blank Aide rapide
blank Actualité maintenance

Dates prévues pour la maintenance

Interruptions régulières:
entre 5 h 00 et 5 h 15 HEC, du lundi au dimanche.

Autres interruptions
Accessibilité

2022.02.11

en savoir plus...
blank Flash info

Flash Info

Nouvelle version du Registre européen des brevets – des informations relatives aux procédures CCP sont disponibles dans le Registre européen des brevets.

2024-07-24

en savoir plus...
blank Liens utiles

Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP1295559

EP1295559 - Méthode et dispositif pour mesurer des aberrations optiques d'oeil [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutLa demande est réputée retirée
Statut actualisé le  28.09.2007
Base de données mise à jour au 29.10.2024
Dernier événement   Tooltip28.09.2007Demande réputée retiréepublié le 31.10.2007  [2007/44]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
Carl Zeiss Ophthalmic Systems, Inc.
5160 Hacienda Drive Dublin
California / US
[N/P]
Précédent [2003/13]Pour tous les Etats désignés
Carl Zeiss Ophthalmic Systems, Inc.
5160 Hacienda Drive
Dublin, California / US
Inventeur(s)01 / Lai, Ming
P.O. Box 10846
Pleasanton, CA, 94588 / US
02 / Wei, Jay
397 Indian Hill Place
Fremont, CA, 94539 / US
03 / Meyer, Scott A.
994 Verona Avenue
Livermore, CA, 94550 / US
04 / Foley, James P.
457 Maar Avenue
Fremont, CA, 94536 / US
05 / Horn, Jochen M.
4852 Bernal Avenue, Apt. 1
Pleasanton, CA, 94566 / US
 [2003/13]
Mandataire(s)Gnatzig, Klaus
Carl Zeiss
Patentabteilung
73446 Oberkochen / DE
[N/P]
Précédent [2003/13]Gnatzig, Klaus
Carl Zeiss Patentabteilung
73446 Oberkochen / DE
Numéro de la demande, date de dépôt02020272.711.09.2002
[2003/13]
Numéro de priorité, dateUS2001096011321.09.2001         Format original publié: US 960113
[2003/13]
Langue de dépôtEN
Langue de la procédureEN
PublicationType: A2 Demande sans rapport de recherche 
N°:EP1295559
Date:26.03.2003
Langue:EN
[2003/13]
Type: A3 Rapport de recherche 
N°:EP1295559
Date:12.05.2004
[2004/20]
Rapport(s) de rechercheRapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le:EP19.03.2004
ClassificationIPC:A61B3/103
[2003/13]
CPC:
A61B3/1015 (EP,US); A61B3/156 (EP,US)
Etats contractants désignésDE,   ES,   FR,   GB,   IT [2005/05]
Précédent [2003/13]AT,  BE,  BG,  CH,  CY,  CZ,  DE,  DK,  EE,  ES,  FI,  FR,  GB,  GR,  IE,  IT,  LI,  LU,  MC,  NL,  PT,  SE,  SK,  TR 
TitreAllemand:Verfahren und Vorrichtung zur Messung optischer Aberrationen eines Auges[2003/13]
Anglais:Method and apparatus for measuring optical aberrations of an eye[2003/13]
Français:Méthode et dispositif pour mesurer des aberrations optiques d'oeil[2003/13]
Procédure dexamen05.11.2004Modification par le demandeur (revendications et/ou déscription)
05.11.2004Requête en examen déposée  [2005/01]
13.11.2004Perte de droit, date d'effet juridique: Etat(s) désigné(s)
16.03.2005Envoi de la notification relative à une perte de droit : Etat(s) désigné(s) AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DK, EE, FI, GR, IE, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR
27.10.2006Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M06)
08.05.2007La demande est réputée retirée, date d'effet juridique  [2007/44]
13.06.2007Envoi dune notification signalant que la demande est réputée retirée, motif: {0}  [2007/44]
Taxes payéesTaxe annuelle
07.09.2004Taxe annuelle Année du brevet 03
15.09.2005Taxe annuelle Année du brevet 04
14.09.2006Taxe annuelle Année du brevet 05
Surtaxe
Surtaxe règle 85bis: taxe nationale de base CBE 1973
20.12.2004AT   M01   Pas encore payé
20.12.2004BE   M01   Pas encore payé
20.12.2004BG   M01   Pas encore payé
20.12.2004CH   M01   Pas encore payé
20.12.2004CY   M01   Pas encore payé
20.12.2004CZ   M01   Pas encore payé
20.12.2004DK   M01   Pas encore payé
20.12.2004EE   M01   Pas encore payé
20.12.2004FI   M01   Pas encore payé
20.12.2004GR   M01   Pas encore payé
20.12.2004IE   M01   Pas encore payé
20.12.2004LU   M01   Pas encore payé
20.12.2004MC   M01   Pas encore payé
20.12.2004NL   M01   Pas encore payé
20.12.2004PT   M01   Pas encore payé
20.12.2004SE   M01   Pas encore payé
20.12.2004SK   M01   Pas encore payé
20.12.2004TR   M01   Pas encore payé
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
La juridiction unifiée du brevet assume l'entière responsabilité de l'exactitude, de l'exhaustivité et de la qualité des données présentées sous le lien fourni.
Citations:Recherche[Y]US4011403  (EPSTEIN MAX, et al) [Y] 1-5,20,21 * column 3, line 17 - line 30 *;
 [Y]US5929970  (MIHASHI TOSHIFUMI [JP]) [Y] 1-5,20,21,23,24 * column 2, line 54 - line 64 * * column 11, line 52 - column 12, line 35 * * column 13, line 26 - line 43; figure 8 *;
 [A]FR2775779  (MICRO MODULE [FR]) [A] 21* page 5, line 1 - line 26 *;
 [XY]EP0962184  (WELCH ALLYN INC [US]) [X] 9-15 * column 8, line 9 - line 47 * * column 13, line 21 - line 37 * [Y] 23,24;
 [XA]WO0010448  (AUTONOMOUS TECHNOLOGIES CORP [US]) [X] 6-8,17,18,22 * page 6, line 27 - page 7, line 32 * * page 8, line 22 - page 9, line 25 * [A] 1-5,20,21;
 [X]WO0158339  (WAVEFRONT SCIENCES INC [US], et al) [X] 6-8,16-19,22,25 * page 9, line 3 - page 10, line 19 * * page 12, line 4 - page 13, line 12 *;
 [A]WO0160241  (MARSHALL IAN [GB]) [A] 6,9,13,16,17,19 * page 6, line 19 - page 8, line 2 *;
 [LPX]WO0189372  (ZEISS CARL [DE], et al) [LPX] 16,19 * application originating from the same inventor *; page 5, line 7 - line 24 *;
 [X]  - HAMAM H, "A direct technique for calculating the profile of aberration of the eye measured by a modified Hartmann-Shack apparatus", OPTICS COMMUNICATIONS, NORTH-HOLLAND PUBLISHING CO. AMSTERDAM, NL, (200001), vol. 173, no. 1-6, ISSN 0030-4018, pages 23 - 36, XP004191510 [X] 16,19,25 * 5 Setup; 6 Detection System *; page 27 - page 31; figures 3,4 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1016/S0030-4018(99)00623-9
 [X]  - SALMON T O ET AL, "COMPARISON OF THE EYE'S WAVE-FRONT ABERRATION MEASURED PSYCHOPHYSICALLY AND WITH THE SHACK-HARTMANN WAVE-FRONT SENSOR", JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA - A, OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, WASHINGTON, US, (199809), vol. 15, no. 9, ISSN 1084-7529, pages 2457 - 2465, XP001041250 [X] 16,19 * 2A Shack-Hartmann Wave-Front Sensor *; page 2459 - page 2460 *
 [A]  - IWAI T ET AL, "SPECKLE REDUCTION IN COHERENT INFORMATION PROCESSING", PROCEEDINGS OF THE IEEE, IEEE. NEW YORK, US, (19960501), vol. 84, no. 5, ISSN 0018-9219, pages 765 - 781, XP000591804 [A] 1-3 * page 770, column R, line 4 - line 13 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/5.488745
 [A]  - TAKEUCHI N ET AL, "Wavefront distortion measurement of a SR extraction mirror for the beam profile monitor using Shack-Hartmann method", PARTICLE ACCELERATOR CONFERENCE, 1997. PROCEEDINGS OF THE 1997 VANCOUVER, BC, CANADA 12-16 MAY 1997, PISCATAWAY, NJ, USA,IEEE, US, (19970512), ISBN 0-7803-4376-X, pages 859 - 861, XP002181680 [A] 1,6,9,13,16,17,19-25 * page 859, column R, line 13 - page 860, column L, line 25; figure 2 *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1109/PAC.1997.749861
L'OEB décline toute responsabilité quant à l’exactitude des données émanant d'administrations tierces. Il ne garantit notamment pas l'exhaustivité, l'actualité ou la pertinence à des fins spécifiques de ces données.