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EP About this file: EP2564156

EP2564156 - PROFILE MEASURING APPARATUS [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  21.02.2020
Database last updated on 18.11.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  15.03.2019
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  04.11.2018
Most recent event   Tooltip01.07.2022Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK		published on 03.08.2022  [2022/31]
Applicant(s)For all designated states
Nikon Corporation
15-3, Konan 2-chome
Minato-ku
Tokyo 108-6290 / JP
[2015/36]
Former [2013/10]For all designated states
Nikon Corporation
12-1, Yurakucho 1-chome Chiyoda-ku
Tokyo 100-8331 / JP
Inventor(s)01 / ITO, Yuka
c/o Nikon Corporation
12-1 Yurakucho 1-chome
Chiyoda-ku
Tokyo 100-8331 / JP
02 / FUJISAWA, Haruhiko
c/o Nikon Corporation
12-1 Yurakucho 1-chome
Chiyoda-ku
Tokyo 100-8331 / JP
 [2013/10]
Representative(s)Hoffmann Eitle
Patent- und Rechtsanwälte PartmbB
Arabellastraße 30
81925 München / DE
[2019/16]
Former [2013/10]HOFFMANN EITLE
Patent- und Rechtsanwälte
Arabellastrasse 4
81925 München / DE
Application number, filing date11723135.726.04.2011
[2019/16]
WO2011JP60617
Priority number, dateJP2010010128926.04.2010         Original published format: JP 2010101289
JP2010010128826.04.2010         Original published format: JP 2010101288
JP2010010128626.04.2010         Original published format: JP 2010101286
[2013/10]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2011136386
Date:03.11.2011
Language:EN
[2011/44]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2564156
Date:06.03.2013
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 03.11.2011 takes the place of the publication of the European patent application.
[2013/10]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2564156
Date:17.04.2019
Language:EN
[2019/16]
Search report(s)International search report - published on:EP03.11.2011
ClassificationIPC:G01B11/25
[2013/10]
CPC:
G01B11/25 (EP,KR,US); G01B9/02055 (US); G01B11/2518 (US);
G01B21/20 (US)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2013/10]
Extension statesBANot yet paid
MENot yet paid
TitleGerman:PROFILMESSER[2013/10]
English:PROFILE MEASURING APPARATUS[2013/10]
French:APPAREIL DE MESURE DE PROFIL[2013/10]
Entry into regional phase11.10.2012National basic fee paid 
11.10.2012Designation fee(s) paid 
11.10.2012Examination fee paid 
Examination procedure11.10.2012Examination requested  [2013/10]
05.06.2013Amendment by applicant (claims and/or description)
05.11.2018Communication of intention to grant the patent
05.03.2019Fee for grant paid
05.03.2019Fee for publishing/printing paid
05.03.2019Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  05.11.2018
Opposition(s)20.01.2020No opposition filed within time limit [2020/13]
Fees paidRenewal fee
15.04.2013Renewal fee patent year 03
25.03.2014Renewal fee patent year 04
27.04.2015Renewal fee patent year 05
11.04.2016Renewal fee patent year 06
10.04.2017Renewal fee patent year 07
11.04.2018Renewal fee patent year 08
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU26.04.2011
AL17.04.2019
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CZ17.04.2019
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MK17.04.2019
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ES17.04.2019
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HR17.04.2019
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