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EP About this file: EP2757380

EP2757380 - POTENTIAL-MEASURING DEVICE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  10.07.2020
Database last updated on 19.10.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  17.05.2019
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  27.03.2019
FormerExamination is in progress
Status updated on  28.04.2017
Most recent event   Tooltip01.07.2022Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK		published on 03.08.2022  [2022/31]
Applicant(s)For all designated states
National University Corporation Kanazawa University
Nu 7, Kakuma-machi
Kanazawa-shi, Ishikawa 920-1164 / JP
[2014/30]
Inventor(s)01 / FUKUMA, Takeshi
c/o National University Corporation
Kanazawa University
Nu7, Kakuma-machi
Kanazawa-shi, Ishikawa 920-1164 / JP
02 / KOBAYASHI, Naritaka
c/o National University Corporation
Kanazawa University
Nu7, Kakuma-machi
Kanazawa-shi, Ishikawa 920-1164 / JP
 [2014/30]
Representative(s)Vigand, Philippe, et al
Novagraaf International SA
Chemin de l'Echo 3
1213 Onex - Genève / CH
[2019/25]
Former [2014/30]Vigand, Philippe, et al
Novagraaf International SA
3 chemin de l'Echo
1213 Onex Geneva / CH
Application number, filing date12832395.312.09.2012
[2019/25]
WO2012JP05773
Priority number, dateJP2011019881112.09.2011         Original published format: JP 2011198811
[2014/30]
Filing languageJA
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2013038659
Date:21.03.2013
Language:JA
[2013/12]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2757380
Date:23.07.2014
Language:EN
[2014/30]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2757380
Date:19.06.2019
Language:EN
[2019/25]
Search report(s)International search report - published on:JP21.03.2013
(Supplementary) European search report - dispatched on:EP24.03.2015
ClassificationIPC:G01Q60/30, G01Q30/14, G01R29/12
[2014/30]
CPC:
G01Q30/14 (EP,US); G01R29/12 (US); G01Q10/00 (US);
G01Q60/30 (EP,US); G01R19/18 (EP,US); G01R29/24 (EP,US)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2014/30]
Extension statesBANot yet paid
MENot yet paid
TitleGerman:POTENTIALMESSVORRICHTUNG UND ATOMKRAFTMIKROSKOP[2014/30]
English:POTENTIAL-MEASURING DEVICE, AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE[2014/30]
French:DISPOSITIF DE MESURE D'UN POTENTIEL ET MICROSCOPE À FORCE ATOMIQUE[2014/30]
Entry into regional phase10.03.2014Translation filed 
10.03.2014National basic fee paid 
10.03.2014Search fee paid 
10.03.2014Designation fee(s) paid 
10.03.2014Examination fee paid 
Examination procedure10.03.2014Examination requested  [2014/30]
08.10.2015Amendment by applicant (claims and/or description)
02.05.2017Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
25.08.2017Reply to a communication from the examining division
28.03.2019Communication of intention to grant the patent
10.05.2019Fee for grant paid
10.05.2019Fee for publishing/printing paid
10.05.2019Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  02.05.2017
Opposition(s)03.06.2020No opposition filed within time limit [2020/33]
Fees paidRenewal fee
15.08.2014Renewal fee patent year 03
22.09.2015Renewal fee patent year 04
22.09.2016Renewal fee patent year 05
12.09.2017Renewal fee patent year 06
25.09.2018Renewal fee patent year 07
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU12.09.2012
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