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Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP1239509

EP1239509 - Assemblage de lentilles pour colonne à faisceau d'électrons [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
Statut	La demande est réputée retirée Statut actualisé le 25.01.2008 Base de données mise à jour au 17.09.2024
Dernier événement Tooltip	25.01.2008	Demande réputée retirée	publié le 27.02.2008 [2008/09]
Demandeur(s)	Pour tous les Etats désignés NIKON CORPORATION Fuji Building 2-3, Marunouchi 3-chome Chiyoda-ku Tokyo / JP
	[N/P]
Précédent [2002/37]	Pour tous les Etats désignés Nikon Corporation Fuji Building, 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku Tokyo / JP
Inventeur(s)	01 / Sogard, Michael 516 Placitas Avenue Menlo Park, California 94025 / US
	[2002/37]
Mandataire(s)	Viering, Jentschura & Partner mbB Patent- und Rechtsanwälte Grillparzerstrasse 14 81675 München / DE
	[N/P]
Précédent [2002/37]	Viering, Jentschura & Partner Postfach 22 14 43 80504 München / DE
Numéro de la demande, date de dépôt	02004970.6	05.03.2002
	[2002/37]
Numéro de priorité, date	US20010797955	05.03.2001 Format original publié: US 797955
	[2002/37]
Langue de dépôt	EN
Langue de la procédure	EN
Publication	Type:	A1 Demande avec rapport de recherche
	N°:	EP1239509
	Date:	11.09.2002
	Langue:	EN
	[2002/37]
Rapport(s) de recherche	Rapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le:	EP	22.07.2002
Classification	IPC:	H01J37/141, H01J37/18, H01J37/301	[2002/37]
	CPC:	H01J37/18 (EP,US); H01J37/141 (EP,US); H01J37/301 (EP,US)
Etats contractants désignés	DE, FR, GB, NL [2003/22]
Précédent [2002/37]	AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LI, LU, MC, NL, PT, SE, TR
Titre	Allemand:	Linsenaufbau für Elektronenstrahlsaüle	[2002/37]
	Anglais:	Lens assembly for electron beam column	[2002/37]
	Français:	Assemblage de lentilles pour colonne à faisceau d'électrons	[2002/37]
Procédure dexamen	18.10.2002	Requête en examen déposée [2002/51]
	12.03.2003	Perte de droit, date d'effet juridique: Etat(s) désigné(s)
	02.07.2003	Envoi de la notification relative à une perte de droit : Etat(s) désigné(s) AT, BE, CH, CY, DK, ES, FI, GR, IE, IT, LU, MC, PT, SE, TR
	20.04.2007	Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04)
	31.08.2007	La demande est réputée retirée, date d'effet juridique [2008/09]
	08.10.2007	Envoi dune notification signalant que la demande est réputée retirée, motif: {0} [2008/09]
Taxes payées	Taxe annuelle
	31.03.2004	Taxe annuelle Année du brevet 03
	31.03.2005	Taxe annuelle Année du brevet 04
	31.03.2006	Taxe annuelle Année du brevet 05
	30.03.2007	Taxe annuelle Année du brevet 06
	Surtaxe
	Surtaxe règle 85bis: taxe nationale de base CBE 1973
	17.04.2003	AT M01 Pas encore payé
	17.04.2003	BE M01 Pas encore payé
	17.04.2003	CH M01 Pas encore payé
	17.04.2003	CY M01 Pas encore payé
	17.04.2003	DK M01 Pas encore payé
	17.04.2003	ES M01 Pas encore payé
	17.04.2003	FI M01 Pas encore payé
	17.04.2003	GR M01 Pas encore payé
	17.04.2003	IE M01 Pas encore payé
	17.04.2003	IT M01 Pas encore payé
	17.04.2003	LU M01 Pas encore payé
	17.04.2003	MC M01 Pas encore payé
	17.04.2003	PT M01 Pas encore payé
	17.04.2003	SE M01 Pas encore payé
	17.04.2003	TR M01 Pas encore payé
Dérogation à la compétence Tooltip exclusive de la juridiction unifiée du brevet	Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
	La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Citations:	Recherche	[X]JP01041155 ;
		[A]JPH11111205 ;
		[A]US5250808 (DANILATOS GERASIMOS D [AU], et al) [A] 1,12,21 * column 4, line 44 - column 6, line 54; figure 2 *;
		[A]US5412211 (KNOWLES W RALPH [US]) [A] 1,12,21 * column 14, line 63 - column 15, line 65; figures 3,14,15 *
		[X] - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, (19890530), vol. 013, no. 235, Database accession no. (E - 766), & JP01041155 A 19890213 (MITSUBISHI ELECTRIC CORP) [X] 1,3-5,7,11,12,20,21 * abstract *
		[A] - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, (19990730), vol. 1999, no. 09, & JP11111205 A 19990423 (HITACHI LTD;HITACHI SCI SYST LTD) [A] 1,12,21 * abstract *
	Examen	EP0331859

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