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EP About this file: EP2927673

EP2927673 - MICROSTRUCTURE ANALYSIS METHOD, PROGRAM FOR SAME, AND MICROSTRUCTURE ANALYSIS APPARATUS [Right-click to bookmark this link]
Former [2015/41]Microstructure analysis method, program for same, and microstructure analysis apparatus
[2017/21]
StatusNo opposition filed within time limit
Status updated on  14.09.2018
Database last updated on 07.10.2024
FormerThe patent has been granted
Status updated on  06.10.2017
FormerGrant of patent is intended
Status updated on  18.05.2017
Most recent event   Tooltip17.07.2020Lapse of the patent in a contracting state
New state(s): AL		published on 19.08.2020  [2020/34]
Applicant(s)For all designated states
NGK Insulators, Ltd.
2-56, Suda-cho, Mizuho-ku
Nagoya-city, Aichi 467-8530 / JP
[2015/41]
Inventor(s)01 / Sakashita, Satoshi
c/o NGK Insulators, Ltd., Legal Affairs &
Intellectual Property Dept.
2-56 Suda-cho
Mizuho-ku
Nagoya city, Aichi 467-8530 / JP
02 / Nagaoka, Hiroyuki
c/o NGK Insulators, Ltd., Legal Affairs &
Intellectual Property Dept.
2-56 Suda-cho
Mizuho-ku
Nagoya city, Aichi 467-8530 / JP
03 / Sakai, Ayaka
c/o NGK Insulators, Ltd., Legal Affairs &
Intellectual Property Dept.
2-56 Suda-cho
Mizuho-ku
Nagoya city, Aichi 467-8530 / JP
 [2015/41]
Representative(s)Naylor, Matthew John, et al
Mewburn Ellis LLP
City Tower
40 Basinghall Street
London EC2V 5DE / GB
[2015/41]
Application number, filing date15160213.323.03.2015
[2015/41]
Priority number, dateJP2014007236131.03.2014         Original published format: JP 2014072361
[2015/41]
Filing languageEN
Procedural languageEN
PublicationType: A1 Application with search report 
No.:EP2927673
Date:07.10.2015
Language:EN
[2015/41]
Type: B1 Patent specification 
No.:EP2927673
Date:08.11.2017
Language:EN
[2017/45]
Search report(s)(Supplementary) European search report - dispatched on:EP28.08.2015
ClassificationIPC:G01N23/04, G01N15/08, // G06T7/00, C04B38/06, G01N33/38
[2015/41]
CPC:
G01N15/088 (EP,US); G01B11/24 (US); G01N15/082 (EP,US);
G01N23/046 (EP,US); G06T7/12 (EP,US); G06T7/187 (EP,US);
G06T7/20 (US); C04B38/06 (US); G01N2015/084 (EP,US);
G01N2015/0846 (EP,US); G01N2223/419 (EP,US); G01N2223/649 (EP,US);
G01N33/388 (EP,US); G06T2207/10081 (EP,US); G06T2207/30108 (EP,US) (-)
Designated contracting statesAL,   AT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   HR,   HU,   IE,   IS,   IT,   LI,   LT,   LU,   LV,   MC,   MK,   MT,   NL,   NO,   PL,   PT,   RO,   RS,   SE,   SI,   SK,   SM,   TR [2016/20]
Former [2015/41]AL,  AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  HR,  HU,  IE,  IS,  IT,  LI,  LT,  LU,  LV,  MC,  MK,  MT,  NL,  NO,  PL,  PT,  RO,  RS,  SE,  SI,  SK,  SM,  TR 
TitleGerman:MIKROSTRUKTURANALYSEVERFAHREN, PROGRAMM DAFÜR UND MIKROSTRUKTURANALYSEVORRICHTUNG[2015/41]
English:MICROSTRUCTURE ANALYSIS METHOD, PROGRAM FOR SAME, AND MICROSTRUCTURE ANALYSIS APPARATUS[2017/21]
French:PROCÉDÉ D'ANALYSE DE MICROSTRUCTURE, PROGRAMME POUR CELUI-CI ET APPAREIL D'ANALYSE DE MICROSTRUCTURE[2015/41]
Former [2015/41]Microstructure analysis method, program for same, and microstructure analysis apparatus
Examination procedure07.04.2016Amendment by applicant (claims and/or description)
07.04.2016Examination requested  [2016/20]
19.05.2017Communication of intention to grant the patent
26.09.2017Fee for grant paid
26.09.2017Fee for publishing/printing paid
26.09.2017Receipt of the translation of the claim(s)
Opposition(s)09.08.2018No opposition filed within time limit [2018/42]
Fees paidRenewal fee
27.01.2017Renewal fee patent year 03
Opt-out from the exclusive  Tooltip
competence of the Unified
Patent Court		 See the Register of the Unified Patent Court for opt-out data
Responsibility for the accuracy, completeness or quality of the data displayed under the link provided lies entirely with the Unified Patent Court.
Lapses during opposition  TooltipHU23.03.2015
AL08.11.2017
AT08.11.2017
CY08.11.2017
CZ08.11.2017
DK08.11.2017
EE08.11.2017
ES08.11.2017
FI08.11.2017
HR08.11.2017
IT08.11.2017
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MK08.11.2017
NL08.11.2017
PL08.11.2017
PT08.11.2017
RO08.11.2017
RS08.11.2017
SE08.11.2017
SI08.11.2017
SK08.11.2017
SM08.11.2017
TR08.11.2017
BG08.02.2018
NO08.02.2018
GR09.02.2018
IS08.03.2018
IE23.03.2018
LU23.03.2018
MT23.03.2018
BE31.03.2018
CH31.03.2018
FR31.03.2018
LI31.03.2018
[2020/34]
Former [2020/31]HU23.03.2015
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CY08.11.2017
CZ08.11.2017
DK08.11.2017
EE08.11.2017
ES08.11.2017
FI08.11.2017
HR08.11.2017
IT08.11.2017
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LV08.11.2017
MC08.11.2017
MK08.11.2017
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PL08.11.2017
PT08.11.2017
RO08.11.2017
RS08.11.2017
SE08.11.2017
SI08.11.2017
SK08.11.2017
SM08.11.2017
TR08.11.2017
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GR09.02.2018
IS08.03.2018
IE23.03.2018
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MT23.03.2018
BE31.03.2018
CH31.03.2018
FR31.03.2018
LI31.03.2018
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FI08.11.2017
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NL08.11.2017
NO08.02.2018
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 [A]EP2703371  (SUMITOMO CHEMICAL CO [JP]) [A] 1-7* the whole document *;
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DOI:   http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevE.80.036307
by applicantJP2011079732
 WO2013146498
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