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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2674961

EP2674961 - Electron microscope and method of operating the same [Right-click to bookmark this link]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  13.01.2017
Database last updated on 19.07.2024
Most recent event   Tooltip12.10.2018Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): AL		published on 14.11.2018  [2018/46]
Applicant(s)For all designated states
Jeol Ltd.
1-2, Musashino 3-chome
Akishima-shi
Tokyo 196-8558 / JP
[2013/51]
Inventor(s)01 / Suzuki, Takashi
c/o JEOL LTD.
1-2, Musashino 3-chome
Akishima Tokyo 196-8558 / JP
 [2013/51]
Representative(s)Boult Wade Tennant LLP
Salisbury Square House
8 Salisbury Square
London EC4Y 8AP / GB
[N/P]
Former [2013/51]Boult Wade Tennant
Verulam Gardens
70 Gray's Inn Road
London WC1X 8BT / GB
Application number, filing date13171744.912.06.2013
[2013/51]
Priority number, dateJP2012013292712.06.2012         Original published format: JP 2012132927
[2013/51]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A2 Application without search report 
No.:EP2674961
Date:18.12.2013
Language:EN
[2013/51]
Type: A3 Search report 
No.:EP2674961
Date:07.01.2015
Language:EN
[2015/02]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2674961
Date:09.03.2016
Language:EN
[2016/10]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP05.12.2014
ClassificationIPC:H01J37/28
[2013/51]
CPC:
H01J37/28 (EP,US); G06F17/18 (US); H01J37/285 (US);
H01J2237/06341 (EP,US); H01J2237/24495 (EP,US); H01J2237/24507 (EP,US)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2015/33]
Former [2013/51]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:Elektronenmikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb[2013/51]
English:Electron microscope and method of operating the same[2013/51]
French:Microscope électronique et son procédé de fonctionnement[2013/51]
Examination procedure06.07.2015Amendment by applicant (claims and/or description)
06.07.2015Examination requested  [2015/33]
20.08.2015Communication of intention to grant the patent
22.12.2015Fee for grant paid
22.12.2015Fee for publishing/printing paid
22.12.2015Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  20.08.2015
Opposition(s)12.12.2016No opposition filed within time limit [2017/07]
Fees paidRenewal fee
23.06.2015Renewal fee patent year 03
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU12.06.2013
AL09.03.2016
AT09.03.2016
BE09.03.2016
CY09.03.2016
CZ09.03.2016
DK09.03.2016
EE09.03.2016
ES09.03.2016
FI09.03.2016
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IT09.03.2016
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SM09.03.2016
TR09.03.2016
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LI30.06.2016
MT30.06.2016
IS09.07.2016
PT11.07.2016
[2018/46]
Former [2018/32]HU12.06.2013
AT09.03.2016
BE09.03.2016
CY09.03.2016
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IT09.03.2016
LT09.03.2016
LV09.03.2016
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RS09.03.2016
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SM09.03.2016
TR09.03.2016
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NO09.06.2016
GR10.06.2016
IE12.06.2016
LU12.06.2016
CH30.06.2016
LI30.06.2016
MT30.06.2016
IS09.07.2016
PT11.07.2016
Former [2018/29]HU12.06.2013
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SE09.03.2016
NO09.06.2016
GR10.06.2016
IS09.07.2016
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FI09.03.2016
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SE09.03.2016
NO09.06.2016
GR10.06.2016
Former [2016/36]ES09.03.2016
FI09.03.2016
HR09.03.2016
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Documents cited:Search[A]US4990778  (NORIOKA SETSUO [JP]) [A] 1,5,6 * the whole document *;
 [AD]JPH05307942  (JEOL LTD) [AD] 1-6 * abstract * * paragraphs [0003] , [0004] , [0008] - [0011]; figure - *;
 [A]JPH08167396  (JEOL LTD) [A] 1,5,6 * abstract * * paragraphs [0013] - [0015] - [0020] - [0022]; figure 2 *;
 [A]US7091486  (MCCORD MARK A [US], et al) [A] 1,6* abstract *;
 [A]  - YAMADA M ET AL, "HIGH-DEFINITION IMAGE PROCESSING SYSTEM FOR FE-SEM", JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY, JAPANESE SOCIETY FOR ELECTRON MICROSCOPY. TOKYO, JP, (19970101), vol. 46, no. 4, ISSN 0022-0744, pages 311 - 314, XP000699345 [A] 1-6 * the whole document *
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