere [2000/10]	Manitz, Finsterwald & Partner Postfach 22 16 11 80506 München / DE
Anmeldenummer, Anmeldetag	99116949.1	27.08.1999
	[2000/10]
Prioritätsnummer, Prioritätstag	JP19980246231	31.08.1998 Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 24623198
	JP19990191167	06.07.1999 Ursprünglich veröffentlichtes Format: JP 19116799
	[2000/10]
Anmeldesprache	EN
Verfahrenssprache	EN
Veröffentlichung	Art:	A2 Anmeldung ohne Recherchenbericht
	Nr.:	EP0984245
	Datum:	08.03.2000
	Sprache:	EN
	[2000/10]
	Art:	A3 Recherchenbericht
	Nr.:	EP0984245
	Datum:	10.01.2001
	[2001/02]
Recherchenbericht(e)	(Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am:	EP	27.11.2000
Klassifikation	IPC:	G01B11/30, G01N21/958, G01N21/88	[2001/02]
	CPC:	G01N21/958 (EP,US); G01B11/30 (EP,KR,US); G01N21/896 (EP,US); G01N2021/9586 (EP,US)
	Frühere IPC [2000/10]	G01B11/30
Benannte Vertragsstaaten	DE, FR, GB, IT [2001/39]
Frühere [2000/10]	AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LI, LU, MC, NL, PT, SE
Bezeichnung der Erfindung	Deutsch:	Verfahren und Apparat zur Inspektion von Oberflächenunregelmässigkeiten einer durchsichtigen Platte	[2000/10]
	Englisch:	Method of and apparatus for inspecting surface irregularities of transparent plate	[2000/10]
	Französisch:	Procédé et appareil d' inspection des irrégularités de la surface d' une plaque transparente	[2000/10]
Prüfungsverfahren	14.05.2001	Prüfungsantrag gestellt [2001/28]
	11.07.2001	Teilrechtsverlust, Datum der Rechtswirksamkeit: benannte Vertragsstaat(en)
	08.11.2001	Absendung der Mitteilung über einen Teilrechtsverlusts: benannte Vertragsstaat(en) AT, BE, CH, CY, DK, ES, FI, GR, IE, LI, LU, MC, NL, PT, SE
	17.03.2005	Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M04)
	28.07.2005	Anmeldung gilt als zurückgenommen, Datum der Rechtswirksamkeit [2006/05]
	05.09.2005	Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Erwiderung auf die Mitteilung der Prüfungsabteilung nicht fristgerecht eingegangen [2006/05]
Entrichtete Gebühren	Jahresgebühr
	27.08.2001	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03
	26.08.2002	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04
	25.08.2003	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05
	26.08.2004	Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 06
	Zuschlagsgebühr
	Zuschlagsgebühr/Regel 85a EPÜ 1973
	24.08.2001	AT M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	BE M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	CH M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	CY M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	DK M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	ES M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	FI M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	GR M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	IE M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	LU M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	MC M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	NL M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	PT M01 Noch nicht entrichtet
	24.08.2001	SE M01 Noch nicht entrichtet
	Zuschlagsgebühr zur Jahresgebühr
	31.08.2005	07 M06 Noch nicht entrichtet
Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts	Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts
	Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht.
Angeführte Dokumente:	Recherche	[XAY]US5413941 (KOOS DANIEL A [US], et al) [X] 1,5,8-10 * abstract * * column 4, line 14 - line 22 * * column 6, line 32 - line 51 * [A] 6 [Y] 4,7,11;
		[Y]US5521692 (BARES JAN [US]) [Y] 4,7,11 * abstract *;
		[A]US5016099 (BONGARDT WOLFGANG [DE], et al) [A] 1,5,8-10 * abstract * * column 1, line 41 - line 45 *;
		[A]EP0575095 (HUGHES AIRCRAFT CO [US]) [A] 1,5,8-10 * abstract * * column 3 *

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