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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2677271

EP2677271 - Broadband interferometer for determining a property of a thin film [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  02.03.2018
Database last updated on 24.07.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  24.03.2017
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  12.01.2017
Most recent event   Tooltip17.07.2020Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): AL		published on 19.08.2020  [2020/34]
Applicant(s)For all designated states
Mitutoyo Corporation
20-1, Sakado 1-chome
Takatsu-ku
Kawasaki-shi, Kanagawa 213-8533 / JP
[2017/17]
Former [2013/52]For all designated states
Mitutoyo Corporation
20-1, Sakado 1-chome Takatsu-ku Kawasaki
Kanagawa 213-8533 / JP
Inventor(s)01 / Haitjema, Han
2, Fontanalaan
5624 KP Eindhoven / NL
02 / Quaedackers, Johannes Anna
4, Hertgang
5508 LR Veldhoven / NL
 [2013/52]
Representative(s)EP&C
P.O. Box 3241
2280 GE Rijswijk / NL
[2013/52]
Application number, filing date13167065.508.05.2013
[2013/52]
Priority number, dateEP2012017246318.06.2012         Original published format: EP 12172463
[2013/52]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report 
No.:EP2677271
Date:25.12.2013
Language:EN
[2013/52]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2677271
Date:26.04.2017
Language:EN
[2017/17]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP25.07.2013
ClassificationIPC:G01B9/02, G01B11/06, G01N21/47
[2013/52]
CPC:
G01B11/0675 (EP,US); G01B9/02087 (EP,US); G01B9/02088 (EP,US);
G01B9/0209 (EP,US); G01N21/45 (EP,US); G01N2021/4126 (EP,US)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2017/17]
Former [2013/52]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:Breitband Interferometer zur Bestimmung einer Eigenschaft einer Dünnschicht[2017/06]
English:Broadband interferometer for determining a property of a thin film[2013/52]
French:Interféromètre à bande large pour déterminer une propriété d'une couche mince[2013/52]
Former [2013/52]Breitand Interferometer zur Bestimmung der Eigenschaft einer Dünnschicht
Examination procedure16.05.2014Amendment by applicant (claims and/or description)
16.05.2014Examination requested  [2014/26]
13.01.2017Communication of intention to grant the patent
16.03.2017Fee for grant paid
16.03.2017Fee for publishing/printing paid
16.03.2017Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  13.01.2017
Opposition(s)29.01.2018No opposition filed within time limit [2018/14]
Fees paidRenewal fee
21.05.2015Renewal fee patent year 03
30.03.2016Renewal fee patent year 04
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU08.05.2013
AL26.04.2017
AT26.04.2017
CY26.04.2017
CZ26.04.2017
DK26.04.2017
EE26.04.2017
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FI26.04.2017
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[2020/34]
Former [2020/27]HU08.05.2013
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ES26.04.2017
FI26.04.2017
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MC26.04.2017
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RO26.04.2017
RS26.04.2017
SE26.04.2017
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LI31.05.2017
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NO26.07.2017
GR27.07.2017
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