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Extract from the Register of European Patents

EP About this file: EP2853940

EP2853940 - METHOD FOR INSPECTING AN ELECTROPHORETIC DISPLAY SUBSTRATE [Right-click to bookmark this link]
Former [2015/14]ELECTROPHORETIC DISPLAY SUBSTRATE, METHOD FOR INSPECTING SAME, AND ELECTROPHORETIC DISPLAY DEVICE
[2019/20]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  17.07.2020
Database last updated on 01.01.2025
FormerThe patent has been granted
Status updated on  09.08.2019
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  25.04.2019
FormerExamination is in progress
Status updated on  31.08.2018
Most recent event   Tooltip08.07.2022Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): MK
published on 10.08.2022  [2022/32]
Applicant(s)For all designated states
Toppan Printing Co., Ltd.
Taitoh 1-5-1 Taitoh-ku
Tokyo 110-0016 / JP
[2015/14]
Inventor(s)01 / EMORI, Akira
c/o TOPPAN PRINTING CO., LTD.
1-5-1 Taito
Taito-ku
Tokyo 110-0016 / JP
 [2015/14]
Representative(s)Plasseraud IP
104 Rue de Richelieu
CS92104
75080 Paris Cedex 02 / FR
[N/P]
Former [2019/37]Cabinet Plasseraud
66, rue de la Chaussée d'Antin
75440 Paris Cedex 09 / FR
Former [2015/14]Cabinet Plasseraud
52, rue de la Victoire
75440 Paris Cedex 09 / FR
Application number, filing date13831461.220.08.2013
[2019/37]
WO2013JP04905
Priority number, dateJP2012018329022.08.2012         Original published format: JP 2012183290
[2015/14]
Filing languageJA
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report
No.:WO2014030338
Date:27.02.2014
Language:JA
[2014/09]
Type: A1 Application with search report 
No.:EP2853940
Date:01.04.2015
Language:EN
[2015/14]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2853940
Date:11.09.2019
Language:EN
[2019/37]
Search report(s)International search report - published on:JP27.02.2014
(Supplementary) European search report - dispatched on:EP19.04.2016
ClassificationIPC:G02F1/167, G09F9/00, G09F9/30, G09F9/37, G02F1/13
[2016/08]
CPC:
G02F1/133514 (EP,US); G02F1/167 (EP,CN,US); G01M11/30 (US);
G02F1/1677 (EP,US); G02F1/1309 (EP,US); G02F1/133562 (EP,US);
G02F1/136213 (EP,US); G02F1/136254 (EP,US) (-)
Former IPC [2015/14]G02F1/167, G09F9/00, G09F9/30, G09F9/37
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2015/14]
Extension statesBANot yet paid
MENot yet paid
TitleGerman:INSPEKTIONSVERFAHREN FÜR EIN ELEKTROPHORETISCHES ANZEIGESUBSTRAT[2019/20]
English:METHOD FOR INSPECTING AN ELECTROPHORETIC DISPLAY SUBSTRATE[2019/20]
French:PROCÉDÉ D'INSPECTION D'UN SUBSTRAT D'AFFICHAGE ÉLECTROPHORÉTIQUE[2019/20]
Former [2015/14]ELEKTROPHORETISCHES ANZEIGESUBSTRAT, INSPEKTIONSVERFAHREN DAFÜR UND ELEKTROPHORETISCHE ANZEIGEVORRICHTUNG
Former [2015/14]ELECTROPHORETIC DISPLAY SUBSTRATE, METHOD FOR INSPECTING SAME, AND ELECTROPHORETIC DISPLAY DEVICE
Former [2015/14]SUBSTRAT D'AFFICHAGE ÉLECTROPHORÉTIQUE, PROCÉDÉ D'INSPECTION ASSOCIÉ ET DISPOSITIF D'AFFICHAGE ÉLECTROPHORÉTIQUE
Entry into regional phase22.12.2014Translation filed 
22.12.2014National basic fee paid 
22.12.2014Search fee paid 
22.12.2014Designation fee(s) paid 
22.12.2014Examination fee paid 
Examination procedure22.12.2014Examination requested  [2015/14]
30.09.2016Amendment by applicant (claims and/or description)
07.09.2018Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
03.12.2018Reply to a communication from the examining division
21.12.2018Despatch of a communication from the examining division (Time limit: M04)
25.03.2019Reply to a communication from the examining division
26.04.2019Communication of intention to grant the patent
30.07.2019Fee for grant paid
30.07.2019Fee for publishing/printing paid
30.07.2019Receipt of the translation of the claim(s)
Divisional application(s)The date of the Examining Division's first communication in respect of the earliest application for which a communication has been issued is  07.09.2018
Opposition(s)15.06.2020No opposition filed within time limit [2020/34]
Fees paidRenewal fee
22.06.2015Renewal fee patent year 03
29.07.2016Renewal fee patent year 04
24.07.2017Renewal fee patent year 05
27.07.2018Renewal fee patent year 06
30.07.2019Renewal fee patent year 07
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court
See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU20.08.2013
AL11.09.2019
AT11.09.2019
CY11.09.2019
CZ11.09.2019
DK11.09.2019
EE11.09.2019
ES11.09.2019
FI11.09.2019
HR11.09.2019
IT11.09.2019
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LV11.09.2019
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MK11.09.2019
MT11.09.2019
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[2022/32]
Former [2022/27]HU20.08.2013
AL11.09.2019
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NO11.12.2019
Documents cited:Search[YA]JPH0272392  (HITACHI LTD) [Y] 5,6 * the whole document * [A] 11-13;
 [Y]EP1010036  (E INK CORP [US]) [Y] 7,8,10* paragraphs [0049] , [0050] , [0070]; figures 9-10 *;
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 [Y]US2011026099  (KWON OH-NAM [KR], et al) [Y] 1-4,9 * paragraphs [0055] - [0070]; figures 4A-4H *;
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 [Y]WO2012108431  (TOPPAN PRINTING CO LTD [JP], et al) [Y] 1-10 * the whole document *;
 [E]EP2674810  (TOPPAN PRINTING CO LTD [JP]) [E] 1-4,9 * paragraphs [0007] , [0024] - [0093]; figures 1A-3 *
International search[A]JP2009229522  (SEIKO EPSON CORP);
 [A]JP2011145391  (SEIKO EPSON CORP);
 [A]WO2012108431  (TOPPAN PRINTING CO LTD [JP], et al)
ExaminationUS2007146309
 JP2011064789
by applicantJP3837948B
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