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EP About this file: EP2612596

EP2612596 - Method and apparatus for measuring biometrics of object [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  20.07.2018
Database last updated on 16.11.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  11.08.2017
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  11.05.2017
FormerExamination is in progress
Status updated on  18.11.2016
Most recent event   Tooltip10.07.2020Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): AL		published on 12.08.2020  [2020/33]
Applicant(s)For all designated states
Samsung Electronics Co., Ltd.
129, Samsung-ro
Yeongtong-gu
Gyeonggi-do 443-742 / KR
[2013/28]
Inventor(s)01 / Jung, Hae-kyung
225-3303 Park Rio Apt
Jamsil 4-dong
Songpa-gu
Seoul / KR
02 / Yoon, Hee-chul
103-2502 Daelim Acroriver Apt
Bangbaebon-dong
Seocho-gu
Seoul / KR
03 / Lee, Hyun-taek
602 Sun Officetel
1007-19 Sadang 1-dong
Dongjak-gu
Seoul / KR
04 / Kim, Yong-je
506-604 Samsung 5-cha Apt
Pungdeokcheon 2-dong
Suji-gu
Yongin-si
Gyeonggi-do / KR
05 / Kim, Jae-hyun
1-401 Gungjoen Apt
Banpo-dong
Seocho-gu
Seoul / KR
06 / Eom, Myung-jin
108-101 Dongsin Dae-a Apt
Gayang 1-dong
Gangseo-gu
Seoul / KR
 [2013/28]
Representative(s)Appleyard Lees IP LLP
15 Clare Road
Halifax HX1 2HY / GB
[2017/37]
Former [2013/28]Instone, Terry
Appleyard Lees
15 Clare Road
Halifax HX1 2HY / GB
Application number, filing date13150331.004.01.2013
[2013/28]
Priority number, dateKR2012000115004.01.2012         Original published format: KR 20120001150
[2013/28]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report 
No.:EP2612596
Date:10.07.2013
Language:EN
[2013/28]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2612596
Date:13.09.2017
Language:EN
[2017/37]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP06.05.2013
ClassificationIPC:A61B8/00, A61B8/08, G06F19/26
[2016/49]
CPC:
A61B8/0866 (EP,BR,US); A61B8/00 (BR); A61B8/14 (BR,KR);
G16B45/00 (EP,US); A61B8/085 (EP,BR,US); A61B8/0858 (EP,BR,US);
A61B8/469 (EP,BR,US); A61B8/5223 (EP,BR,US); G06T17/00 (BR,KR);
G16H50/30 (EP,BR) (-)
Former IPC [2013/28]A61B8/00, A61B8/08
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2017/37]
Former [2013/28]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Biometrik eines Objekts[2013/28]
English:Method and apparatus for measuring biometrics of object[2013/28]
French:Procédé et appareil de mesure biométrique d'objet[2013/28]
Examination procedure10.01.2014Amendment by applicant (claims and/or description)
10.01.2014Examination requested  [2014/09]
16.11.2016Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
07.03.2017Reply to a communication from the examining division
12.05.2017Communication of intention to grant the patent
02.08.2017Fee for grant paid
02.08.2017Fee for publishing/printing paid
02.08.2017Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  16.11.2016
Opposition(s)14.06.2018No opposition filed within time limit [2018/34]
Fees paidRenewal fee
22.01.2015Renewal fee patent year 03
27.01.2016Renewal fee patent year 04
31.01.2017Renewal fee patent year 05
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU04.01.2013
AL13.09.2017
AT13.09.2017
CY13.09.2017
CZ13.09.2017
DK13.09.2017
EE13.09.2017
ES13.09.2017
FI13.09.2017
HR13.09.2017
IT13.09.2017
LT13.09.2017
LV13.09.2017
MC13.09.2017
MK13.09.2017
NL13.09.2017
PL13.09.2017
PT13.09.2017
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RS13.09.2017
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CH31.01.2018
LI31.01.2018
[2020/33]
Former [2020/31]HU04.01.2013
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CZ13.09.2017
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IT13.09.2017
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LV13.09.2017
MC13.09.2017
MK13.09.2017
NL13.09.2017
PL13.09.2017
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RS13.09.2017
SE13.09.2017
SI13.09.2017
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SM13.09.2017
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EE13.09.2017
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SK13.09.2017
SM13.09.2017
BG13.12.2017
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BG13.12.2017
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FI13.09.2017
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SE13.09.2017
BG13.12.2017
NO13.12.2017
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FI13.09.2017
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Former [2018/07]LT13.09.2017
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