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EP2706537

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EP About this file: EP2706537

EP2706537 - X-ray source generating a nanometer-sized beam and imaging device comprising at least one such source [Right-click to bookmark this link]
Former [2014/11]	x-ray source generating a nanometer-sized beam and imaging device comprising at least one such source
	[2016/36]
Status	No opposition filed within time limit Status updated on 24.11.2017 Database last updated on 16.11.2024
Former	The patent has been granted Status updated on 16.12.2016
Former	Grant of patent is intended Status updated on 07.12.2016
Most recent event Tooltip	17.07.2020	Lapse of the patent in a contracting state New state(s): AL	published on 19.08.2020 [2020/34]
Applicant(s)	For all designated states Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives Bâtiment "Le Ponant D" 25, Rue Leblanc 75015 Paris / FR
	[N/P]
Former [2014/11]	For all designated states Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives Bâtiment "Le Ponant D" 25, rue Leblanc 75015 Paris / FR
Inventor(s)	01 / Bleuet, Pierre 32, avenue de Claix 38180 Seyssins / FR
	02 / Martin, Nicolas 335 chemin de sous la vie Hameau de Fay 01300 Peyrieu / FR
	[2014/43]
Former [2014/11]	01 / Bleuet, Pierre 32, avenue de Claix 38180 SEYSSINS / FR
	02 / Martin, Nicolas 335 chemin de sous la vie, Hameau de Fay 01300 PEYRIEU / FR
Representative(s)	Ahner, Philippe Brevalex Tour Trinity 1 Bis Esplanade de La Défense CS 60347 92035 Paris La Défense Cedex / FR
	[N/P]
Former [2017/03]	Ahner, Philippe BREVALEX 95, rue d'Amsterdam 75378 Paris Cedex 8 / FR
Former [2014/11]	Ahner, Philippe BREVALEX 95 rue d'Amsterdam 75378 Paris Cedex 8 / FR
Application number, filing date	13183570.4	09.09.2013
	[2014/11]
Priority number, date	FR20120058446	10.09.2012 Original published format: FR 1258446
	[2014/11]
Filing language	FR
Procedural language	FR
Publication	Type:	A1 Application with search report
	No.:	EP2706537
	Date:	12.03.2014
	Language:	FR
	[2014/11]
	Type:	B1 Patent specification
	No.:	EP2706537
	Date:	18.01.2017
	Language:	FR
	[2017/03]
Search report(s)	(Supplementary) European search report - dispatched on:	EP	07.10.2013
Classification	IPC:	G21K7/00, H01J35/08, G01N23/04	[2016/33]
	CPC:	H01J35/112 (EP,US); H01J35/04 (US); G01N23/04 (US); G01N23/046 (EP,US); G21K7/00 (EP,US)
	Former IPC [2014/11]	G21K7/00, H01J35/08
Designated contracting states	AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR [2017/03]
Former [2014/11]	AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LI, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR
Title	German:	Röntgenquelle, die einen nanometergroßen Strahl erzeugt und bildgebendes Gerät mit mindestens einer solchen Quelle	[2016/36]
	English:	X-ray source generating a nanometer-sized beam and imaging device comprising at least one such source	[2016/36]
	French:	Source de rayons x générant un faisceau de taille nanométrique et dispositif d'imagerie comportant au moins une telle source	[2016/36]
	Former [2014/11]	Röntgenquelle, die einen nanometergrossen Strahl erzeugt und bildgebendes Gerät mit mindestens einer solchen Quelle
	Former [2014/11]	x-ray source generating a nanometer-sized beam and imaging device comprising at least one such source
	Former [2014/11]	Source de rayons x generant un faisceau de taille nanometrique et dispositif d'imagerie comportant au moins une telle source
Examination procedure	11.09.2014	Amendment by applicant (claims and/or description)
	11.09.2014	Examination requested [2014/43]
	06.11.2015	Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
	02.03.2016	Reply to a communication from the examining division
	08.08.2016	Communication of intention to grant the patent
	07.12.2016	Fee for grant paid
	07.12.2016	Fee for publishing/printing paid
	07.12.2016	Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)	The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is 06.11.2015
Opposition(s)	19.10.2017	No opposition filed within time limit [2017/52]
Fees paid	Renewal fee
	26.08.2015	Renewal fee patent year 03
	25.08.2016	Renewal fee patent year 04
Opt-out from the exclusive Tooltip competence of the Unified Patent Court	See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
	Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition Tooltip	HU	09.09.2013
	AL	18.01.2017
	AT	18.01.2017
	CY	18.01.2017
	CZ	18.01.2017
	DK	18.01.2017
	EE	18.01.2017
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	FI	18.01.2017
	HR	18.01.2017
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	SI	18.01.2017
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	SM	18.01.2017
	TR	18.01.2017
	BG	18.04.2017
	NO	18.04.2017
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	LI	30.09.2017
	[2020/34]
Former [2020/15]	HU	09.09.2013
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	GR	19.04.2017
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Former [2017/49]	AT	18.01.2017
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