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EP About this file: EP2389596

EP2389596 - FAULT TESTING FOR INTERCONNECTIONS [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  25.07.2014
Database last updated on 03.10.2024
Most recent event   Tooltip22.06.2018Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK
published on 25.07.2018  [2018/30]
Applicant(s)For all designated states
Silicon Image, Inc.
1140 East Arques Avenue
Sunnyvale, CA 94085 / US
[2011/52]
Former [2011/48]For all designated states
Silicon Image, Inc.
1060 East Arques Avenue
Sunnyvale, CA 94086 / US
Inventor(s)01 / SUL, Chinsong
707 Continental Circle Apt 1628
Mountain View, CA 94040 / US
02 / AHN, Gijung
814 Fife Way
Sunnyvale, CA 94087 / US
 [2011/48]
Representative(s)Hackney, Nigel John
Mewburn Ellis LLP
City Tower
40 Basinghall Street
London EC2V 5DE / GB
[N/P]
Former [2013/38]Hackney, Nigel John
Mewburn Ellis LLP
33 Gutter Lane
London
EC2V 8AS / GB
Former [2011/48]Hackney, Nigel John
Mewburn Ellis LLP 33 Gutter Lane London
EC2V 8AS / GB
Application number, filing date10702372.322.01.2010
WO2010US21859
Priority number, dateUS2009035902523.01.2009         Original published format: US 359025
[2011/48]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2010085687
Date:29.07.2010
Language:EN
[2010/30]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2389596
Date:30.11.2011
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 29.07.2010 takes the place of the publication of the European patent application.
[2011/48]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2389596
Date:18.09.2013
Language:EN
[2013/38]
Search report(s)International search report - published on:EP29.07.2010
ClassificationIPC:G01R31/317
[2011/48]
CPC:
G01R31/31717 (EP,KR,US)
Designated contracting statesAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2013/38]
Extension statesALNot yet paid
BANot yet paid
RSNot yet paid
TitleGerman:FEHLERPRÜFUNG FÜR VERBINDUNGEN[2011/48]
English:FAULT TESTING FOR INTERCONNECTIONS[2011/48]
French:ANALYSE DE DÉFAILLANCE POUR DES INTERCONNEXIONS[2011/48]
Entry into regional phase11.08.2011National basic fee paid 
11.08.2011Designation fee(s) paid 
11.08.2011Examination fee paid 
Examination procedure11.08.2011Examination requested  [2011/48]
16.03.2012Amendment by applicant (claims and/or description)
07.05.2012Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
14.09.2012Reply to a communication from the examining division
10.05.2013Communication of intention to grant the patent
05.08.2013Fee for grant paid
05.08.2013Fee for publishing/printing paid
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  07.05.2012
Opposition(s)19.06.2014No opposition filed within time limit [2014/35]
Fees paidRenewal fee
25.01.2012Renewal fee patent year 03
25.01.2013Renewal fee patent year 04
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court
See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU22.01.2010
AT18.09.2013
BE18.09.2013
BG18.09.2013
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[2018/30]
Former [2016/33]HU22.01.2010
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LT18.09.2013
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NO18.12.2013
Former [2014/07]NO18.12.2013
Cited inInternational search[A]US5621741  (KOHIYAMA KIYOSHI [JP]) [A] 1-39 * abstract * * column 1, line 64 - column 3, line 3 * * column 3, line 44 - column 4, line 19 ** column 5, line 8 - line 41 *;
 [A]EP1612573  (FUJITSU LTD [JP]) [A] 1-39 * abstract * * paragraph [0001] * * paragraph [0012] - paragraph [0021] * * paragraph [0024] - paragraph [0078] *;
 [A]  - ANDREWS J, "Integration of IEEE 1149.1 with mixed ECL, TTL and differential logic signals", EUROPEAN TEST CONFERENCE, 1993. PROCEEDINGS OF ETC 93., THIRD ROTTERDAM, NETHERLANDS 19-22 APRIL 1993, LOS ALAMITOS, CA, USA,IEEE COMPUT. SOC, US LNKD- DOI:10.1109/ETC.1993.246575, (19930419), ISBN 978-0-8186-3360-7, pages 355 - 360, XP010031766 [A] 1-39 * the whole document *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/ETC.1993.246575
 [A]  - HAULIN T, "Built-in parametric test for controlled impedance I/Os", VLSI TEST SYMPOSIUM, 1997., 15TH IEEE MONTEREY, CA, USA 27 APRIL-1 MAY 1997, LOS ALAMITOS, CA, USA,IEEE COMPUT. SOC, US LNKD- DOI:10.1109/VTEST.1997.599461, (19970427), ISBN 978-0-8186-7810-3, pages 123 - 128, XP010227435 [A] 1-39 * the whole document *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/VTEST.1997.599461
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