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EP About this file: EP2748622

EP2748622 - METHOD FOR TESTING A MULTI-CHIP SYSTEM OR A SINGLE CHIP AND SYSTEM THEREOF [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  16.06.2017
Database last updated on 18.11.2024
Most recent event   Tooltip06.03.2020Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): TR		published on 08.04.2020  [2020/15]
Applicant(s)For all designated states
Telefonaktiebolaget LM Ericsson (publ)
164 83 Stockholm / SE
[2016/32]
Former [2015/29]For all designated states
Telefonaktiebolaget L M Ericsson (publ)
164 83 Stockholm / SE
Former [2014/27]For all designated states
Telefonaktiebolaget LM Ericsson (PUBL)
164 83 Stockholm / SE
Inventor(s)01 / WEN, Gan
No.5 Lize East Street
Chaoyang District
Beijing 100102 / CN
 [2014/27]
Representative(s)Lind, Robert
Marks & Clerk LLP
2nd Floor, Wytham Court
11 West Way
Oxford OX2 0JB / GB
[N/P]
Former [2014/27]Lind, Robert
Marks & Clerk LLP
Fletcher House
Heatley Road The Oxford Science Park
Oxford OX4 4GE / GB
Application number, filing date12876402.410.05.2012
[2016/32]
WO2012CN75289
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2013166685
Date:14.11.2013
Language:EN
[2013/46]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2748622
Date:02.07.2014
Language:EN
The application published by WIPO in one of the EPO official languages on 14.11.2013 takes the place of the publication of the European patent application.
[2014/27]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2748622
Date:10.08.2016
Language:EN
[2016/32]
Search report(s)International search report - published on:CN14.11.2013
(Supplementary) European search report - dispatched on:EP16.04.2015
ClassificationIPC:G01R31/28, G01R31/317, G01R31/3185, G01R31/319
[2015/21]
CPC:
G01R31/318513 (EP,US); G01R31/319 (US); G01R31/2851 (US);
G01R31/31723 (EP,US)
Former IPC [2014/27]G01R31/28
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2014/27]
Extension statesBANot yet paid
MENot yet paid
TitleGerman:VERFAHREN ZUM TESTEN EINES MULTICHIPSYSTEMS ODER EINES EINZELCHIPS UND SYSTEM DAFÜR[2014/27]
English:METHOD FOR TESTING A MULTI-CHIP SYSTEM OR A SINGLE CHIP AND SYSTEM THEREOF[2014/27]
French:PROCÉDÉ POUR L'ESSAI D'UN SYSTÈME MULTIPUCE OU D'UNE PUCE UNIQUE ET SYSTÈME ASSOCIÉ[2014/27]
Entry into regional phase26.03.2014National basic fee paid 
26.03.2014Search fee paid 
26.03.2014Designation fee(s) paid 
26.03.2014Examination fee paid 
Examination procedure26.03.2014Examination requested  [2014/27]
29.07.2015Amendment by applicant (claims and/or description)
14.03.2016Communication of intention to grant the patent
29.06.2016Fee for grant paid
29.06.2016Fee for publishing/printing paid
29.06.2016Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  14.03.2016
Opposition(s)11.05.2017No opposition filed within time limit [2017/29]
Fees paidRenewal fee
26.03.2014Renewal fee patent year 03
27.05.2015Renewal fee patent year 04
27.05.2016Renewal fee patent year 05
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU10.05.2012
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Documents cited:Search[XI]US2003226072  (BRUCKMAN LEON [IL], et al) [X] 1,4,7,11,14 * abstract * * paragraph [0006] - paragraph [0035] * * paragraph [0039] - paragraph [0046] * [I] 2,3,5,6,8-10,12,13,15;
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