EP0943950 - Verfahren zum Rastern bei der konfokalen Mikroskopie und konfokales Mikroskop [Mit Rechtsklick auf diesen Link können Sie ein Bookmark anlegen.] | Status | Anmeldung gilt als zurückgenommen Status aktualisiert am 06.08.2004 Datenbank zuletzt aktualisiert am 14.08.2024 | Letztes Ereignis Tooltip | 19.09.2008 | Änderung - Vertreter | veröffentlicht am 22.10.2008 [2008/43] | Anmelder | Für alle benannten Staaten GF Messtechnik GmbH Warthestrasse 21 14513 Teltow / DE | [1999/38] | Erfinder | 01 /
Frankowski, Gottfried, Dr. Halenseestrasse 1a 10711 Berlin / DE | 02 /
Heinrich, Hans-Helmut Wuhletalstrasse 120 12687 Berlin / DE | 03 /
Breitkreuz, Konrad Marinesteig 16 14129 Berlin / DE | [1999/38] | Vertreter | Hengelhaupt, Jürgen, et al Gulde & Partner Patent- und Rechtsanwaltskanzlei mbB Wallstrasse 58/59 10179 Berlin / DE | [N/P] |
Frühere [2008/43] | Hengelhaupt, Jürgen, et al Gulde Hengelhaupt Ziebig & Schneider Patentanwälte - Rechtsanwälte Wallstrasse 58/59 10179 Berlin / DE | ||
Frühere [1999/38] | Hengelhaupt, Jürgen, Dipl.-Ing., et al Patentanwälte Gulde Hengelhaupt Ziebig, Lützowplatz 11-13 10785 Berlin / DE | Anmeldenummer, Anmeldetag | 99250070.2 | 08.03.1999 | [1999/38] | Prioritätsnummer, Prioritätstag | DE1998111202 | 09.03.1998 Ursprünglich veröffentlichtes Format: DE 19811202 | [1999/38] | Anmeldesprache | DE | Verfahrenssprache | DE | Veröffentlichung | Art: | A1 Anmeldung mit Recherchenbericht | Nr.: | EP0943950 | Datum: | 22.09.1999 | Sprache: | DE | [1999/38] | Recherchenbericht(e) | (Ergänzender) europäischer Recherchenbericht - versandt am: | EP | 29.07.1999 | Klassifikation | IPC: | G02B21/00 | [1999/38] | CPC: |
G02B21/0048 (EP);
G02B21/0068 (EP)
| Benannte Vertragsstaaten | AT, FR, GB, NL [2000/22] |
Frühere [1999/38] | AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LI, LU, MC, NL, PT, SE | Bezeichnung der Erfindung | Deutsch: | Verfahren zum Rastern bei der konfokalen Mikroskopie und konfokales Mikroskop | [1999/38] | Englisch: | Confocal microscope and method for scanning thereof | [1999/38] | Französisch: | Microscope confocal à balayage et méthode de balayage de celui-ci | [1999/38] | Prüfungsverfahren | 22.03.2000 | Prüfungsantrag gestellt [2000/20] | 05.08.2003 | Absendung einer Mitteilung der Prüfungsabteilung (Frist: M07) | 16.12.2003 | Anmeldung gilt als zurückgenommen, Datum der Rechtswirksamkeit [2004/39] | 21.04.2004 | Absendung der Mitteilung, wonach die Anmeldung als zurückgenommen gilt. Grund: Erwiderung auf die Mitteilung der Prüfungsabteilung nicht fristgerecht eingegangen [2004/39] | Entrichtete Gebühren | Jahresgebühr | 30.03.2001 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 03 | 20.03.2002 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 04 | 28.03.2003 | Jahresgebühr entrichtet Patentjahr 05 | Zuschlagsgebühr | Zuschlagsgebühr zur Jahresgebühr | 31.03.2004 | 06   M06   Noch nicht entrichtet |
Ausschluss der ausschließlichen Tooltip Zuständigkeit des Einheitlichen Patentgerichts | Zu den entsprechenden Daten siehe das Register des Einheitlichen Patentgerichts | ||
Die Verantwortung für die Richtigkeit, Vollständigkeit oder Qualität der unter dem Link angezeigten Daten liegt allein beim Einheitlichen Patentgericht. | Angeführte Dokumente: | Recherche | [X]US5587832 (KRAUSE ANDREW W) [X] 1,5 * column 5, line 57 - line 61; figures 1-3 *; | [X]EP0485803 (ZEISS CARL FA ;ZEISS STIFTUNG (DE)) [X] 1 * abstract * * column 1, line 53 - column 2, line 26 *; | [PXA]GB2321517 (YOKOGAWA ELECTRIC CORPORATION) [PX] 1,3,4 * the whole document * [PA] 5,8,9 | [X] - LIANG MINHUA ET AL, "Confocal microscope system that uses a binary spatial light modulator", PROCEEDINGS OF THE 1997 CONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS, CLEO;BALTIMORE, MD, USA MAY 18-23 1997, Conf Proc Laser Electr Optic Soc Annu Meet CLEO;Conference Proceedings - Lasers and Electro-Optics Society Annual Meeting-CLEO 1997 IEEE, Piscataway, NJ, USA, (1997), vol. 11, page 154, XP002108515 [X] 1,5 * the whole document * | [PXA] - HANLEY Q S ET AL, "OPTICAL SECTIONING FLUORESCENCE SPECTROSCOPY IN A PROGRAMMABLE ARRAY MICROSCOPE", APPLIED SPECTROSCOPY, (19980601), vol. 52, no. 6, ISSN 0003-7028, pages 783 - 789, XP000776113 [PX] 1 * figure 1 * [PA] 5 DOI: http://dx.doi.org/10.1366/0003702981944364 |