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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2587517

EP2587517 - ELECTRON LENS AND THE ELECTRON BEAM DEVICE [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  15.07.2016
Database last updated on 11.09.2024
Most recent event   Tooltip19.10.2018Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): AL		published on 21.11.2018  [2018/47]
Applicant(s)For all designated states
Param Corporation
3-6-1, Azuma-cho
Akishima-shi, Tokyo 196-0033 / JP
[2015/37]
Former [2013/18]For all designated states
Param Corporation
Industry Support Square Tama 302
3-6-1 Azuma-cho
Akishima-shi
Tokyo 196-0033 / JP
Inventor(s)01 / YASUDA Hiroshi
c/o Param Corporation
Industry Support Square Tama 302
3-6-1 Azuma-cho
Akishima-shi
Tokyo 196-0033 / JP
 [2015/37]
Former [2013/18]01 / YASUDA Hiroshi
c/o Param Corporation
Industry Support Square TAMA 302
3-6-1 Azuma-cho
Akishima-shi
Tokyo 196-0033 / JP
Representative(s)Stiebe, Lars Magnus, et al
Balder
Paseo de la Castellana 93, 5
28046 Madrid / ES
[N/P]
Former [2015/37]Stiebe, Lars Magnus, et al
Balder
Paseo de la Castellana 93
28046 Madrid / ES
Former [2013/18]Stiebe, Lars Magnus, et al
Balder IP Law, S.L.
Paseo de la Castellana 120
28046 Madrid / ES
Application number, filing date11836299.525.10.2011
[2015/37]
WO2011JP74588
Priority number, dateJP2010024040827.10.2010         Original published format: JP 2010240408
[2013/18]
Filing languageJA
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2012057166
Date:03.05.2012
Language:JA
[2012/18]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2587517
Date:01.05.2013
Language:EN
[2013/18]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2587517
Date:09.09.2015
Language:EN
[2015/37]
Search report(s)International search report - published on:JP03.05.2012
(Supplementary) European search report - dispatched on:EP08.04.2014
ClassificationIPC:H01J37/143, H01J37/141, H01J37/305, H01L21/027, H01J37/317
[2014/19]
CPC:
B82Y10/00 (EP,KR,US); H01J37/143 (EP,KR,US); H01J3/24 (KR,US);
B82Y40/00 (EP,KR,US); H01J3/20 (KR,US); H01J37/1416 (KR);
H01J37/3007 (KR,US); H01J37/3056 (KR); H01J37/3174 (EP,KR,US);
H01J37/3177 (EP,KR,US); H01L21/0273 (KR); H01J2237/002 (EP,US);
H01J2237/1405 (EP,US) (-)
Former IPC [2013/18]H01J37/143, H01J37/141, H01J37/305, H01L21/027
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2013/18]
Extension statesBANot yet paid
MENot yet paid
TitleGerman:ELEKTRONENOBJEKTIV UND ELEKTRONENSTRAHLVORRICHTUNG[2013/18]
English:ELECTRON LENS AND THE ELECTRON BEAM DEVICE[2013/18]
French:LENTILLE À ÉLECTRONS ET DISPOSITIF DE FAISCEAU ÉLECTRONIQUE[2013/18]
Entry into regional phase22.01.2013Translation filed 
22.01.2013National basic fee paid 
22.01.2013Search fee paid 
22.01.2013Designation fee(s) paid 
22.01.2013Examination fee paid 
Examination procedure22.01.2013Examination requested  [2013/18]
04.11.2014Amendment by applicant (claims and/or description)
28.04.2015Communication of intention to grant the patent
31.07.2015Fee for grant paid
31.07.2015Fee for publishing/printing paid
31.07.2015Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  28.04.2015
Opposition(s)10.06.2016No opposition filed within time limit [2016/33]
Fees paidRenewal fee
25.10.2013Renewal fee patent year 03
23.10.2014Renewal fee patent year 04
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU25.10.2011
AL09.09.2015
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