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Extrait du Registre européen des brevets

EP Présentation générale: EP1431416

EP1431416 - Couche protectrice de Ti-Al-Cr-N [Cliquez sur ce lien avec le bouton droit de la souris pour le conserver dans vos signets]
StatutLa demande est réputée retirée
Statut actualisé le  09.01.2009
Base de données mise à jour au 17.09.2024
Dernier événement   Tooltip19.03.2010Changement - mandatairepublié le 21.04.2010  [2010/16]
Demandeur(s)Pour tous les Etats désignés
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V.
Linder Höhe
51147 Köln / DE
Pour tous les Etats désignés
Sheffield Hallam University
The Enterprise Centre City Campus, Howard Street
Sheffield S1 1WB / GB
[2004/37]
Précédent [2004/26]Pour tous les Etats désignés
Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V.
Linder Höhe
51147 Köln / DE
Inventeur(s)01 / Leyens, Christoph, Dr.
Steilweg 16
53639 Königswinter / DE
02 / Hovsepian, Papken, Sheffield Hallam University
Materials Research Institute, City Campus
Howard Street, Sheffield S1 1WB / GB
03 / Münz, Wolf-Dieter, Prof.Dr., Sheffield Hallam Univ.
Materials Research Institute, City Campus
Howard Street, Sheffield S1 1WB / GB
 [2004/26]
Mandataire(s)dompatent von Kreisler Selting Werner - Partnerschaft von Patent- und Rechtsanwälten mbB
Deichmannhaus am Dom
Bahnhofsvorplatz 1
50667 Köln / DE
[N/P]
Précédent [2010/15]von Kreisler Selting Werner
Deichmannhaus am Dom Bahnhofsvorplatz 1
50667 Köln / DE
Précédent [2004/26]Jönsson, Hans-Peter, Dr.Dipl.-Chem., et al
Patentanwälte von Kreisler Selting Werner, Bahnhofsvorplatz 1 (Deichmannhaus am Dom)
50667 Köln / DE
Numéro de la demande, date de dépôt02027457.710.12.2002
[2004/26]
Langue de dépôtEN
Langue de la procédureEN
PublicationType: A1 Demande avec rapport de recherche 
N°:EP1431416
Date:23.06.2004
Langue:EN
[2004/26]
Rapport(s) de rechercheRapport (complémentaire) de recherche européenne - envoyé le:EP10.07.2003
ClassificationIPC:C23C28/02, C23C30/00, C23C14/06, C23C14/02
[2004/26]
CPC:
F01D5/288 (EP,US); C23C14/022 (EP); C23C14/024 (EP);
C23C14/0641 (EP); C23C14/0676 (EP); C23C14/352 (EP);
C23C28/00 (EP); C23C28/04 (EP); C23C30/00 (EP);
F05D2300/132 (EP); F05D2300/133 (EP); F05D2300/2112 (EP);
F05D2300/228 (EP); Y02T50/60 (EP,US) (-)
Etats contractants désignésAT,   BE,   BG,   CH,   CY,   CZ,   DE,   DK,   EE,   ES,   FI,   FR,   GB,   GR,   IE,   IT,   LI,   LU,   MC,   NL,   PT,   SE,   SI,   SK,   TR [2004/26]
TitreAllemand:Ti-Al-Cr-N Schutzschicht[2004/26]
Anglais:Protective Ti-Al-Cr-N coating[2004/26]
Français:Couche protectrice de Ti-Al-Cr-N[2004/26]
Procédure dexamen03.12.2004Requête en examen déposée  [2005/05]
18.11.2005Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M06)
06.05.2006Réponse à une notification de la division dexamen
06.07.2006Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M04)
07.11.2006Réponse à une notification de la division dexamen
29.12.2006Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M06)
22.06.2007Réponse à une notification de la division dexamen
19.07.2007Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M06)
17.01.2008Réponse à une notification de la division dexamen
12.02.2008Envoi d'une notification de la division d'examen (délai : M06)
23.08.2008La demande est réputée retirée, date d'effet juridique  [2009/07]
26.09.2008Envoi dune notification signalant que la demande est réputée retirée, motif: {0}  [2009/07]
Taxes payéesTaxe annuelle
06.11.2004Taxe annuelle Année du brevet 03
12.11.2005Taxe annuelle Année du brevet 04
07.11.2006Taxe annuelle Année du brevet 05
06.11.2007Taxe annuelle Année du brevet 06
Dérogation à la compétence  Tooltip
exclusive de la juridiction
unifiée du brevet
Voir le Registre de la juridiction unifiée du brevet pour les données relatives à la dérogation
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Citations:Recherche[XY]JPH04128363  ;
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DOI:   http://dx.doi.org/10.1016/S0257-8972(99)00047-X
 [XY]  - DONOHUE L A ET AL, "The influence of low concentrations of chromium and yttrium on the oxidation behaviour, residual stress and corrosion performance of TiAlN hard coatings on steel substrates", VACUUM, NOV. 1999, ELSEVIER, UK, vol. 55, no. 2, ISSN 0042-207X, pages 109 - 114, XP002243760 [X] 1-4,11,14 * the whole document * [Y] 7,12,13

DOI:   http://dx.doi.org/10.1016/S0042-207X(99)00135-9
 [XY]  - DONOHUE L A ET AL, "MICROSTRUCTURE AND OXIDATION-RESISTANCE OF TI1-X-Y-ZALXCRYYZN LAYERS GROWN BY COMBINED STEERED-ARC/UNBALANCED-MAGNETRON-SPUTTER DEPOSITION", SURFACE AND COATINGS TECHNOLOGY, ELSEVIER, AMSTERDAM, NL, (19970421), vol. 94/95, ISSN 0257-8972, pages 226 - 231, XP000826655 [X] 1-4,11,14 * the whole document * [Y] 7,12,13

DOI:   http://dx.doi.org/10.1016/S0257-8972(97)00249-1
 [XY]  - PATENT ABSTRACTS OF JAPAN, (19920821), vol. 016, no. 394, Database accession no. (C - 0976), & JP04128363 A 19920428 (RAIMUZU:KK) [X] 1-4,11,14 * abstract * [Y] 7,12,13
 [Y]  - FENG HUANG ET AL, "Microstructure and stress development in magnetron sputtered TiAlCr(N) films", 28TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON METALLURGICAL COATINGS AND THIN FILMS, SAN DIEGO, CA, USA, 30 APRIL-4 MAY 2001, Surface & Coatings Technology, Sept.-Oct. 2001, Elsevier, Switzerland, vol. 146-147, ISSN 0257-8972, pages 391 - 397, XP002243761 [Y] 7,12,13 * page 391, paragraph 1. *

DOI:   http://dx.doi.org/10.1016/S0257-8972(01)01424-4
Examen   - LEWIS D.B. ET AL, "Structure and stress of TiAlN/CrN uperlattice coatings as a function of CrN layer thickness", SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, ELSEVIER, SWITZERLAND, (1999), vol. 116-119, pages 284 - 291
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